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公开(公告)号:CN105486349A
公开(公告)日:2016-04-13
申请号:CN201511015605.9
申请日:2015-12-29
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
CPC classification number: G01D21/02 , B64C39/024 , G05D1/101 , G08C17/02
Abstract: 本发明涉及一种空间三维多参数分布测试系统及其实施方法,所述的额系统包括无线遥控的无人机,电控单元,减震单元和地面接收单元。通过所述系统的遥控器遥控无人机升降并实现自动数据采集和传输功能。主要特点:1、可时、空、物理多参数实时数据采集与传输,模块实现自动探测PM2.5,总挥发性有机物,温湿度,CO2,位置(x,y,z)数据,时间数据等多参数实时采集;2、采用三层电路板叠装优化结构设计,采用三层叠层工艺,立体布局,使电控单元体积减小;3、采用轻质高强度镁合金材料,保证电控单元重量小于500g;4、减震单元采用弹簧减震结构设计,减少震动对传感信号的精度影响,PM2.5传感器检测不确定度小于±10%;5、垂直高度分辨率达到0.25m。
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公开(公告)号:CN104833955A
公开(公告)日:2015-08-12
申请号:CN201510101524.4
申请日:2015-03-09
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01S7/02
CPC classification number: G01S7/35 , G01S7/352 , G01S13/584 , G01S13/93
Abstract: 本发明涉及一种3mm波段小型探测器前端,包括3mm小型化双天线、发射支路、接收支路、微带功率分配器和本振源倍频链路。其中,3mm小型化双天线包括发射天线和接收天线;本振源倍频链路用于提供可调频的本振信号;微带功率分配器将本振信号分成两路,一路馈给发射支路提供振荡信号,另一路馈给接收支路提供本振输入;发射支路用于将微带功率分配器输出的一路信号再次进行倍频和放大,得到3mm波段射频信号送至发射天线进行发射;接收支路用于将接收天线收到的3mm波段回波信号放大,再与本振输入信号进行二次谐波有源混频得到中频输出信号。本发明解决现有波导结构3mm波段探测器前端成本高、集成度低、体积大的问题。
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公开(公告)号:CN102307070B
公开(公告)日:2013-11-27
申请号:CN201110139551.2
申请日:2011-05-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明公开了一种毫米波段非接触式传输特性的自动测试系统与测试方法,该方法包括:初始化毫米波段非接触式传输特性的自动测试系统;校准毫米波段非接触式传输特性的自动测试系统,完成无待测件情况下的空间传输特性测试,获得校准状态下的测试信息;完成有待测件情况下的传输特性测试,获得测试状态下的测试信息;获得发射端与接收端在每一个频率值下对应的功率信息;将测试状态下获得的功率信息减去校准状态下获得的功率信息,显示出待测件传输特性的测试曲线。本发明实现了76GHz~77GHz传输特性参数的自动测试,克服了毫米波测试手段与测试设备缺乏的困难,避免了测试设备成本昂贵,体积庞大,不易实现自动控制等缺点。
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公开(公告)号:CN102207545A
公开(公告)日:2011-10-05
申请号:CN201110139547.6
申请日:2011-05-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01S7/40
Abstract: 本发明公开了一种微波/毫米波矢量调制器传输特性的自动测试系统及方法,该系统包括小信号传输特性测试系统,以及大信号传输特性测试系统;所述大信号传输特性测试系统包括大信号功率压缩特性测试系统和大信号相位压缩特性测试系统;本发明配置灵活,不仅适用于各种毫米波频段传输特性的自动测试,而且能够全面实现微波/毫米波矢量调制器大信号条件下与小信号条件下的传输特性自动测试;此外,本发明还克服了目前国内微波/毫米波矢量调制器在大信号相位压缩特性与大信号功率压缩特性测试手段与自动测试系统缺乏的困难,同时避免了手工测试时的低效率、精确度低、不确定因素多等缺点。
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公开(公告)号:CN102157787A
公开(公告)日:2011-08-17
申请号:CN201010600714.8
申请日:2010-12-22
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种用于双波束交通信息检测雷达的平面阵列微波天线,该天线由一组20个平面天线单元串联后,与另一组串联的20个平面天线单元并联构成,采用中心侧馈方式对天线阵列馈电,本发明的优点是一副天线能同时产生2个波束主瓣,2个主瓣之间具有一定夹角(即双波束天线的波束主瓣之间的夹角),完全符合双波束微波交通信息采集雷达需求,中心侧馈方式更有利于雷达收发组件与天线一体化集成,另外也使得雷达收发组件布线长度可以减短,有利于减少微波辐射损耗,也有利于减小雷达横截面积。
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公开(公告)号:CN101924584A
公开(公告)日:2010-12-22
申请号:CN201010296594.7
申请日:2010-09-29
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种基于高速通信调制器复用的智能天线波束成形前端,包括射频本振、功率放大器、基带电路、波形生成电路、数字/模拟转换控制电路、以及一个以上的高速矢量调制器和天线。射频本振提供的载波振荡信号经功率放大器放大后传输到高速矢量调制器。数字/模拟转换控制电路同时接收基带电路产生的高速通信数字基带信号和波形生成电路产生的智能天线空间波束形成数据,并对数字基带信号进行调制和将波束形成数据转换为控制高速矢量调制器的模拟控制信号。每个高速矢量调制器根据收到的控制信号对载波振荡信号进行幅度和相位的调制,由各自的天线发送,从而在空间形成不同的天线波束。本发明避免了现有系统的链路冗长和系统复杂等问题。
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公开(公告)号:CN101776750A
公开(公告)日:2010-07-14
申请号:CN201010109282.0
申请日:2010-02-11
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供的用于毫米波阵列成像系统的集成高灵敏度毫米波接收机,其包括:具有孔体的板体;固定在所述板体一侧的集成型射频电路,其又包括:用于接收毫米波的平面微带缝隙天线、用于将接入的毫米波放大的低噪声放大器、和将放大后的毫米波转换为与功率成正比的低频电压信号的混合集成的二极管检波器;固定在所述板体另一侧的供电电路,其通过孔体与所述集成型射频电路相连接,用于向所述射频电路供电;以及两封装盖体,用于夹持所述板体以便封装。如此紧凑型结构,可有效克服体积大、稳定性差等缺陷,大大减小毫米波接收机的体积、重量,提高整机的性能、质量和可靠性,适合于大批量生产,从而满足阵列毫米波成像系统的需求。
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公开(公告)号:CN100470923C
公开(公告)日:2009-03-18
申请号:CN200510031088.4
申请日:2005-10-25
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H01P1/387
Abstract: 本发明涉及一种用于雷达、通信系统单天线方案中进行收发隔离的环行器,具体地说是一种适用于各种频段的微波通信系统中的新型高收发隔离的混合环行器。包括复合在介质衬底上的三个功分器和一个混合环,所述功分器和混合环的等分端依次串联呈环型,所述混合环的差端为环行器的发射端,其中一个功分器的和端为环行器的天线端,另外一个功分器的和端为环形器的接收端,其余各端口分别设有接地电阻。本发明具有成本低、收发隔离度高等优点。
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公开(公告)号:CN1265208C
公开(公告)日:2006-07-19
申请号:CN02136542.3
申请日:2002-08-16
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种全固态集成小型毫米波防撞雷达装置,其特征在于,由天线、收发组件、线性调制单元、中频放大系统、信号处理系统、声光显示报警装置六个单元组成,采用24GHZ的高频载波以及收发小型平面微带天线。线性调制单元产生一幅度、偏置和频率可调的三角波,输入到收发组件中的压控振荡器,使之产生一频率按三角波规律变化的高频信号,经耦合器、环行器和天线发射出去,碰到目标并返回,再由天线接收,通过环行器后,和耦合器耦合到的本振信号的一部分经混频器混频,混频后的信号经中放进入信号处理系统检出探测目标的距离,并判断是否小于安全门限值,之后送入报警及显示装置进行显示和报警。具有重量轻、体积小、一致性好、分辨高和全天候等特点。
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公开(公告)号:CN118200963A
公开(公告)日:2024-06-14
申请号:CN202410296489.5
申请日:2024-03-15
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种集成无源器件射频缺陷定位方法,包括对待检验晶圆进行整晶圆射频参数测试获取晶圆测试结果,对晶圆测试结果进行去嵌,获取待检验晶圆中每个无源器件的S参数数据;从每个无源器件的S参数数据中提取预设频点的预设参数作为分析参数,对每种类型下每种尺寸无源器件的分析参数进行分析,获取无源器件中存在缺陷的器件类型及尺寸组合作为缺陷类型尺寸组合;通过对每个缺陷类型尺寸组合下的无源器件分析参数进行分析,获取每个缺陷类型尺寸组合下无源器件中的缺陷器件以及缺陷器件在待检验晶圆中的位置信息。本发明基于晶圆级测试数据中分析参数可视化统计分析方法,有效定位晶圆无源器件中的缺陷器件,实现良率统计与缺陷分析。
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