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公开(公告)号：CN109901247A
公开(公告)日：2019-06-18
申请号：CN201910134962.9
申请日：2019-02-24
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明提出一种10.6μm激光窗口抗磁可加热薄膜膜系结构，包括红外基片、介质膜层、导电膜层和电极膜层；第一膜层为硫化锌膜层，镀制在所述红外基片的表面上，膜层厚度300～600nm；第二膜层为锗膜层，厚度654±1nm，镀制在第一膜层上；第三膜层为硫化锌膜层，厚度为1232±2nm；第四膜层为锗膜层，厚度618～643nm；第五层为导电膜层，厚度15±1nm；第六层为金属电极膜层，厚度200±5nm，镀制在红外基片镀膜面边缘并与第五层连通；第七膜层为锗膜层，厚度536～636nm；第八层为硫化锌膜层，厚度为1267～1419nm；第九层为锗膜层，厚度320～546nm；第十层为硫化锌膜层，厚度为540～625nm。通过在激光窗口上制备透明导电膜层，使窗口具有除冰和屏蔽电磁功能，提高激光制导系统抗冰霜和电磁能力。
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公开(公告)号：CN106546536A
公开(公告)日：2017-03-29
申请号：CN201610847242.3
申请日：2016-09-26
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01N21/17
CPC classification number: G01N21/171 , G01N2021/1712
Abstract: 本发明提出一种高精度薄膜弱吸收测试装置及方法，当平行探测光照射环形光阑，经过环形光阑的光成为环形光束；由泵浦光在薄膜样品上引起的温升在样品内部形成的“热透镜”，热透镜区域将直接引入一个位相因子，环形光束经透镜聚焦后通过热透镜区域；反射光经过辅助透镜调节使环形光束与相环大小一致，环形光束完全投影在相环上；这样直射光经过相环，衍射光经过相板其它部分；直射光与衍射光干涉叠加，使微小的相位差转变为较大的光强差，探测光强分布就能判断薄膜样品的吸收率。本发明在热透镜技术基础上引入相衬技术使热畸变信号得到放大，所以相比现有技术有更高的精度、稳定性，且操作简单。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110361799B
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN201910580498.6
申请日：2019-06-28
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明提供了一种反射1064nm激光、透过700nm‑900nm电视的二色性介质立方分光棱镜，把在斜面上镀有规整膜层与非规整膜层相结合分光膜的直角棱镜与未镀膜的直角棱镜使用某耐高温环氧树脂胶合在一起，得到一种高反1064nm激光、高透过700nm‑900nm电视波段的且具有一定抗激光损伤的二色性介质分光棱镜，规整与非规整膜层相结合的这种膜系，大部分激光优先从M与SiO2的规整膜层反射，减小了整个分光膜系的吸收，其与耐高温的环氧树脂胶结合有利于提高立方分光棱镜的抗激光损伤阈值。它可应用于共光路光电系统中包含电视、激光双波段的探测，且其较高的抗激光损伤阈值有利于应用在激光压制光电设备中。
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公开(公告)号：CN111025446A
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201911262179.7
申请日：2019-12-10
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明提出一种红外二元光学器件及电磁屏蔽网栅制备方法，利用透明导电氧化物材料在不同加热温度下电阻率不同的现象，采用高能粒子束直写技术按照设计图案加热薄膜特定位置制备非刻蚀二元红外衍射光学元件及电磁屏蔽网栅。该方法具有工艺简单，不需要刻蚀，成本低，光散射小及易制备器件结构深宽比要求大的器件的优点。
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公开(公告)号：CN106546536B
公开(公告)日：2019-05-31
申请号：CN201610847242.3
申请日：2016-09-26
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01N21/17
Abstract: 本发明提出一种高精度薄膜弱吸收测试装置及方法，当平行探测光照射环形光阑，经过环形光阑的光成为环形光束；由泵浦光在薄膜样品上引起的温升在样品内部形成的“热透镜”，热透镜区域将直接引入一个位相因子，环形光束经透镜聚焦后通过热透镜区域；反射光经过辅助透镜调节使环形光束与相环大小一致，环形光束完全投影在相环上；这样直射光经过相环，衍射光经过相板其它部分；直射光与衍射光干涉叠加，使微小的相位差转变为较大的光强差，探测光强分布就能判断薄膜样品的吸收率。本发明在热透镜技术基础上引入相衬技术使热畸变信号得到放大，所以相比现有技术有更高的精度、稳定性，且操作简单。
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公开(公告)号：CN104634760A
公开(公告)日：2015-05-20
申请号：CN201510078340.0
申请日：2015-02-13
Applicant: 西安应用光学研究所
IPC: G01N21/47
Abstract: 本发明提出一种光学薄膜应力的测试装置及测试方法，通过表面声波发生器在所制备的长条样品的正面和背面的特定位置产生频率相同的表面声波，表面声波对入射光而言相当于一个衍射光栅，当没有镀膜时，基底正背面表面声波波长相等形成对称的衍射光栅，衍射零级或±1级光强分布均匀，当镀膜后，应力使基底弯曲，由于两面声波速率变化导致正背面声波波长不同，衍射光栅不再对称，导致零级或±1级衍射光强分布不再均匀，产生光强周期性分布，根据周期的大小换算成基底的弯曲曲率，再根据Stoney公式计算出薄膜的应力。本发明结构简单、制作简便、灵敏度高，消除了传统基底弯曲法的系统误差，可应用于透明基底上制备的所有薄膜应力的检测。
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公开(公告)号：CN220543148U
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202321407954.5
申请日：2023-06-05
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本实用新型属于光电信息领域，公开了一种紫外滤光器件。所述紫外滤光器件是由透紫外的棱镜及其4个表面上的薄膜组成。垂直入射到棱镜A面的光进入棱镜内部，后经过B面高反射膜，被反射至C面，经过C面的负滤光膜之后，日盲紫外波段(250nm～270nm)的光被反射到D面，最后日盲紫外光从4面垂直出射，而其余波长的光被C面透射至另一个方向，从而实现从宽波段中筛选日盲紫外光的滤光效果。本方案能够避免采用传统滤光片镀膜方法而导致的薄膜材料吸收造成日盲紫外波段信号太低的问题，制备难度较低，对日盲紫外光的能量损耗较小；制造成本低、加工技术成熟、材料易于获得，适合批量生产。
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