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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107851610A
公开(公告)日：2018-03-27
申请号：CN201680045200.6
申请日：2016-06-20
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
IPC: H01L21/822 , H01L21/8234 , H01L27/04 , H01L27/06
CPC classification number: H01M10/0431 , H01L21/77 , H01L21/822 , H01L21/8234 , H01L27/04 , H01L27/06
Abstract: 提供一种能够在多个芯片上同时且均匀地制造氧化物半导体二次电池的制造方法。其为在电路上层叠有层叠第一电极(52)、充电功能层(54、56、58)和第二电极(60)而成的氧化物半导体二次电池的芯片的制造方法，具备：层叠工序，其相对于对应于形成于晶片(20)上的多个芯片22的各芯片(22)的区域不是单个地形成氧化物半导体二次电池、而是相对于对应于多个芯片(22)的区域一体地层叠并形成氧化物半导体二次电池；以及，分割工序，其相对于一体地形成的氧化物半导体二次电池，进行保留对应于各芯片(22)的区域、除去不对应于各芯片(22)的其它区域的图案蚀刻，从而分隔为对应于各芯片(22)的单个氧化物半导体二次电池(50-1、50-2)。
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公开(公告)号：CN104237578B
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201410262345.4
申请日：2014-06-12
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
CPC classification number: G01R1/07314 , G01B21/08 , G01R1/07307 , G01R3/00 , G01R31/2863 , G01R31/2874
Abstract: 本发明提供一种与两个测定温度相对应的探针卡及其制造方法。为了对配置在安装有热源的作业台上的被检查体进行电气试验而探针卡将被检查体的电极和测试器连接。探针卡包括：形成有与测试器相连接的导电路径的电路基板；形成有与该电路基板的上述导电路径相对应的导电路径并设有与导电路径相连接的探针的探针基板；热膨胀调整构件，其与探针基板相结合，并为了限制探针基板的热伸缩而具有与探针基板的线膨胀系数不同的线膨胀系数，热膨胀调整构件和探针基板构成复合体。如下进行设定：若在被检查体处于两个测定温度时复合体处于相对应的到达温度，则使各测定温度与相对应的到达温度之间的温度差的情况下的被检查体和复合体的伸缩变化量大致相等。
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公开(公告)号：CN104247583B
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201380019587.4
申请日：2013-02-28
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
CPC classification number: H05K1/0298 , H05K1/0233 , H05K1/0242 , H05K1/025 , H05K1/09 , H05K3/46 , H05K2201/0154 , H05K2201/0338 , H05K2201/0391 , H05K2201/0776 , H05K2201/0792 , H05K2201/083 , Y10T29/49155
Abstract: 本发明的课题是提供一种特性阻抗的调整较为容易的、能够与端子的窄间距化进行对应的多层配线基板及其制造方法以及探针卡。通过提供以下多层配线基板及其制造方法以及探针卡来解决上述的课题：一种在基板上将多个配线层夹着绝缘层地进行叠层而成的多层配线基板，在所述配线层上所形成的配线是由第一层和第二层组成的二层结构的配线，所述第一层由第一导电材料构成，所述第二层由比所述第一导电性材料的相对磁导率大的第二导电性材料构成，通过设为所述二层结构，相比于与所述二层结构的配线相同厚度的配线仅由所述第一导电性材料构成的情况，所述配线的特性阻抗被调整为更接近50欧姆的值。
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公开(公告)号：CN105164846A
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN201480018729.X
申请日：2014-04-03
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司 , 刮拉技术有限公司
CPC classification number: H01M2/202 , H01M2/204 , H01M2/22 , H01M2/266 , H01M10/0436 , H01M10/052 , H01M10/0562 , H01M10/0585
Abstract: 本发明提供一种结构，当薄膜固体二次电池的电池单元被堆叠时，该结构具有被限制的厚度和高密度。相邻的电池单元被堆叠，以致负电极彼此接触且正电极彼此接触，并且被设置为拔出的引出电极被夹在两个彼此接触的负电极之间或者两个彼此接触的正电极之间，该拔出的引出电极小于负电极表面或正电极表面，并且被夹在不同层电极之间的引出电极被设置为当从平面布置中观看时不存在所有引出电极彼此同时重叠的区域。至于引出电极的形状，可以是带状引出电极以及线状引出电极。此外，形成电极的导电片被延伸以同样作为拔出的电极，因此能够减少引出电极数量。
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公开(公告)号：CN104237578A
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201410262345.4
申请日：2014-06-12
Applicant: 日本麦可罗尼克斯股份有限公司
CPC classification number: G01R1/07314 , G01B21/08 , G01R1/07307 , G01R3/00 , G01R31/2863 , G01R31/2874
Abstract: 本发明提供一种与两个测定温度相对应的探针卡及其制造方法。为了对配置在安装有热源的作业台上的被检查体进行电气试验而探针卡将被检查体的电极和测试器连接。探针卡包括：形成有与测试器相连接的导电路径的电路基板；形成有与该电路基板的上述导电路径相对应的导电路径并设有与导电路径相连接的探针的探针基板；热膨胀调整构件，其与探针基板相结合，并为了限制探针基板的热伸缩而具有与探针基板的线膨胀系数不同的线膨胀系数，热膨胀调整构件和探针基板构成复合体。如下进行设定：若在被检查体处于两个测定温度时复合体处于相对应的到达温度，则使各测定温度与相对应的到达温度之间的温度差的情况下的被检查体和复合体的伸缩变化量大致相等。
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