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公开(公告)号：CN106408545A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201611139338.0
申请日：2016-12-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06T5/00
CPC classification number: G06T5/002 , G06T2207/20024
Abstract: 基于统计规律的生物图像去噪算法，属于光学显微技术与计量显微成像技术领域，本发明为解决传统的算法处理结果不能完整地去掉噪声，因而导致不满足工程需要，并且传统的算法处理图像时存在很多限制的问题。本发明包括选取滤波模板、细胞边缘和噪声监测、图像去噪处理三个步骤，具体过程为：采用生物显微镜采集生物细胞的RGB图像，选取滤波模板为均值滤波模板和高斯滤波模板；采用均值滤波模板和高斯滤波模板遍历采集到的整幅生物细胞图像，确定生物细胞边缘位置和孤立噪声点位置；对生物细胞边缘位置和孤立噪声点位置进行滤波处理，滤除孤立点噪声，保留生物细胞样品图，获得去噪后的生物细胞图像。本发明用于生物图像去噪。
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公开(公告)号：CN103604376B
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201310616973.3
申请日：2013-11-19
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/02
Abstract: 抗光学混叠的双频激光光栅干涉三维测量方法及系统属于光栅测量技术；该系统包括激光器、光栅干涉镜组、光电探测与信号处理单元，激光器同时输出的两束频率不同、空间分开的激光平行入射到偏振分光镜，第一束经偏振分光镜反射后入射到参考光栅形成多个级次的多束参考衍射光束，第二束经偏振分光镜透射后入射到测量光栅形成多束测量衍射光束，参考衍射光束中的五束依次分别和测量衍射光束中的(0，0)级、(0，±1)级、(±1，0)级光束对应汇合形成光学拍频，经光电探测与信号处理得到测量光栅的三维相对运动信息；该方法和系统消除了传统偏振分光不完全引起的光学频率混叠、偏振态混叠及相应的周期非线性误差。
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公开(公告)号：CN103759642B
公开(公告)日：2017-01-18
申请号：CN201410030737.8
申请日：2014-01-17
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于三芯光纤光栅的二维微尺度测量装置及方法属于精密仪器制造及测量技术领域；所述装置包括宽频光源、光谱分析仪、光环形器、控制计算机、多路光开关和外部参考光栅，三根单模光纤分别将多路光开关与三芯光纤扇出器连通，三芯光纤的一端连接在三芯光纤扇出器上，在三芯光纤的另一端部上通过探针夹持器固装三芯光纤光栅探针，所述三芯光纤与三芯光纤光栅探针连接形成通路；所述方法是控制计算机控制多路光开关切换光路，使用光谱分析仪分别测量光纤光栅的反射光谱，并利用差分数据处理算法，实现无温度耦合的二维微尺度测量。本发明具有精度高、接触力小、不受遮蔽效应影响、探针使用寿命长的特点。
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公开(公告)号：CN106323461A
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201510397099.8
申请日：2015-07-08
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 双轴干涉镜组分光特性检测方法属于激光应用技术领域；该方法将双频激光依次通过偏振器和待测双轴干涉镜组，使用光电探测器同时接收待测双轴干涉镜组两路输出的光强；通过旋转偏振器，使双路测量光强发生变化，根据测量得到的两路光强变化曲线求解双轴干涉镜组的等效能量透射率和等效能量反射率、放置旋转角度误差、激光光源的非正交角。本发明将双轴干涉镜组分光特性用等效能量透射率和能量反射率表示；采用双路同步测量方式，有效避免了测量中光源波动对测量结果的影响；在技术方面，方位角求解利用了两路光强比值的周期性和对称性，等效参数求解考虑了采集波动误差，利用最小二乘法精确拟合求解，有效提高了参数求解的稳定性和精度。
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公开(公告)号：CN106323199A
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201610639006.2
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域与光学工程领域，具体涉及一种组合调零激光大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同自准直工作范围下增加工作距离的优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有结构简单、制作成本低；在不稳定测量环境下同样能够测量；以及快速测量的技术优势。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103900470B
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201410118924.1
申请日：2014-03-20
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于三光纤共球耦合的微测量力瞄准传感器属于精密仪器制造及测量技术；该传感器包括激光器、扩束准直镜、光纤耦合透镜、导管、显微物镜b、CCD相机b、显微物镜a、CCD相机a、计算机和由入射光纤、耦合器、出射光纤a、出射光纤b组成的探针，耦合器作为探针的触点，光束经入射光纤导入耦合器后分别由出射光纤a和出射光纤b导出，导出光束分别经显微物镜a、显微物镜b进入CCD相机a、CCD相机b，通过图像处理技术即可得到两束出射光束分别在CCD上形成的光斑能量中心位置，由CCD相机上光斑能量中心位置与传感器触测点在空间位置的一一对应关系即可得出传感器在空间的瞄准情况；本传感器可测深径比大，具有三维探测能力。
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公开(公告)号：CN106247991A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201610638927.7
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01B11/26
CPC classification number: G01B11/26
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域，具体涉及便携式组合调零激光大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同自准直工作范围下增加工作距离的优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有小型便携、测量精度高；在不稳定测量环境下同样能够测量；以及快速测量的技术优势。
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公开(公告)号：CN106225727A
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201610638877.2
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01B11/26 , G01C15/002
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域，具体涉及阵列调零激光大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同自准直工作范围下增加工作距离的技术优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有结构简单、制作成本低；在不稳定测量环境下同样能够测量；以及快速测量的技术优势。
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公开(公告)号：CN106091990A
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201610638786.9
申请日：2016-08-07
Applicant: 哈尔滨工业大学
CPC classification number: G01B11/26 , G01C15/002
Abstract: 本发明属于精密测量技术领域和光学工程领域，具体涉及便携式阵列调零高动态精度大工作距自准直装置与方法；该装置由光源、准直镜、反射镜、以及反馈成像系统组成；该方法通过调整反射镜，使反射光束回到反馈成像系统像面中心，再利用反射镜上的角度偏转测量装置来得到被测物表面的角度变化；由于本发明在传统自准直角度测量系统上增加了反射镜，因此能够避免被测物反射光偏离测量系统而导致无法测量的问题，进而具有在相同工作距离下增加自准直工作范围，或在相同工作范围下增加工作距离的优势；此外，准直镜、反馈成像系统、反射镜等的具体设计，使本发明还具有小型便携、测量精度高；同时能够全程监测被测物装配过程；以及快速测量的技术优势。
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公开(公告)号：CN103438840B
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201310112783.8
申请日：2013-03-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
Abstract: 基于空间二维柔性铰链结构的精密测头姿态调整架属于超精密测量领域，调整装置的大L板与小L板之间、小L板与前调姿板之间均采用弹性片进行柔性连接，且均留有一定的间隙用于调节倾角，通过调节旋配在细牙螺母中的螺钉可以分别对测头装卡件的二维倾角进行精密调节；本发明具有二维倾角精密调节的特性，可有效解决超精密测量仪器对测头垂直度的要求。
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