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公开(公告)号：CN101290293A
公开(公告)日：2008-10-22
申请号：CN200810115601.1
申请日：2008-06-25
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01N21/65
Abstract: 本发明属于显微光谱成像技术领域，涉及一种差动共焦拉曼光谱测试方法。该方法融合差动共焦检测方法和拉曼光谱检测方法技术特点，构成一种可实现样品微区光谱检测的测试方法，通过差动共焦技术精确捕捉激发光束聚焦焦点位置，探测对应位置的拉曼光谱，同时采用设计的光瞳滤波器，锐化差动共焦拉曼光谱系统的爱里斑主瓣，改善其微区拉曼光谱探测能力，精确获取包括微区样品光谱信息和位置信息的微区空间光谱信息。本发明显著提高了共焦拉曼光谱显微镜的微区光谱探测能力；具有绝对跟踪零点和双极性跟踪特性，实现几何尺度绝对测量；可广泛应用于生物医学、生命科学、生物物理、生物化学、材料、工业精密检测等技术领域，进行微区几何位置和光谱特性的高精度检测，具有极其重要的应用前景。
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公开(公告)号：CN101231343A
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：CN200810057899.5
申请日：2008-02-20
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明属于光学精密测量技术领域，涉及一种基于液晶调制的激光测距机瞄准与接收轴平行性测量装置，包括：离轴抛物面反射镜、液晶空间光调制器、积分球、可见光源、光纤a、激光延时模块、光纤b、耦合器；所述液晶空间光调制器置于离轴抛物面反射镜的焦面上；所述液晶空间光调制器、积分球、光纤a、激光延时模块、光纤b、耦合器依次放置在焦面后，耦合器与激光发射器连接；所述可见光源与积分球连接。此检测装置利用液晶进行光电调制生成面目标进行光电扫描，测量成功率高，其可用于激光测距机瞄准轴与接收轴平行性在室内、室外环境下的快速检测，具有精度高和可便携的优点。
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公开(公告)号：CN1916582A
公开(公告)日：2007-02-21
申请号：CN200610128631.7
申请日：2006-09-04
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明提供了一种CCD摄像机分辨率客观评测方法，该方法包括以下步骤：获得一个分组多条纹图案靶板图像；将具有不同条纹宽度的条纹区域进行分离；抽取每个条纹区域中的一行的灰度值；分别将对应各条纹区域的所述灰度致信号转换至频域，其中，在保证采样后不同分辨率条纹的空间频率是对应物方空间频率间隔的整数倍的情况下，确定采样频率；从相应的频谱图中分别获得对应各条纹区域的摩尔条纹的幅值，以及特征频率幅值；最后对比各条纹区域的特征频率幅值与摩尔条纹频率幅值的关系，这种方法有效地解决了以往对于高频段变频光栅中出现摩尔条纹，从而影响判别的问题。本发明还提供了一种CCD摄像机分辨率测定系统。
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公开(公告)号：CN1858554A
公开(公告)日：2006-11-08
申请号：CN200610083776.X
申请日：2006-06-05
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种多谱线光学角规测试标定仪，包括一台通用机算机，一个电机控制箱，一个多光谱光源电控切换台，一个CCD摄像机，一个双频激光干涉仪；一台光电自准直仪；一个长基线分光镜组；一个长基线反射镜组；一个精密转台；一个平面反射镜组；一个数显读数表，一个三维调整台；本发明具有如下显著优点：双频激光干涉测角仪中，采用长基线镜组，使其测角精度能够比一般双频激光干涉测角仪高；采用测角和定位相分离的方法，容易实现光学角规的高精度测试标定；采用多谱线标定方法，可以在同样环境条件下对同一块光学角规给出多谱线偏向角标定值，扩大光学角规的应用范围。
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公开(公告)号：CN106090700B
公开(公告)日：2017-09-19
申请号：CN201610391484.6
申请日：2016-06-06
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及超大张角多光谱朗伯面照明光源，属于光学成像测试技术领域。本发明提出在大、小不等半球积分球交界错位处环形布局多光谱点光源阵列环带均布光源系统，使点光源阵列环带均布光源系统发出的光首先照射在大半球上，然后经大半球散射照射到积分球后半球(小半球)内表面上再经过多次散射出射超大张角高均匀的朗伯光源照明；通过多个谱段点光源循环阵列排布和光强切换，来实现超大张角多光谱朗伯面照明，实现强度和光谱的可调，生成多种光谱的均匀朗伯面照明和彩色照明。光源具有亮度高、均匀性好的优点，满足相机均匀性与光谱响应度的快速检测与标定需求。本发明可为相机等光电成像设备的像面均匀性与光谱响应检测提供全新的有效技术途径。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105910799B
公开(公告)日：2017-06-06
申请号：CN201610391473.8
申请日：2016-06-06
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光电测试技术领域，涉及一种集光、机、电、算及自动控制为一体的无限兼有限共轭寻焦光电像分析器及其实现方法，是光电测试装备的基本构成单元之一。本发明是通过透射光路的高精度共焦定焦实现反射光路目标图像的清晰采集与定焦，通过光电像分析器测量物镜的加入实现有限共轭光学系统参数的测试，通过光电像分析器的平移及旋转实现光学系统轴上、轴外视场和折轴系统光学参数的测量，最终实现无限兼有限共轭目标光学成像系统轴上和轴外视场光学参数的高精度综合测试。本无限兼有限共轭寻焦光电像分析器通过相应测量方法和软件控制，可对光学系统所成的图像进行高精度快速自动采集、分析与处理，进而获得无限兼有限共轭光电仪器的性能参数。
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公开(公告)号：CN101865670B
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN201010194545.2
申请日：2010-06-08
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种光纤点衍射移相干涉仪的平面面形测量方法，属于光学测量技术领域。首先从测量光纤衍射的球面波经被测平面镜反射，经辅助正透镜汇聚到参考光纤的倾斜端面并再次反射，与参考光纤衍射的球面波汇合而发生干涉，干涉图用标准方法分析和处理；该步测量得到被测平面镜和辅助正透镜引入的像差。然后，移除被测平面镜，移动测量光纤端面到关于被测平面镜的共轭位置，从测量光纤和参考光纤衍射的球面波汇合而再次发生干涉；该步测量得到辅助正透镜引入的像差；将第一、二步测量结果相减即得到被测平面镜引入的像差，按球面波前入射角度修正即得到被测平面镜的面形。本发明方法有效的提高了光纤点衍射移相干涉仪上的平面面形测量精度。
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公开(公告)号：CN101865670A
公开(公告)日：2010-10-20
申请号：CN201010194545.2
申请日：2010-06-08
Applicant: 北京理工大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明公开了一种光纤点衍射移相干涉仪的平面面形测量方法，属于光学测量技术领域。首先从测量光纤衍射的球面波经被测平面镜反射，经辅助正透镜汇聚到参考光纤的倾斜端面并再次反射，与参考光纤衍射的球面波汇合而发生干涉，干涉图用标准方法分析和处理；该步测量得到被测平面镜和辅助正透镜引入的像差。然后，移除被测平面镜，移动测量光纤端面到关于被测平面镜的共轭位置，从测量光纤和参考光纤衍射的球面波汇合而再次发生干涉；该步测量得到辅助正透镜引入的像差；将第一、二步测量结果相减即得到被测平面镜引入的像差，按球面波前入射角度修正即得到被测平面镜的面形。本发明方法有效的提高了光纤点衍射移相干涉仪上的平面面形测量精度。
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公开(公告)号：CN100493207C
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：CN200710064396.6
申请日：2007-03-14
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 一种CCD摄像系统的畸变测量校正方法和综合测试靶，所述综合测试靶由黑白间带和黑白带上的灰色目标点构成。所述的方法包括步骤：依次建立世界坐标系和摄像机坐标系之间、像素坐标系与图像坐标系之间、摄像机坐标系和图像坐标系之间的变换关系；采集畸变图像的成像极坐标；标定理想无畸变的成像极坐标；分别确定理想图像坐标点和畸变图像坐标点的对应关系，建立多项式模型；根据多项式系数测量并校正畸变。本发明的综合测试靶结合考虑了点靶和行靶信息，用测试靶替代传统的三个分立的靶板，解决了目标采样点的位置精度不高和目标采样点与其像点位置对应困难的问题。
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公开(公告)号：CN101355711A
公开(公告)日：2009-01-28
申请号：CN200810222211.4
申请日：2008-09-11
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明涉及一种基于三角形方向识别的CCD摄像机分辨率测量装置及方法，属于光电测试领域。该装置包括待测CCD摄像机、分辨率靶板、均匀照明灯箱以及高分辨率监示器。分辨率靶板是采用等边三角形图案代替通常的栅条图案；在测试过程中以识别等边三角形的朝向代替常规的条纹分辨，可以有效避免常规栅条图案分辨率测试中的摩尔条纹影响；将达到75％以上正确判别概率所对应的电视线数确定为该摄像机的极限分辨率。为提高测试精度，对标准栅条间隔作数值内插计算，设计出一种新的电视分辨率靶板，两块靶板配合使用可大大提高测量精度。可应用于对各类可见光CCD摄像机的性能评测。
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