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公开(公告)号:CN103518004A
公开(公告)日:2014-01-15
申请号:CN201280022417.7
申请日:2012-04-27
Applicant: 出光兴产株式会社
IPC: C23C14/34 , C04B35/00 , H01B5/14 , H01L21/363
CPC classification number: C23C14/086 , C04B35/01 , C04B35/453 , C04B35/62675 , C04B35/6455 , C04B2235/3284 , C04B2235/3286 , C04B2235/40 , C04B2235/44 , C04B2235/5409 , C04B2235/604 , C04B2235/652 , C04B2235/6562 , C04B2235/6565 , C04B2235/6567 , C04B2235/658 , C04B2235/763 , C04B2235/77 , C04B2235/80 , C23C14/08 , C23C14/3414 , H01B1/08 , H01L21/02554 , H01L21/02565 , H01L21/02631 , H01L29/24
Abstract: 一种溅射靶,其含有氧化物A和InGaZnO4,所述氧化物A在2θ=7.0°~8.4°、30.6°~32.0°、33.8°~35.8°、53.5°~56.5°、56.5°~59.5°、14.8°~16.2°、22.3°~24.3°、32.2°~34.2°、43.1°~46.1°、46.2°~49.2°和62.7°~66.7°的区域A~K具有衍射峰。
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公开(公告)号:CN103334085A
公开(公告)日:2013-10-02
申请号:CN201310209492.0
申请日:2010-11-16
Applicant: 出光兴产株式会社
IPC: C23C14/34 , C04B35/00 , C23C14/08 , H01L21/28 , H01L21/285 , H01L21/363
CPC classification number: C23C14/08 , C04B35/01 , C04B35/453 , C04B35/6261 , C04B35/62695 , C04B2235/3284 , C04B2235/3286 , C04B2235/3293 , C04B2235/5409 , C04B2235/604 , C04B2235/656 , C04B2235/6562 , C04B2235/6565 , C04B2235/6567 , C04B2235/6585 , C04B2235/664 , C04B2235/80 , C04B2235/963 , C23C14/3414 , H01L21/02381 , H01L21/02488 , H01L21/02554 , H01L21/02565 , H01L21/02631 , H01L29/7869
Abstract: 一种溅射靶,其由氧化物烧结体构成,所述氧化物烧结体含有In、Ga以及Zn,并且具备In的含量比周围多的组织、和Ga以及Zn的含量比周围多的组织。
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公开(公告)号:CN103155154A
公开(公告)日:2013-06-12
申请号:CN201180048961.4
申请日:2011-10-11
Applicant: 出光兴产株式会社
IPC: H01L29/786 , H01L21/336 , H01L21/363
CPC classification number: H01L29/247 , H01L21/02554 , H01L21/02565 , H01L21/02631 , H01L29/66969 , H01L29/78606 , H01L29/78693
Abstract: 本发明涉及一种含有1种以上的无定形的金属氧化物、且在上述金属氧化物的至少一部分的金属原子上键合有OH基的半导体薄膜。
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公开(公告)号:CN102597302A
公开(公告)日:2012-07-18
申请号:CN201080048855.1
申请日:2010-11-18
Applicant: 出光兴产株式会社
IPC: C23C14/34 , C04B35/00 , H01L21/363
CPC classification number: C04B35/453 , C04B35/01 , C04B2235/3284 , C04B2235/3286 , C04B2235/3293 , C04B2235/5436 , C04B2235/656 , C04B2235/6562 , C04B2235/6565 , C04B2235/6567 , C04B2235/6585 , C04B2235/664 , C04B2235/75 , C04B2235/763 , C04B2235/786 , C04B2235/80 , C04B2235/95 , C04B2235/963 , C23C14/3414 , H01L21/02422 , H01L21/02488 , H01L21/02565 , H01L21/02631
Abstract: 本发明提供一种溅射靶,其含有In、Zn、及Ga,包含表面与内部的化合物的晶型实质上相同的氧化物烧结体。
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公开(公告)号:CN102482156A
公开(公告)日:2012-05-30
申请号:CN201080036828.2
申请日:2010-09-30
Applicant: 出光兴产株式会社
IPC: C04B35/00 , C23C14/08 , C23C14/34 , H01L21/363 , H01L29/786
CPC classification number: C23C14/3414 , C04B35/01 , C04B35/453 , C04B35/62695 , C04B2235/3232 , C04B2235/3244 , C04B2235/3256 , C04B2235/3284 , C04B2235/3286 , C04B2235/3287 , C04B2235/3293 , C04B2235/3418 , C04B2235/5409 , C04B2235/5445 , C04B2235/604 , C04B2235/656 , C04B2235/6562 , C04B2235/6567 , C04B2235/6585 , C04B2235/76 , C04B2235/763 , C04B2235/77 , C04B2235/80 , C04B2235/96 , C23C14/08 , H01L21/02554 , H01L21/02565 , H01L21/02631 , H01L29/66969 , H01L29/7869
Abstract: 一种氧化物烧结体,其含有In(铟元素)、Ga(镓元素)以及Zn(锌元素),相对于除了氧元素之外的总元素的In、Ga以及Zn的总计含有率为95原子%以上,包含显示In2O3所示的方铁锰矿结构的化合物,和显示ZnGa2O4所示的尖晶石结构的化合物。
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公开(公告)号:CN102395542A
公开(公告)日:2012-03-28
申请号:CN201080016347.5
申请日:2010-11-17
Applicant: 出光兴产株式会社
IPC: C04B35/453 , C01G15/00 , C04B35/00 , C23C14/34 , H01L21/203 , H01L21/336 , H01L29/786
CPC classification number: C04B35/453 , C01G9/02 , C01G15/00 , C01G15/006 , C01P2002/72 , C04B35/62675 , C04B2235/3284 , C04B2235/3286 , C04B2235/5409 , C04B2235/6562 , C04B2235/6565 , C04B2235/6567 , C04B2235/658 , C04B2235/6585 , C04B2235/664 , C04B2235/666 , C04B2235/77 , C04B2235/80 , C04B2235/963 , C23C14/08 , C23C14/3414 , H01L21/02554 , H01L21/02565 , H01L21/02631 , H01L29/66742 , H01L29/66969 , H01L29/7869
Abstract: 一种氧化物,其含有铟元素(In)、镓元素(Ga)以及锌元素(Zn),通过X射线衍射测定(Cukα射线),在入射角(2θ)为7.0°~8.4°、30.6°~32.0°、33.8°~35.8°、53.5°~56.5°以及56.5°~59.5°的各位置处观测到衍射峰,并且,在2θ为30.6°~32.0°以及33.8°~35.8°的位置处观测到的衍射峰中的一个为主峰,其他为副峰。
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公开(公告)号:CN102362004A
公开(公告)日:2012-02-22
申请号:CN201080013169.0
申请日:2010-11-16
Applicant: 出光兴产株式会社
IPC: C23C14/34 , C04B35/00 , C23C14/08 , H01L21/28 , H01L21/285 , H01L21/363
CPC classification number: C23C14/08 , C04B35/01 , C04B35/453 , C04B35/6261 , C04B35/62695 , C04B2235/3284 , C04B2235/3286 , C04B2235/3293 , C04B2235/5409 , C04B2235/604 , C04B2235/656 , C04B2235/6562 , C04B2235/6565 , C04B2235/6567 , C04B2235/6585 , C04B2235/664 , C04B2235/80 , C04B2235/963 , C23C14/3414 , H01L21/02381 , H01L21/02488 , H01L21/02554 , H01L21/02565 , H01L21/02631 , H01L29/7869
Abstract: 一种溅射靶,其由氧化物烧结体构成,所述氧化物烧结体含有In、Ga以及Zn,并且具备In的含量比周围多的组织、和Ga以及Zn的含量比周围多的组织。
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公开(公告)号:CN102362003A
公开(公告)日:2012-02-22
申请号:CN201080012980.7
申请日:2010-11-18
Applicant: 出光兴产株式会社
CPC classification number: C04B35/453 , C04B35/6455 , C04B2235/3284 , C04B2235/3286 , C04B2235/5409 , C04B2235/604 , C04B2235/76 , C04B2235/77 , C04B2235/80 , C23C14/086 , C23C14/3414
Abstract: 本发明提供一种含有下述所示的氧化物A和具有方铁锰矿型晶体结构的氧化铟(In2O3)的溅射靶。氧化物A是包含铟元素(In)、镓元素(Ga)、及锌元素(Zn),且通过X射线衍射测定(Cukα射线)在入射角(2θ)为7.0°~8.4°、30.6°~32.0°、33.8°~35.8°、53.5°~56.5°及56.5°~59.5°的各位置能观测到衍射峰的氧化物。
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