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公开(公告)号：CN112067147B
公开(公告)日：2021-05-18
申请号：CN202010962416.7
申请日：2020-09-14
申请人： 清华大学
摘要： 本公开涉及一种温度和变形同步测量方法及装置，其中，该方法包括获取未加热时被测物体表面的初始图像，及加热过程中被测物体表面的参考图像、被测物体表面的参考点温度；根据初始图像的光强、参考点温度、参考图像的光强，得到被测物体表面的温度场；根据初始图像及参考图像，得到被测物体表面的变形场；其中，参考图像及初始图像均为单色相机拍摄的单色图像；参考点温度为拍摄参考图像时被测物体表面的单点温度。本公开中，仅需单色相机即可测量全场温度，弥补了通过单色相机无法测量全场温度的不足，同时，实现了对高温环境下的温度和变形同步测量，且测量精度和效率均有显著提升，大大促进了单色相机在温度和变形同步测量领域的应用发展。
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公开(公告)号：CN112525482A
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN202011331735.4
申请日：2020-11-24
申请人： 清华大学
IPC分类号： G01M9/06
摘要： 本公开涉及一种高温风洞环境下变形和温度测量装置及方法，其中，该装置包括：固定支架，固定支架的第一部分与第二部分之间通过机械臂相连；第一部分与高温风洞考核仓相连；第二部分固定设置有第一图像采集设备及加速度传感器；控制设备，用于在对被测试件进行高温风洞考核过程中，控制加速度传感器采集当前时刻第二部分的加速度，控制第一图像采集设备采集当前时刻被测试件表面的图像；根据当前时刻的加速度，得到当前时刻第二部分的位移，并根据当前时刻第二部分的位移控制机械臂运动，以使第一图像采集设备的位置保持不变。通过本公开，能够有效抑制第一图像采集设备的振动，提升了所采集的被测试件表面图像的质量。
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公开(公告)号：CN112200788A
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN202011108313.0
申请日：2020-10-16
申请人： 清华大学
摘要： 本公开涉及一种高温变形测量装置及方法。所述装置包括：处理设备、图像获取设备、加热设备。加热设备用于产生热气流，并通过热气流对试件进行加热；图像获取设备用于在试件的加热过程中，获取试件的检测图像；处理设备用于通过卷积神经网络对所述检测图像进行残差识别处理，获得检测图像的残差信息；根据检测图像和残差信息，获得试件的变形图像；根据变形图像，获得试件的变形场。根据本公开的实施例的高温变形测量装置，可通过卷积神经网络降低高温热辐射引起的图像亮度不均匀、热气流扰动引起空气折射率变化等因素的耦合影响，获得更清晰的实验图像，提升了变形场的测量精度。
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公开(公告)号：CN111636048A
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN202010395688.3
申请日：2020-05-12
申请人： 清华大学
IPC分类号： C23C14/04 , C23C16/04 , C23C14/06 , C23C14/58 , C23C14/24 , C23C14/16 , C23C16/50 , C23C16/34 , C23C16/56 , G03F1/26
摘要： 本发明公开了一种掩膜，所述掩膜包括包括不透光的硅基材以及形成在该硅基材上表面的第一透光层，所述硅基材具有贯穿厚度形成的槽；所述第一透光层采用可透射可见光的材料制成，其对应所述槽顶面的区域形成与所述薄膜图案的形状尺寸相同的镂空图案。本发明进一步还公开了所述掩膜的制造方法以及采用该掩膜制造二维材料薄膜图案的方法。本发明解决了二维材料反光性差在光镜下不易寻找的难题，方便在微结构下寻找薄膜材料并且可以精密定位。同时，所述掩膜制造工艺简单，使用寿命长。
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公开(公告)号：CN110455801B
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201910780387.X
申请日：2019-08-22
申请人： 清华大学
摘要： 本公开涉及一种分析液滴流动的装置。该装置包括：固定组件，用于固定试件；加热装置，用于对试件加热，使所述试件熔化，形成液滴；气流产生装置，用于在加热中的试件的表面产生气流，使液滴流动；图像获取装置，用于在液滴流动过程中获取试件的表面的图像；处理组件用于根据图像分析液滴的流动特征。根据本公开的各方面的分析液滴流动的装置通过获取试件表面液滴流动的图像，可分析液滴的流动特征，还可对对烧蚀实验中材料表面的大量液滴流动产生的流场特性进行分析，使流场特征更高效的可视化，改善向量场可视化中的遮挡和流场混乱现象。
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公开(公告)号：CN110081973A
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201910327970.5
申请日：2019-04-23
申请人： 深圳清华大学研究院
IPC分类号： G01J1/42
摘要： 本发明涉及紫外线检测领域，公开了一种紫外线灯水下发射功率的测量方法及测量装置，在本发明中，将紫外线灯置于套管，并将套管放入水中，当水体不超过水位线最大高度时记为第一状态，检测第一状态时空气中不经过水体的紫外线辐射照度E和第一状态时水下紫外线辐射照度t1，调整水体高度使水体没过套管顶端，记为第二状态，测量第二状态时水下紫外线辐射照度t2，通过E、t1和t2计算出紫外线灯水下发射功率。本方明还包括一种紫外线灯发射功率的测量装置，其中包括第一紫外线传感器、第二紫外线传感器、套管和盛水装置，通过本装置，可以测量出计算紫外线灯水下发射功率的数据。
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公开(公告)号：CN114018324B
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202111287448.2
申请日：2021-11-02
申请人： 清华大学
摘要： 本公开涉及一种多参数同步测量方法及装置、电子设备和存储介质，所述方法包括：控制光源照射被测量对象；获取所述被测量对象在所述光源照射下的第一图像；利用所述第一图像的多个第二波段的灰度值对所述第一图像的多个第三波段的灰度值进行校正，去除所述第一图像的多个第三波段中的辐射光，得到第二图像；根据所述第二图像的至少一个波段的灰度值，以及所述被测量对象的参考温度，确定所述被测量对象的温度场；根据所述第二图像的至少一个目标波段的灰度值确定所述被测量对象的变形场。本公开实施例通过灵活地对各个波段的辐射光进行消除或抑制，可以得到准确的图像，从而提高被测量对象温度场、变形场的测量精度。
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公开(公告)号：CN113532548B
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202110969898.3
申请日：2021-08-23
申请人： 清华大学
IPC分类号： G01D21/02
摘要： 本申请涉及一种高温环境下温度变形同步测量系统和方法，该系统包括：热考核仓，用于对放置在热考核仓内的被测试件进行热考核；温度测量装置，用于测量被测试件表面多个参考点的温度信息；图像采集装置，用于采集被测试件表面的图像；处理装置，用于提取图像中多个参考点及目标点的光强信息；根据多个参考点及目标点的光强信息、多个参考点及目标点的温度信息，得到多个参考点的辐射光及反射光的强度信息及目标点的温度信息，进而根据多个目标点的温度信息，得到被测试件表面的温度场。通过本申请，分离被测试件表面的辐射光与反射光，从而得到高精度的温度场信息。
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公开(公告)号：CN110553728B
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN201910791304.7
申请日：2019-08-26
申请人： 深圳清华大学研究院
IPC分类号： G01J1/08
摘要： 本申请公开了一种箱式紫外线平行光设备及紫外线辐射照度计的校准方法。所述设备包括紫外线灯和箱体；所述箱体包括上水箱和下箱体；所述上水箱的底部设有供所述紫外线灯产生的紫外线通过的水封窗；所述下箱体包括不透紫外光的上部、中部、下部不透紫外光的层板；所述中部层板位于上层板的下方；所述下部层板位于所述中部层板的下方；所述上部层板与所述中部层板之间存在空间；所述中部层板与所述中部层板之间存在空间；所述中部层板与所述下部层板之间存在空间；所述上部层板设有上部透光区；所述中部层板设有中部孔；所述下部层板设有下部孔。所述校准方法使用所述设备。本申请可使目标光束达到被照射物体，可消除非平行光的影响。
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公开(公告)号：CN114160974A
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN202111564412.4
申请日：2021-12-20
申请人： 清华大学
摘要： 本公开涉及一种图像获取装置及参数确定方法，所述装置用于获取焊接熔池的图像，所述装置包括：图像采集模块，用于采集图像；滤光模块，设置于所述图像采集模块的采集端，包括窄带滤光片，用于滤除辐射光，所述窄带滤光片的中心波长与所述图像采集模块的光谱响应、焊接过程中焊接熔池的光谱及电弧弧光的光谱具有相关关系；衰减模块，设置于所述图像采集模块的采集端，包括光学衰减片，用于衰减辐射光。本公开实施例可以在确保图像采集模块具有较高信噪比、感光灵敏度的情况下较好地滤除熔池的高温热辐射及电弧的高辐射弧光干扰，使得采集的图像光强均一化，避免出现大面积过曝光现象，进而实现对熔池区域进行高质量观测。
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