设备访问控制方法、微处理器架构及计算机设备

    公开(公告)号:CN119003411A

    公开(公告)日:2024-11-22

    申请号:CN202411074322.0

    申请日:2024-08-06

    Abstract: 本申请提出一种设备访问控制方法、微处理器架构及计算机设备,所述方法应用于微处理器架构,所述微处理器架构包括应用处理器、输入输出处理器以及至少一个外设控制器;所述输入输出处理器作为所述应用处理器与所述至少一个外设控制器进行交互时的中间媒介,所述输入输出处理器中包括与每个外设控制器各自对应的硬件直传寄存器,所述方法包括:所述硬件直传寄存器接收所述应用处理器发送的针对目标外设控制器的访问请求;所述目标外设控制器为所述至少一个外设控制器中的任意外设控制器;所述硬件直传寄存器将所述访问请求转发至所述目标外设控制器。上述方法能够提高微处理器架构中的主核访问外设的效率。

    一种防护部件、安全度量方法及防护系统

    公开(公告)号:CN117574464A

    公开(公告)日:2024-02-20

    申请号:CN202311575859.0

    申请日:2023-11-23

    Abstract: 本发明公开一种防护部件、安全度量方法及防护系统,所述防护部件独立于微处理器架构设置,防护部件包括PC I e接口和可信核,PC I e接口的两端分别与可信核和微处理器架构相连,PC I e接口具有至少一个虚拟功能,每一虚拟功能能够分别与微处理器架构中的每一度量对象建立起一一对应的映射关系,从而使得防护部件能够利用虚拟功能和度量对象的映射关系,从微处理器架构获取多个度量对象的待度量信息以进行安全度量,实现了使用一个防护部件对多个度量对象进行安全度量的目的,无需额外增加防护部件,降低了硬件资源的浪费。

    片上系统、数据处理方法及计算机设备

    公开(公告)号:CN114564441A

    公开(公告)日:2022-05-31

    申请号:CN202210432754.9

    申请日:2022-04-24

    Abstract: 本申请实施例提供一种片上系统、数据处理方法及计算机设备,该片上系统包括发送单元;所述发送单元包括:多个第一存储单元以及对齐控制单元,各第一存储单元分别与所述对齐控制单元连接;所述第一存储单元包括:第一去偏斜缓存;其中,所述第一去偏斜缓存,用于存储待传输数据,所述待传输数据包括:负载数据以及对齐数据,所述对齐数据中包括起始标识以及结束标识;所述对齐控制单元,用于识别各所述第一去偏斜缓存中的所述对齐数据的起始标识和结束标识,并在识别到所述对齐数据的起始标识和结束标识后从各所述第一去偏斜缓存读取并发送所述待传输数据。通过本申请使得数据在发送单元侧首先完成一次对齐,从而可以保证数据对齐的效率。

    一种启动方法及相关装置
    24.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119065725A

    公开(公告)日:2024-12-03

    申请号:CN202411075678.6

    申请日:2024-08-06

    Abstract: 本说明书实施例提供了一种启动方法,该启动方法通过第一处理器核响应于启动操作,将第一子固件加载于所述第二存储器中,并将第二子固件加载于所述第一存储器中,以使第二处理器核可以基于加载于所述第二存储器和所述第一存储器中的目标固件进行正常启动,避免了由于第二存储器的存储空间不足以加载全部的目标固件而导致第一处理器核启动失败或启动异常的问题。

    一种处理系统、电子设备及温度调控方法

    公开(公告)号:CN117008667A

    公开(公告)日:2023-11-07

    申请号:CN202311150328.7

    申请日:2023-09-07

    Abstract: 本申请涉及一种处理系统、电子设备及温度调控方法,属于电子电路领域。该处理系统包括:处理器和可编程逻辑器件;处理器包含第一温度传感器,所述第一温度传感器被配置为检测所述处理器的第一内部温度;可编程逻辑器件与所述第一温度传感器通过集成电路总线接口直接连接,所述可编程逻辑器件被配置为:通过所述集成电路总线接口获取所述处理器的第一内部温度,在所述第一内部温度大于第一阈值的情况下,通过第一调控策略对所述处理器进行调温。本申请能够减少恶劣或恶劣环境下无法对处理器的温度进行调控的问题,能够延长处理器的使用寿命和提高处理器的使用性能。

    片上系统、数据处理方法及计算机设备

    公开(公告)号:CN114564441B

    公开(公告)日:2022-07-05

    申请号:CN202210432754.9

    申请日:2022-04-24

    Abstract: 本申请实施例提供一种片上系统、数据处理方法及计算机设备,该片上系统包括发送单元;所述发送单元包括:多个第一存储单元以及对齐控制单元,各第一存储单元分别与所述对齐控制单元连接;所述第一存储单元包括:第一去偏斜缓存;其中,所述第一去偏斜缓存,用于存储待传输数据,所述待传输数据包括:负载数据以及对齐数据,所述对齐数据中包括起始标识以及结束标识;所述对齐控制单元,用于识别各所述第一去偏斜缓存中的所述对齐数据的起始标识和结束标识,并在识别到所述对齐数据的起始标识和结束标识后从各所述第一去偏斜缓存读取并发送所述待传输数据。通过本申请使得数据在发送单元侧首先完成一次对齐,从而可以保证数据对齐的效率。

    数据处理方法、相关设备及系统

    公开(公告)号:CN114492769A

    公开(公告)日:2022-05-13

    申请号:CN202210370811.5

    申请日:2022-04-11

    Abstract: 本申请提供一种数据处理方法、相关设备及系统,方法应用于边缘处理芯片,边缘处理芯片中的硬件可配置多种卷积神经网络单元,卷积神经网络单元用于执行与之匹配的卷积神经网络模型;方法包括:在卷积神经网络单元中,对卷积神经网络模型进行训练,对训练好的卷积神经网络模型进行测试,得到测试结果;在边缘处理芯片中,基于每种卷积神经网络单元对应的测试结果,配置目标卷积神经网络单元,以通过目标卷积神经网络单元执行待处理任务。本申请可以选出相对于边缘处理芯片的资源而言,表现更优的卷积神经网络单元,从而在有限的资源条件下,达到更好的处理效果。

    数字高速并行总线自适应区间校正方法、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN111506527B

    公开(公告)日:2022-03-18

    申请号:CN202010287062.0

    申请日:2020-04-13

    Abstract: 本发明公开了一种数字高速并行总线自适应区间校正方法,通过是高频率时钟采样DQS信号并定位所述DQS信号的上升沿,下降沿,在每个所述DQS信号的同步高低电平区间内利用高频时钟加动态相位调整技术分别进行多次采样,对多频点多相位点采样数据进行对比分析,确定最佳采样区间,并将最有采样相位及高频定位点反馈到控制端,自适应调节校正采样点,在控制器内部建立周期性device采样温度LUT查找表,板级PCB走线预估长度和延时参数LUT查找表;结合CPU出厂默认setup和hold参数,通过自适应算法建立高频时钟采样区间与可调延迟线的算法对应关系,在应用软件层配置device时钟,明确PCB级走线参数,控制器内部自动保证驱动采样数据的准确性。

    数字高速并行总线自适应区间校正方法、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN111506527A

    公开(公告)日:2020-08-07

    申请号:CN202010287062.0

    申请日:2020-04-13

    Abstract: 本发明公开了一种数字高速并行总线自适应区间校正方法,通过是高频率时钟采样DQS信号并定位所述DQS信号的上升沿,下降沿,在每个所述DQS信号的同步高低电平区间内利用高频时钟加动态相位调整技术分别进行多次采样,对多频点多相位点采样数据进行对比分析,确定最佳采样区间,并将最有采样相位及高频定位点反馈到控制端,自适应调节校正采样点,在控制器内部建立周期性device采样温度LUT查找表,板级PCB走线预估长度和延时参数LUT查找表;结合CPU出厂默认setup和hold参数,通过自适应算法建立高频时钟采样区间与可调延迟线的算法对应关系,在应用软件层配置device时钟,明确PCB级走线参数,控制器内部自动保证驱动采样数据的准确性。

    一种面向片外非易失性存储的安全防护方法

    公开(公告)号:CN110609799A

    公开(公告)日:2019-12-24

    申请号:CN201910859190.5

    申请日:2019-09-11

    Abstract: 本发明公开了一种面向片外非易失性存储的安全防护方法,将片外非易失性存储器的空间划分为安全存储区域和普通存储区域,并基于TEE与REE双体系结构,将TEE的请求数据加密后通过TEE的驱动直接存入片外非易失性存储器的安全存储区域,而REE不能访问安全存储区域,REE只能访问普通存储区域。本发明解决了现有片外非易失性存储的安全方案面临的硬件成本高、功耗高、面积大或安全风险等技术问题,完成了TEE和REE对片外非易失性存储器的分区访问,增强了片外非易失性存储器的安全防护,且本发明设计简单,对性能的影响较小,具有很大的灵活性,兼顾了安全性、性能及成本三方面的要求。

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