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公开(公告)号：CN114672766B
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202210314627.9
申请日：2022-03-28
申请人： 清华大学
摘要： 本公开提供了一种抗氧化结构及形成抗氧化结构的方法。该抗氧化结构包括基体和封闭微结构，所述封闭微结构是上下方向上的两端开口的腔体，并且所述封闭微结构的下端设于所述基体表面，在所述基体的表面上在所述封闭微结构的内部和外部形成氧化膜时，形成于所述封闭微结构的内部的所述氧化膜受到压应力，以使氧化膜厚度增长率减小。通过采用上述技术方案，能够减小抗氧化结构的基体的表面上的形成于封闭微结构的内部的氧化膜的增长率，减缓抗氧化结构的基体在封闭微结构内部的氧化进程，实现对基体的表面抗氧化性的选择性提升，从而为热防护材料的设计提供指导、为材料的性质调控提供有力手段。
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公开(公告)号：CN114672766A
公开(公告)日：2022-06-28
申请号：CN202210314627.9
申请日：2022-03-28
申请人： 清华大学
摘要： 本公开提供了一种抗氧化结构及形成抗氧化结构的方法。该抗氧化结构包括基体和封闭微结构，所述封闭微结构是上下方向上的两端开口的腔体，并且所述封闭微结构的下端设于所述基体表面，在所述基体的表面上在所述封闭微结构的内部和外部形成氧化膜时，形成于所述封闭微结构的内部的所述氧化膜受到压应力，以使氧化膜厚度增长率减小。通过采用上述技术方案，能够减小抗氧化结构的基体的表面上的形成于封闭微结构的内部的氧化膜的增长率，减缓抗氧化结构的基体在封闭微结构内部的氧化进程，实现对基体的表面抗氧化性的选择性提升，从而为热防护材料的设计提供指导、为材料的性质调控提供有力手段。
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公开(公告)号：CN113552125A
公开(公告)日：2021-10-26
申请号：CN202110814821.9
申请日：2021-07-19
申请人： 清华大学
IPC分类号： G01N21/84
摘要： 本公开涉及一种高温风洞环境下材料的烧蚀速率测试装置及方法，其中，该装置包括：高温风洞考核舱，用于对被测试件进行高温风洞考核；第一多光谱相机及第二多光谱相机，用于采集被测试件表面的多个波段的图像；激光器，用于向被测试件发射激光，并在被测试件表面形成激光点云；处理设备，用于根据第一多光谱相机及第二多光谱相机在第一时刻所采集的被测试件表面的第一波段的图像，确定第一时刻激光点云的空间位置，并根据不同时刻对应的激光点云的空间位置，确定被测试件表面的烧蚀速率。通过本公开，可以在散斑退化或无散斑等情况下，确定被测试件表面的烧蚀速率，从而对被测试件在高温风洞环境下的力学、热学等性能进行有效评估。
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公开(公告)号：CN113532548A
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN202110969898.3
申请日：2021-08-23
申请人： 清华大学
IPC分类号： G01D21/02
摘要： 本公开涉及一种高温环境下温度变形同步测量系统和方法，该系统包括：热考核仓，用于对放置在热考核仓内的被测试件进行热考核；温度测量装置，用于测量被测试件表面多个参考点的温度信息；图像采集装置，用于采集被测试件表面的图像；处理装置，用于提取图像中多个参考点及目标点的光强信息；根据多个参考点及目标点的光强信息、多个参考点及目标点的温度信息，得到多个参考点的辐射光及反射光的强度信息及目标点的温度信息，进而根据多个目标点的温度信息，得到被测试件表面的温度场。通过本公开，分离被测试件表面的辐射光与反射光，从而得到高精度的温度场信息。
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公开(公告)号：CN112884751B
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN202110256775.5
申请日：2021-03-09
申请人： 清华大学
摘要： 本公开涉及一种利用紫外荧光标记同步测量变形和温度的装置及方法，所述方法包括：控制紫外荧光剂喷洒装置在试件表面喷洒紫外荧光剂；控制紫外补偿光源照射所述试件表面，使所述紫外荧光剂发光，获取所述试件表面在加热状态下的第一图像；控制蓝色补偿光源照射所述试件表面，获取所述试件表面在加热状态下的第二图像；将所述第一图像输入训练后的神经网络，通过所述神经网络得到所述试件表面的变形场；根据所述第二图像，获取所述试件表面温度场。本公开实施例可提高在高温中试件表面变形场测量的精度并且实现同步测量温度场。
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公开(公告)号：CN113012078B
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN202110491851.0
申请日：2021-05-06
申请人： 清华大学
摘要： 本公开涉及一种高温测试图像热流扰动校正装置及方法。该装置包括：加热组件，用于对试件加热；发光组件，包括激光发射器、网格扩束镜及补偿光源；图像采集组件，用于采集试件在室温状态下的第一图像和被加热状态下的第二图像；以及处理组件，与图像采集组件相连，用于处理图像，以校正获取试件表面变形场时，因热流扰动产生的误差。本公开实施例通过校正试件表面变形场的热流扰动误差，可以提高试件表面变形场的计算精度。
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公开(公告)号：CN113030174A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202110382453.5
申请日：2021-04-09
申请人： 清华大学
摘要： 本公开涉及一种基于分区滤波的温度变形测量方法及系统，所述方法包括：利用图像采集装置采集被测物的表面在未加热时的初始图像、所述被测物的表面在加热过程中的考核图像，并利用温度采集装置采集所述被测物的表面的参考点在加热过程中的参考温度；提取所述初始图像、所述考核图像不同光学通道的光强，并根据提取到的光强及所述参考温度，得到所述被测物表面的温度场、变形场。本公开实施例通过在采集模块的前端设置衰减模块及滤波模块，实现对被测物表面光强的分区衰减及滤波，消除被测物表面存在的大亮度梯度对采集图像的不良影响，提升了被测物的温度场、变形场测量的准确性。
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公开(公告)号：CN112986321A
公开(公告)日：2021-06-18
申请号：CN202110335204.0
申请日：2021-03-29
申请人： 清华大学
摘要： 本公开涉及一种热膨胀变形场的测量方法及装置、电子设备和存储介质，方法包括：获取被测物体表面在参考温度下的第一高度特征矩阵以及在目标温度下的第二高度特征矩阵，其中，目标温度高于所述参考温度；根据第一高度特征矩阵，确定第一灰度图像；根据第二高度特征矩阵，确定第二灰度图像；根据第一灰度图像以及第二灰度图像，确定被测物体表面在目标温度下的变形场。根据本公开实施例的热膨胀变形场的测量方法，能够提高对热膨胀变形场的测量精确度。
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公开(公告)号：CN112884751A
公开(公告)日：2021-06-01
申请号：CN202110256775.5
申请日：2021-03-09
申请人： 清华大学
摘要： 本公开涉及一种利用紫外荧光标记同步测量变形和温度的装置及方法，所述方法包括：控制紫外荧光剂喷洒装置在试件表面喷洒紫外荧光剂；控制紫外补偿光源照射所述试件表面，使所述紫外荧光剂发光，获取所述试件表面在加热状态下的第一图像；控制蓝色补偿光源照射所述试件表面，获取所述试件表面在加热状态下的第二图像；将所述第一图像输入训练后的神经网络，通过所述神经网络得到所述试件表面的变形场；根据所述第二图像，获取所述试件表面温度场。本公开实施例可提高在高温中试件表面变形场测量的精度并且实现同步测量温度场。
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公开(公告)号：CN112200788B
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN202011108313.0
申请日：2020-10-16
申请人： 清华大学
摘要： 本公开涉及一种高温变形测量装置及方法。所述装置包括：处理设备、图像获取设备、加热设备。加热设备用于产生热气流，并通过热气流对试件进行加热；图像获取设备用于在试件的加热过程中，获取试件的检测图像；处理设备用于通过卷积神经网络对所述检测图像进行残差识别处理，获得检测图像的残差信息；根据检测图像和残差信息，获得试件的变形图像；根据变形图像，获得试件的变形场。根据本公开的实施例的高温变形测量装置，可通过卷积神经网络降低高温热辐射引起的图像亮度不均匀、热气流扰动引起空气折射率变化等因素的耦合影响，获得更清晰的实验图像，提升了变形场的测量精度。
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