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公开(公告)号：CN108507487B
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201711161577.0
申请日：2017-11-20
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明的光学计测装置不论计测对象物的表面形状如何，均可准确地计测出计测对象物的表面形状。处理部(70、70b)对于与各个芯材(241、242、…、24N)对应的各个反射光，根据反射光来算出光学系统(40)与计测对象物(80)的距离。对于各个反射光，将表示距离的值与阈值进行比较。当在与所有芯材(241、242、…、24N)对应的反射光中，表示距离的值为阈值以上、或表示距离的值小于阈值时，算出所有表示距离的值的平均值。当在与一部分芯材对应的反射光中，表示距离的值为阈值以上，而在与一部分芯材以外的芯材对应的反射光中，表示距离的值小于阈值时，算出阈值以上的表示距离的值的平均值、或小于阈值的表示距离的值的平均值。
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公开(公告)号：CN107300393A
公开(公告)日：2017-10-27
申请号：CN201710201760.2
申请日：2017-03-30
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01D5/26
Abstract: 本发明提供一种光学式传感器安装用适配器及其安装位置的调整方法，用以根据使用环境来对光学式传感器的温度特性进行调整。适配器是用以将光学式传感器的传感头安装于安装部位的适配器。适配器包括：传感器设置面，用以将传感头设置于适配器；以及安装面，位于传感器设置面的相反侧，以将传感头与适配器一起安装于安装部位。在传感器设置面中，形成有用以将传感头固定于传感器设置面的固定孔。在适配器中，形成有贯穿传感器设置面与安装面的安装孔。安装孔相对于固定孔而形成在传感头的光投射接收面侧，以及相对于固定孔而形成在光投射接收面的相反侧(背面侧)。
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公开(公告)号：CN110672034B
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN201910999860.3
申请日：2017-01-17
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明的一个方面的光学测量装置(1)包括：光源(10)，其产生具有多个波长成分的照射光；传感器头部(30)，其使从光源发出的照射光产生轴向色差，并接收从至少一部分配置在光轴的延长线上的测量对象(2)反射的反射光；光接收部(40)，其将由传感器头部接收的反射光分离成各波长成分，并接收各波长成分的光；导光部(20)，其将光源(10)、光接收部以及传感器头部光学性地连接；以及处理部(50)，其基于光接收部中的各波长成分的受光量，计算从光学系统到测量对象的距离。处理部将光接收波形中的多个波长成分的各受光量与受光量的基准值比较，基于该比较结果，判断是否正常测定到所述测量对象的所述距离。
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公开(公告)号：CN108375349B
公开(公告)日：2020-12-18
申请号：CN201711045907.X
申请日：2017-10-31
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/26
Abstract: 提供便利性优越的倾斜测定装置。倾斜测定装置(1)具备：光学系列(传感器头30)，其向测量对象物(2)照射来自光源(10)的照射光，并且接收来自测量面的反射光；受光部(40)，其包含将所述反射光分离为各波长成分的至少1个分光器(42)及具有多个受光元件的检测器(44)；包含多个缆芯的导光部(20)；以及处理部(50)，其根据与所述测量面上多个位置上的多个照射光相对应的反射光，来计算测量面的倾斜角度。
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公开(公告)号：CN108375349A
公开(公告)日：2018-08-07
申请号：CN201711045907.X
申请日：2017-10-31
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/26
Abstract: 提供便利性优越的倾斜测定装置。倾斜测定装置(1)具备：光学系列(传感器头30)，其向测量对象物(2)照射来自光源(10)的照射光，并且接收来自测量面的反射光；受光部(40)，其包含将所述反射光分离为各波长成分的至少1个分光器(42)及具有多个受光元件的检测器(44)；包含多个缆芯的导光部(20)；以及处理部(50)，其根据与所述测量面上多个位置上的多个照射光相对应的反射光，来计算测量面的倾斜角度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104797904B
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201380059806.1
申请日：2013-11-14
Applicant: 欧姆龙株式会社
CPC classification number: G01B11/026 , G01B2210/50 , G01C3/06
Abstract: 本发明提供一种作为位移测量装置的共焦点测量装置(100)。该共焦点测量装置(100)具有：白色LED(21)，出射多个波长的光；头部(10)，以衍射透镜(2)、物镜(3)、开口作为共焦点光学系统而构成；移动机构(40)，使头部(10)沿着共焦点测量装置(100)的测量轴(Z轴)方向移动；测量部(控制器部(20))。共焦点测量装置(100)使头部(10)与测量对象物(200)之间的距离变化，来取得通过开口的光的光谱的极大点。共焦点测量装置(100)将该极大点成为分光反射特性的极大点或者极小点时的距离，设定为当测量位移时的头部(10)与测量对象物之间的基准距离。
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公开(公告)号：CN107228635A
公开(公告)日：2017-10-03
申请号：CN201710034921.3
申请日：2017-01-17
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明的一个方面的光学测量装置(1)包括：光源(10)，其产生具有多个波长成分的照射光；传感器头部(30)，其使从光源(10)发出的照射光产生轴向色差，并接收从至少一部分配置在光轴的延长线上的测量对象(2)反射的反射光；光接收部(40)，其将由传感器头部(30)接收的反射光分离成各波长成分，并接收各波长成分的光；导光部(20)，其将光源(10)、光接收部(40)以及传感器头部(30)光学性地连接；以及处理部(50)，其基于光接收部(40)中的各波长成分的受光量，计算从光学系统到测量对象的距离。处理部(50)将光接收波形中的多个波长成分的各受光量与受光量的基准值比较，当多个波长成分中的每个波长成分的所述受光量相对于基准值的变化量均为预设的阈值以上时，检测出所述光接收波形的异常。
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公开(公告)号：CN103673887B
公开(公告)日：2017-07-18
申请号：CN201310226389.7
申请日：2013-06-07
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01B11/02
CPC classification number: G01B9/04 , G01B11/24 , G01B2210/50 , G02B21/0024 , G02B21/006 , G02B21/0064
Abstract: 本发明提供一种能够达到高计测精度的共聚焦计测装置。共聚焦计测装置（101）具有：光源（21），其出射多个波长的光；衍射透镜（1），其使来自光源（21）的光产生色像差；物镜（2），其将产生了色像差的光聚集到计测对象物（200）；针孔（光纤（11）），其使聚焦的光通过；测定部（光谱仪（23）及摄像元件（24）），其针对不同的波长测定光的强度。衍射透镜（1）具有形成有用于产生色像差的衍射图案的衍射面（1a）和位于衍射面（1a）的相反一侧的平面（1b）。在衍射透镜（1）的平面（1b）配置有以衍射透镜（1）的光轴（X）为中心的圆形的遮光膜（4）。
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公开(公告)号：CN101300485A
公开(公告)日：2008-11-05
申请号：CN200680040778.9
申请日：2006-10-30
Applicant: 欧姆龙株式会社
CPC classification number: G01N2291/02827
Abstract: 以其一侧的面与输送线(30)上的输送面一致的方式安装延迟构件(3)。加压辊(34)配置在相对于延迟构件(3)的一侧的面垂直的上方，并且，其长轴方向配置在与输送线(30)的输送方向直交的方向。并且，加压辊(34)的两端分别与加压部(32_1，32_2)连接。加压部(32_1，32_2)根据加压指令，对输送线(30)的输送面，从垂直上方向垂直下方，直线状的驱动加压辊(34)，对测定对象(SMP)进行加压。
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公开(公告)号：CN107300393B
公开(公告)日：2020-11-10
申请号：CN201710201760.2
申请日：2017-03-30
Applicant: 欧姆龙株式会社
IPC: G01D5/26
Abstract: 本发明提供一种光学式传感器安装用适配器及其安装位置的调整方法，用以根据使用环境来对光学式传感器的温度特性进行调整。适配器是用以将光学式传感器的传感头安装于安装部位的适配器。适配器包括：传感器设置面，用以将传感头设置于适配器；以及安装面，位于传感器设置面的相反侧，以将传感头与适配器一起安装于安装部位。在传感器设置面中，形成有用以将传感头固定于传感器设置面的固定孔。在适配器中，形成有贯穿传感器设置面与安装面的安装孔。安装孔相对于固定孔而形成在传感头的光投射接收面侧，以及相对于固定孔而形成在光投射接收面的相反侧(背面侧)。
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