调制图案计算装置、光控制装置、调制图案计算方法、调制图案计算程序以及存储介质

    公开(公告)号:CN107533247B

    公开(公告)日:2020-07-28

    申请号:CN201680027962.3

    申请日:2016-05-11

    Abstract: 调制图案计算装置(20)的迭代傅立叶变换部(22a)对包含强度谱函数以及相位谱函数的波形函数进行傅立叶变换,在傅立叶变换后进行了基于所期望的波形的时间强度波形函数的置换之后进行傅立叶逆变换。迭代傅立叶变换部(22a)使用对表示所期望的波形的函数乘以系数后的乘积来进行置换,系数具有与该系数的乘法运算前相比较,使乘法运算后的函数与傅立叶变换后的时间强度波形函数之差变小的值。由此,实现了能够抑制在迭代傅立叶运算时被引导到局部解并且能够高精度地计算出用于使光的时间波形接近所期望的波形的强度谱或者相位谱的调制图案计算装置、光控制装置、调制图案计算方法以及调制图案计算程序。

    色散测量装置、脉冲光源、色散测量方法和色散补偿方法

    公开(公告)号:CN113661382B

    公开(公告)日:2024-12-13

    申请号:CN202080026111.3

    申请日:2020-03-27

    Abstract: 本发明的色散测量装置(1A)具备脉冲形成部(3)、相关光学系统(4)、光检测部(5)和运算部(6)。脉冲形成部(3)根据从脉冲激光光源2输出的被测量光脉冲(Pa),形成包含彼此具有时间差且中心波长彼此不同的多个光脉冲的光脉冲串(Pb)。相关光学系统(4)接收从脉冲形成部(3)输出的光脉冲串(Pb),输出包含光脉冲串(Pb)的互相关或自相关的相关光(Pc)。光检测部(5)检测从相关光学系统(4)输出的相关光(Pc)的时间波形。运算部(6)基于相关光(Pc)的时间波形的特征量,推算脉冲激光光源(2)的波长色散量。由此,实现能够通过简单的结构测量波长色散的色散测量装置、脉冲光源、色散测量方法和色散补偿方法。

    显微镜装置以及图像获取方法

    公开(公告)号:CN106415354B

    公开(公告)日:2019-03-19

    申请号:CN201580025634.5

    申请日:2015-05-18

    Abstract: 本发明所涉及的显微镜装置1A具备:生物体试样台11,其支撑生物体试样B;物镜12,其与生物体试样台11相对配置;激光光源31,其输出通过物镜12而照射于生物体试样B的光;形状测量单元20,其获取生物体试样B的表面形状;控制单元40,其根据在形状测量单元20中获取的信息制作用于矫正起因于生物体试样B的表面形状的像差的像差校正全息数据;第1空间光调制器33,其呈现基于像差校正全息数据的全息图并调制由激光光源31输出的光;检测器37,其检测在生物体试样B中产生的被检测光L2的强度。由此,可以实现能够抑制在生物体试样内部的照射光的聚光强度的降低以及聚光形状的扩大的显微镜装置以及图像获取方法。

    脉冲光的波形测量方法及波形测量装置

    公开(公告)号:CN108885138A

    公开(公告)日:2018-11-23

    申请号:CN201780020106.X

    申请日:2017-03-15

    CPC classification number: G01J3/28 G01J11/00 G02F1/01 G02F1/13

    Abstract: 波形测量方法中,首先,将初始脉冲光(Lp)按每一个波长在空间上分散。其次,在偏振依赖型的SLM中使偏振面相对于调制轴方向倾斜的状态下,将初始脉冲光(Lp)输入至SLM,对沿调制轴方向的初始脉冲光(Lp)的第一偏振分量的相位光谱进行调制,由此,使由第一偏振分量构成的第一脉冲光(Lp1)、与由正交于该第一偏振分量的初始脉冲光(Lp)的第二偏振分量构成的第二脉冲光(Lp2)之间产生时间差。将各波长分量合成之后,向对象物(24)照射脉冲光(Lp1)、脉冲光(Lp2),并检测产生于对象物(24)的光。一边变更脉冲光(Lp1)、脉冲光(Lp2)的时间差,一边进行上述检测处理,根据检测结果求出脉冲光(Lp1)的时间波形。由此,实现能够减少因对象脉冲光与参照脉冲光的干涉引起的噪声的脉冲光的波形测量方法及波形测量装置。

    波形测量装置和脉冲光生成装置

    公开(公告)号:CN106233107A

    公开(公告)日:2016-12-14

    申请号:CN201580020774.3

    申请日:2015-04-08

    CPC classification number: G01J11/00 G01J9/00 G02B5/32 G02F2203/56

    Abstract: 本发明的波形测量装置具有:输入光谱取得部,取得作为脉冲光的强度光谱的输入强度光谱;光学元件,输入脉冲光,输出具有与脉冲光的相位光谱对应的强度光谱的光;输出光谱取得部,取得作为从光学元件输出的光的强度光谱的输出强度光谱;相位光谱确定部,将具有输入强度光谱和假想的相位光谱的脉冲光假设被输入到光学元件时所计算出的输出强度光谱、与在输出光谱取得部中取得的输出强度光谱进行比较,确定脉冲光的相位光谱。相位光谱确定部使控制相位光谱变形,设定假想的相位光谱。

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