-
公开(公告)号：CN116203886B
公开(公告)日：2025-05-16
申请号：CN202310250901.5
申请日：2023-03-15
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G05B19/042
Abstract: 本发明提供一种应用于FPGA的高安全电路设计，包括鉴权电路、回读译码电路、寄存器控制电路三个模块。鉴权电路将对FPGA的加密码流进行身份验证，若鉴权失败，将通过逻辑运算控制WBSTAR寄存器读出的值为预设的值；或在鉴权失败后，破坏针对WBSTAR寄存器回读的地址译码过程以使其回读地址错误。本发明根据FPGA配置及回读过程进行高安全设计，以鉴权结果控制回读地址译码过程或WBSTAR寄存器的读权限，保护FPGA的加密码流和数据，有效的防止了恶意码流注入和后门问题。
-
公开(公告)号：CN112600547B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202011439450.2
申请日：2020-12-07
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03K19/017 , H03K19/0185
Abstract: 一种宽范围输入输出接口电路，属于集成电路领域；作为输出接口的情况下，利用辅助电压产生单元(103)的开启与关闭，通过双模式电平转换单元，使输出驱动单元(101)中PMOS晶体管栅源电压等于内核工作电源电压；作为输入接口的情况下，利用辅助电压产生单元(103)的开启与关闭，通过耐压输入缓冲器单元(104)和耐压输入缓冲器单元(105)的开启与关闭，使耐压输入缓冲器单元(104)中PMOS晶体管栅源电压等于输入输出接口电源电压。
-
公开(公告)号：CN112557885B
公开(公告)日：2023-08-08
申请号：CN202011451798.3
申请日：2020-12-09
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/317
Abstract: 本发明提供了一种基于内置温度监测器的FPGA单粒子闩锁效应测试系统及方法，该测试系统包括上位机和测试板；上位机负责流程控制和数据处理；测试板包括控制处理FPGA、配置FLASH、DDR存储器以及被测FPGA；测试板负责完成被测FPGA的配置，同时完成被测FPGA结温和工作电流的监测，最终得到被测FPGA指定结温条件下闩锁阈值。本发明通过将被测FPGA配置成移位寄存器链功能进行自加热，充分利用被测FPGA内部集成的温度监测器持续监测被测FPGA结温，达到指定结温条件后，控制处理FPGA实时监测被测FPGA工作电流，最终获得被测FPGA指定结温条件下的闩锁阈值。
-
公开(公告)号：CN111176911B
公开(公告)日：2023-08-08
申请号：CN201911129123.4
申请日：2019-11-18
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F11/22 , G06F11/273
Abstract: 本发明涉及一种新型的大存储量高速FPGA辅助配置系统，所述的配置存储器模块中存储配置阶段主控FPGA模块的运行配置文件；配置存储器模块在每次系统上电时，将存储的运行配置文件发送至主控FPGA模块，主控FPGA模块完成配置；在烧写阶段，从上位机将烧写阶段配置文件发送至主控FPGA模块，主控FPGA模块完成烧写控制配置，所述上位机烧写模块将配置码流通过通信模块发送至主控FPGA模块，由主控FPGA模块将配置码流烧写至码流存储器，系统断电；在配置阶段，系统上电，待主控FPGA模块运行配置文件完成配置后，接收外部发送的配置指令，从码流存储器中获取对应的配置码流，并将获取的配置码流通过通信模块发送至待测FPGA，完成待测FPGA的配置。
-
公开(公告)号：CN115267515A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210424535.6
申请日：2022-04-21
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G01R31/317 , G01R31/3181 , G01R31/3185 , G06F8/61
Abstract: 本发明涉及一种可编程集成电路自动化测试系统及方法，系统包括上位机、通信模块、主控FPGA以及待测FPGA模块；上位机向主控FPGA发送待测的码流，并控制其对待测FPGA模块的码流烧写。在烧写阶段，上位机将码流发送至主控FPGA，主控FPGA再将码流发送回上位机进行校验，校验通过后上位机向主控FPGA发送烧写指令，控制主控FPGA向待测FPGA烧写码流；在测试阶段，主控FPGA根据上位机的指令向待测FPGA发送激励，并采集待测FPGA的响应，根据响应生成指令反馈给上位机；在循环遍历阶段，上位机通过对测试结果的判断，对测试流程进行控制，能够自动化、批量式地完成多个码流的烧写与测试。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112650139B
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202011459833.6
申请日：2020-12-11
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G05B19/05
Abstract: 一种面向DDR3存储协议的时钟控制器及控制方法，摒弃传统的时钟控制电路，采用负反馈结构减少时钟受工艺、温度、噪声引起的影响，结构包括数字延时锁相环、镜像对称延时链、格雷码相位选择器、格雷码相位插值器实现对时钟的精准控制、较低的相位误差和较少的锁定时间。本发明面向DDR3存储协议的时钟控制器可以实现DDR3时钟的64级TAP的精准延时，保证采样时钟延迟数据有效窗口的中心位置，提高高频时钟采样的稳定性和可靠性，时钟最高频率最高可达到800MHz。
-
公开(公告)号：CN108768394B
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN201711458673.1
申请日：2017-12-28
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: H03M1/10
Abstract: 一种数模混合微系统ADC单元动态参数测试系统，包括上位机和测试板；上位机负责测试结果显示及存储；测试板包括信号发生模块、信号调理模块、时钟产生模块、微系统ADC单元以及微系统FPGA单元；测试板负责产生微系统ADC单元输入信号和采样时钟，并完成ADC单元输出数据采集、存储及处理，最终得到微系统ADC单元主要动态性能参数。本发明充分利用微系统内部集成的FPGA单元高速数据处理能力，通过微系统FPGA单元对微系统ADC单元采样输出数据进行采集、存储及处理，减少额外数据传输的开销以及信号间的干扰，系统可以对数模混合微系统ADC单元动态参数进行可靠准确的测试。
-
公开(公告)号：CN113325744A
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN202110450232.7
申请日：2021-04-25
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G05B19/042
Abstract: 一种面向DDR3存储协议的校准控制器，摒弃传统的时钟控制电路，采用负反馈结构减少时钟受工艺、温度、噪声引起的影响，结构包括数字延迟锁相环、镜像多相位延时链、多相位选择器、高精度相位插值器实现对时钟的精准控制、较低的相位误差和较少的锁定时间。本发明面向DDR3存储协议的校准控制器在最高频率800MHz条件下可以实现DDR3时钟的128级TAP的精准延时，最高延迟精度可达到9.77ps，保证采样时钟延迟数据有效窗口的中心位置，提高DDR3高频时钟采样的稳定性和可靠性。
-
公开(公告)号：CN108388301B
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：CN201810139148.1
申请日：2018-02-11
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G05F1/575
Abstract: 一种抗单粒子加固数字低压差线性稳压器。使用数字方式实现，其中包括控制电路、细调比较器电路、粗调比较器电路、状态译码电路、粗调移位链、中调移位链、细调移位链、保持移位环、保持移位环、传输晶体管阵列等模块。通过将供电过程分为粗调、中调、细调三个阶段解决响应速度、电源纹波等问题：粗调阶段的快速搜索可以将响应速度提高数倍；细调阶段最小化传输晶体管的标准宽长优化电源纹波；中调阶段为粗调与细调的过渡与缓冲。采用加固单元、系统加固等多种方式对电路进行抗辐射加固。
-
公开(公告)号：CN112597009A
公开(公告)日：2021-04-02
申请号：CN202011480339.8
申请日：2020-12-15
Applicant: 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明涉及一种基于覆盖率排序的FPGA内嵌PCI Express IP核量产测试优化方法，具体步骤如下：步骤1：产生FPGA内嵌PCI Express IP核测试需要的测试向量集；步骤2：使用测试向量节点覆盖率统计算法对测试向量集中的每个测试向量进行节点覆盖率测算；步骤3：由步骤2得到测试向量集中节点覆盖率最高的单测试向量；步骤4：使用测试向量集排序算法基于步骤3得到的单测试向量，对原测试向量集进行排序优化，完成对测试向量集的优化。通过以上步骤，在不降低测试覆盖率的前提下，采用基于覆盖率排序的量产测试优化方法完成对测试向量集的排序优化，可以有效提高测试向量集的测试效率，缩短配置测试时间，降低配置测试成本。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
114
records
(took 0.056 seconds)
