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实用新型
一种用于间歇寿命试验的控制装置有权

公开(公告)号：CN207908596U

公开(公告)日：2018-09-25

申请号：CN201820278686.4

申请日：2018-02-27

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 李璇 , 张红旗 , 王雪生 , 唐章东 , 王征 , 张希林 , 董浩威 , 杨坤

IPC: G01R31/00

Abstract: 本实用新型涉及一种用于间歇寿命试验的控制装置，属于宇航用元器件可靠性试验技术领域。该装置包括IGBT模块、平波电容、采样分流器和微处理器；所述的IGBT模块中包括IGBT开关和二极管；所述的IGBT模块与电源的正极连接，IGBT模块与平波电容连接，平波电容的负端接地；平波电容通过IGBT模块中的二极管与试验器件的正端连接，试验器件的正端和负端均与采样分流器连接，采样分流器还与微处理器连接，采样分流器还与电源负极连接；微处理器与IGBT模块连接，微处理器与平波电容连接。

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