公开(公告)号：CN105100682B

公开(公告)日：2018-12-25

申请号：CN201410180922.5

申请日：2014-04-30

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 顾嘉俊 ,  杨勇 ,  韩杰 ,  翟梓融 ,  凯文·G·哈丁 ,  宋桂菊 ,  贾明 ,  谢广平 ,  希尔·N·利姆

IPC: H04N7/18 ,  G01D21/00

Abstract: 本发明涉及一种管道镜，具体为具有导航功能的管道镜，其包括设有探测头及传感器的探测管和至少一个传感器、第一图像处理器、模型存储单元、位姿计算器、第二图像处理器、导航图像计算器和显示器。传感器用于接收探测管的信号并生成对应的感应信号。第一图像处理器用于根据探测头捕获的第一图像信号计算得到第一图像。模型存储单元用于存储被检测机械装置的预设模型。位姿计算器用于根据感应信号计算得到探测头的初始位姿。第二图像处理器用于调整初始位姿至导航位姿，以满足第一图像和第二图像之间的偏差落入允许范围。导航图像计算器用于根据导航位姿和预设模型计算得到导航图像。显示器用于显示导航图像。本发明还揭示一种用于导航管道镜的探测头的方法。

公开(公告)号：CN107523856A

公开(公告)日：2017-12-29

申请号：CN201610436866.6

申请日：2016-06-17

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 杨勇 ,  魏斌 ,  徐惠宇 ,  贾明 ,  高一博 ,  威廉·T·卡特 ,  安德鲁·L·崔默 ,  普拉布交特·辛格 ,  杨平海 ,  杨彦哲 ,  梅桑·萨拉舒-皮索尔坦

IPC: C25F3/16 ,  C25F7/00 ,  B22F3/105 ,  B33Y10/00 ,  B33Y30/00 ,  B33Y40/00 ,  B33Y80/00 ,  B29C67/04 ,  B29C67/06

Abstract: 本发明实施方式涉及一种对工件进行加工的系统，该工件包括内表面，该内表面定义内部通道。该系统包括位于内部通道中并与工件电绝缘的电极、电解液供应模块、电源模块及去除器。电解液供应模块用于使电解液在电极与工件之间的间隙中循环流动。电源模块用于施加电压于电极与工件之间以促进内表面的光滑。去除器用于在该内表面光滑后将电极从内部通道中完全地去除。本发明实施方式还提供一种对工件进行加工的方法及制品。

公开(公告)号：CN105334216A

公开(公告)日：2016-02-17

申请号：CN201410255206.9

申请日：2014-06-10

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 宋桂菊 ,  凯文·乔治·哈丁 ,  迪恩·迈克尔·鲁滨孙 ,  罗伦特·克里特葛尼 ,  瓦斯姆·艾不拉黑姆·菲迪 ,  小李察·罗伊·沃辛 ,  贾明 ,  杜晓明 ,  陶立 ,  蔡国双 ,  丽莎·卡姆达·阿曼

IPC: G01N21/88

Abstract: 公开了用于自动部件检查的方法与系统。用于部件检查的方法包括使用目视检查系统确定部件的潜在缺陷并生成缺陷图，该缺陷图包括潜在缺陷和与该潜在缺陷在部件上的潜在位置有关的信息。进一步，该方法包括根据潜在缺陷的严重性来分类缺陷图。分类取决于缺陷图和该部件的在先信息。该方法还包括基于潜在缺陷的第一组特性和分类的缺陷图来开发部件的检查策略。检查策略包括多个检查决策。该方法还包括基于该检查策略为部件进行的检查，生成在该部件上存在的一个或多个缺陷的缺陷信息。

公开(公告)号：CN103868541A

公开(公告)日：2014-06-18

申请号：CN201210525906.6

申请日：2012-12-07

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 陶立 ,  宋桂菊 ,  杨勇 ,  贾明 ,  韩杰

IPC: G01D21/00

Abstract: 本发明涉及一种具有导航功能的管道镜，其包括前端设有探测头的探测管、设于该探测管内的形状感应线缆、用于夹持该探测管的夹持定位装置、形状计算器及监视器。该形状感应线缆包括至少一根感应线及设置于该感应线上的若干应变传感器，该感应线还用于传输其上应变传感器感应到的应力变化信号。该夹持定位装置包括用于测量该探测头至该夹持定位装置之间的探测管的长度的长度测量单元。该形状计算器用于根据所述应变传感器感应到的应力变化信号及测量得到的探测头至该夹持定位装置之间的探测管的长度数据计算得出该探测头至该夹持定位装置之间的探测管的空间形状图像。该监视器用于显示该计算得出的空间形状图像。

公开(公告)号：CN101556143A

公开(公告)日：2009-10-14

申请号：CN200810084585.4

申请日：2008-04-09

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 陶立 ,  凯文·G·哈丁 ,  胡庆英 ,  宋桂菊 ,  郑建明 ,  克拉克·A·本多尔 ,  托马斯·卡本 ,  贾明

IPC: G01B11/24 ,  G01B11/25

Abstract: 本发明涉及一种探测装置及方法。该探测装置包括光源、光栅、可动的透明板、光纤传像束、成像装置及处理单元。光源可产生光线。光线穿过光栅可产生光栅图案。可动的透明板可把光栅图案转变为多个相移条纹图案。光纤传像束可把相移条纹图案投影到一个物体表面上而产生投影后的条纹图案。成像装置用来获得投影后的条纹图案的图像。处理单元可利用获得的图像对物体表面进行重建。

公开(公告)号：CN101469975A

公开(公告)日：2009-07-01

申请号：CN200710301395.9

申请日：2007-12-27

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 宋桂菊 ,  凯文·G·哈丁 ,  郑建明 ,  陶立 ,  杨波 ,  贾明 ,  胡庆英

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明涉及一种光学检测仪器和方法，该光学检测仪器是一种小视场光学检测仪器，可用以检测一表面上几微米的三维特征，该光学检测仪器包括产生一投射光路的光学投射装置、位于投射光路中改变该投射光并使其成为结构光的光栅装置、将所述结构光投射到所述表面上移动一定距离的相移装置、观察器以及计算机。观察器包括具有与该投射光路不平行的接收光路的光学接收系统和位于该接收光路中的相机，该相机用于观察并记录所述图像。计算机包括与相机之间的数据传输和基于反射图像所提供的表面轮廓信息进行轮廓测量建模的处理器。