-
公开(公告)号：CN116184095A
公开(公告)日：2023-05-30
申请号：CN202310375713.5
申请日：2023-04-10
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种电磁干扰注入探头以及系统。所述电磁干扰注入电路包括：基板，用于作为接地层；信号传输模块，设于所述基板表面，包括滤波组件、第一连接器、第二连接器和第三连接器，所述滤波组件的第一端与所述第一连接器连接，所述滤波组件的第二端分别与所述第二连接器、所述第三连接器连接，所述第一连接器用于接收脉冲信号，所述第二连接器用于与示波器连接，所述第三连接器用于与待测器件连接。上述电磁干扰注入探头可以减少噪声干扰，并实时准确监测注入到待测器件的脉冲信号的脉冲参数，进而可以获取准确的电磁干扰测试结果。
-
公开(公告)号：CN109655770B
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN201910092916.7
申请日：2019-01-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种差分磁场探头，包括中层介质板、第一磁场探测部以及第二磁场探测部；中层介质板夹设于第一磁场探测部与第二磁场探测部之间，且第一磁场探测部中设有磁场探测线的端部、第二磁场探测部中设有磁场探测线的端部分别与中层介质板机械连接；其中，第一磁场探测部用于感应外界磁场产生第一电信号，并将第一电信号输出；第二磁场探测部用于感应外界磁场产生第二电信号，并将第二电信号输出；第一电信号和第二电信号组成差分信号，采用差分共模抑制设计，对应产生并输出组成差分信号的第一信号和第二信号，利用差分信号滤除在探测磁场过程中的干扰信号，从而提高了差分磁场探头的电场抑制比。
-
公开(公告)号：CN112526221B
公开(公告)日：2023-04-14
申请号：CN202011154645.2
申请日：2020-10-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R29/08
Abstract: 本发明涉及电磁检测技术领域，公开了一种电磁场复合探头和探测系统。所述电磁场复合探头，包括设有若干屏蔽接地通孔的PCB板，所述PCB板包括信号探测部和信号传输部；所述信号探测部包括硅基探头，所述硅基探头上设置有一探测线圈，所述探测线圈与所述信号传输部相连接构成一探测环路，所述探测环路用于探测待测件的电磁场得到得到射频信号；所述信号传输部，与所述信号探测部相连接，用于将得到的所述射频信号以预设特性阻抗的形式传输出去。由于所述硅基探头上能够设计尺寸很小的探测环路，因而能够较好地提高所述电磁场复合探头的探测灵敏度，同时还能提高所述电磁场复合探头的空间分辨率。
-
公开(公告)号：CN115113124A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202210586361.3
申请日：2022-05-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种复合探头校准方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品，对复合探头施加近场，分别将第三接口和第四接口的输入电平设置为0，获取第一总输出信号、第二总输出信号和第一特征参数，获取第三总输出信号、第四总输出信号和第二特征参数；根据第一总输出信号、第二总输出信号以及第一特征参数，确定第一信号矩阵和第一参数矩阵；根据第三总输出信号、第四总输出信号以及第二特征参数，确定第二信号矩阵和第二参数矩阵；根据信号矩阵和参数矩阵计算得到校准矩阵，并对近场探头进行参数校准。通过调整校准件接口的输入电平，构建校准矩阵的求解方程，从而解决非对称问题，且能够解决高频带的不对称问题，具有强的验证带宽。
-
公开(公告)号：CN115032476A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210435547.9
申请日：2022-04-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种射频器件的数据处理方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取目标射频器件中封装基板的基板测试数据，基板测试数据为对封装基板的第一测试点进行测试后得到的数据；获取装设于封装基板的射频元件的射频测试数据，射频测试数据为对射频元件的第二测试点进行测试后得到的数据，第二测试点所对应的第二测试路径中的至少一部分子路径、与第一测试点所对应的第一测试路径中的至少一部分子路径重合；根据基板测试数据，对射频测试数据进行去嵌入处理，得到目标射频器件的射频特性数据。采用本方法能够提高射频器件的数据处理效率。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110456189B
公开(公告)日：2022-02-15
申请号：CN201910669976.0
申请日：2019-07-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明涉及一种近场屏蔽效能测试装置、系统及方法，利用设置在基板表面上方的微带线和带状线所形成的场线耦合效应，进行电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能的同时测量。同时，由于带状线和微带线均可工作至高频，能够支持高频处电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能的同时测量。基于此，测试人员可将矢量网络分析仪的各端口分别连接至微带线的第一端、带状线的第一端和/或带状线的第二端，使矢量网络分析仪获取到各端口间的耦合传输系数，以分析微带线和带状线间的场线耦合效应，对比加载或未加载待测试样时的场线耦合效应，得到电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能的测量结果，即待测试样的近场屏蔽效能测试结果。
-
公开(公告)号：CN114019337A
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN202111233595.1
申请日：2021-10-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/26
Abstract: 本申请涉及一种屏蔽件测量装置与测量系统，包括微带线、匹配负载、复合探头和网络分析仪，网络分析仪将电磁信号发送至微带线后，根据法拉第电磁感应定律，复合探头中将会产生电磁波，并通过两个输出端传输至网络分析仪，根据差模和共模理论，在复合探头两个输出端传输的电磁波均包含电场和磁场，由此网络分析仪可以得到在有屏蔽件和无屏蔽件存在时，微带线与复合探头之间的耦合传输系数，并根据耦合传输系数得到屏蔽件的电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能，实现近场环境下电场与磁场屏蔽效能的同时测量，使用可靠。
-
公开(公告)号：CN114019276A
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN202111275341.6
申请日：2021-10-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本公开关于一种近场探头空间分辨率的表征方法、计算机设备及校准件。该方法包括：用磁场探头扫描被测物的zi平面，得到所述被测物磁场探头输出的第一场强数据；用磁场探头扫描微带线校准件的Zj平面，得到所述微带线校准件磁场探头输出的第二场强数据；根据平面波谱变换方式，将所述第一场强数据和第二场强数据变换到平面波谱域；对所述微带线校准件进行仿真得到Zj平面的参考场强数据；根据所述第一波谱域数据、第二波谱域数据和参考场数据计算得到被测物的场强数据；基于所述被测物的场强数据的值表征空间分辨率的场强值。利用本公开方案可以精确的表征出近场探头空间分辨率的值。
-
公开(公告)号：CN113900058A
公开(公告)日：2022-01-07
申请号：CN202111083991.0
申请日：2021-09-14
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本公开涉及一种近场探头的校准方法、装置、系统、设备及存储介质，方法包括对所述近场探头施加近场，获取所述近场探头在第一角度条件下的所述近场的第一特征参数，以及所述近场探头的第一总输出信号和第二总输出信号；将所述第一总输出信号和第二总输出信号通过校准矩阵、所述第一特征参数进行表征，构建第一传递模型；获取所述近场探头在第二角度条件下的所述近场的第二特征参数，以及所述近场探头的第三总输出信号和第四总输出信号；构建第二传递模型；根据所述第一传递模型和第二传递模型计算获得所述校准矩阵的参数因子。本公开消除了第一传输链路和第二传输链路不对称产生的影响，提高了近场探头扫描的准确度。
-
公开(公告)号：CN112798885A
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN202011584762.2
申请日：2020-12-28
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种辐射测试装置、辐射测试方法、样品测试系统及样品测试方法。该辐射测试装置包括：屏蔽箱，用于放置待测样品；信号发生装置，用于向所述屏蔽箱内发射辐射信号；场强探测装置，位于所述屏蔽箱内时用于探测所述辐射信号到达所述待测样品的场强。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
78
records
(took 0.065 seconds)
