一种宇航用元器件老炼试验器件监测系统及方法

    公开(公告)号:CN112362991A

    公开(公告)日:2021-02-12

    申请号:CN202011225894.6

    申请日:2020-11-05

    Abstract: 本发明提供了一种宇航用元器件老炼试验器件监测系统及方法,包括基准信号模块、监测信号采集模块、信号比较模块、信号转换模块、信号增强模块、显示模块、控制模块、电源模块和系统保护模块;信号比较模块对基准信号模块输入的基准信号和监测信号采集模块输入的各待测信号进行比较,输出对应的比较结果信号;信号转换模块对比较结果信号进行低频转换;信号增强模块对低频信号进行加工处理,增强其负载驱动能力;显示模块将信号增强模块的输出信号采用LED工作状态的形式进行显示,使人眼可直接识别出信号的状态。该监测系统及方法可确保在整个老炼试验过程中能够实时监测元器件状态,使元器件处于受控状态,能够获取最真实的老炼试验数据。

    一种FPGA芯片自激励变频动态老炼电路

    公开(公告)号:CN108627760A

    公开(公告)日:2018-10-09

    申请号:CN201810462117.X

    申请日:2018-05-15

    Abstract: 本发明公开了一种FPGA芯片自激励变频动态老炼电路,包括第一时钟自激励产生电路、第二时钟自激励产生电路、结温检测电路、时钟频率控制电路、老炼功能测试电路,第一时钟自激励产生电路,用于产生频率为fH的时钟信号Clk_H;第二时钟自激励产生电路,用于产生频率为fL的时钟信号Clk_L;结温检测电路,用于监测FPGA的结温状态,输出超温报警信号OT至时钟变频控制电路;时钟变频控制电路,根据超温报警信号OT选择频率时钟信号Clk_H或者CLK_L输出至老炼功能测试电路;老炼功能测试电路,用于验证FPGA内部逻辑资源在老炼测试环境下的功能。本发明FPGA可根据实际结温状态自动调节动态老炼时内部逻辑的工作频率,从而保护芯片不会超结温工作。

    密封性检测装置及方法
    34.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103822761A

    公开(公告)日:2014-05-28

    申请号:CN201410003542.4

    申请日:2014-01-03

    Abstract: 本发明提供一种密封性检测装置及方法,所述检测装置包括:示漏气体源,用于向被检件的一侧提供示漏气体;气密室,连接示漏气体源与被检件的所述一侧,并提供两者间的气密性通道;检漏仪,位于被检件的另一侧,用于检测穿过被检件的示漏气体。本发明可提高密封性检测的准确性。

    一种大规模数字集成电路的板方式程控电压拉偏试验电路

    公开(公告)号:CN211528620U

    公开(公告)日:2020-09-18

    申请号:CN201921860957.8

    申请日:2019-10-31

    Abstract: 本实用新型涉及一种大规模数字集成电路的板方式程控电压拉偏试验电路,包括电源模块、第一数控电位器、第二数控电位器、第一继电器、第二继电器、第三继电器、第一电阻、第二电阻、第三电阻、指令控制模块,电源模块的第一控制端与第一数控电位器的可调电阻端连接,电源模块的第二控制端与第一继电器的输出端连接,第一继电器的第一输入端与第二数控电位器的可调电阻端连接,第一继电器的第一输入端与第二继电器的输出端连接。本实用新型通过电源模块、数控电位器、继电器、电阻和指令控制模块间配合,实现大规模数字电路板方式拉偏试验中拉偏电压的自动化控制,无需携带大体积的专用仪表,因此便携性更优。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    一种宇航用元器件试验结构

    公开(公告)号:CN206132337U

    公开(公告)日:2017-04-26

    申请号:CN201620328863.6

    申请日:2016-04-18

    Abstract: 本实用新型公开了一种宇航用元器件试验结构,包括夹具本体和盖板,夹具本体为立方体结构,在每个面上设置有放置CCD图像传感器的样品放置孔,每个面上的样品放置孔轴对称或中心对称;在样品放置孔上开有引脚固定孔,带有引脚的CCD图像传感器可插入夹具本体的引脚固定孔中。本实用新型将夹具本体设计为立方体结构,每个面样品放置孔厚度为0.6cm~1.3cm,六个面围成中空结构,样品放置孔轴对称或中心对称设计,以防止在振动过程中产生共振,造成样品损伤;同时在设备对样品重量有一定要求的情况下,以完成60G~80G高量级振动、3000G以上冲击试验,易于实现夹具本体的空间反转。

    一种用于间歇寿命试验的控制装置

    公开(公告)号:CN207908596U

    公开(公告)日:2018-09-25

    申请号:CN201820278686.4

    申请日:2018-02-27

    Abstract: 本实用新型涉及一种用于间歇寿命试验的控制装置,属于宇航用元器件可靠性试验技术领域。该装置包括IGBT模块、平波电容、采样分流器和微处理器;所述的IGBT模块中包括IGBT开关和二极管;所述的IGBT模块与电源的正极连接,IGBT模块与平波电容连接,平波电容的负端接地;平波电容通过IGBT模块中的二极管与试验器件的正端连接,试验器件的正端和负端均与采样分流器连接,采样分流器还与微处理器连接,采样分流器还与电源负极连接;微处理器与IGBT模块连接,微处理器与平波电容连接。

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