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公开(公告)号：CN101178905A
公开(公告)日：2008-05-14
申请号：CN200710152182.4
申请日：2007-09-14
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: G11B5/40 , G11B5/3136 , G11B5/6064
Abstract: 本发明提供了一种用于磁头滑块接触判断的装置和磁头滑块接触判断方法。AC电源被连接到安装在磁头滑块上的写线圈，用于判断磁头滑块与存储介质的接触。该AC电源输出具有特定频率的交流电流。测量电路测量被提供给写线圈的电流的指标序列。与该特定频率相对应的分量被从指标序列中抽取出。这消除了与除该特定频率之外的频率相对应的分量，即，噪声。检测电路基于在该特定频率处出现的序列的幅度的改变，检测磁头滑块和存储介质之间的接触。从而可以可靠地检测出磁头滑块和存储介质之间的接触。
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公开(公告)号：CN101046974A
公开(公告)日：2007-10-03
申请号：CN200610099340.X
申请日：2006-07-17
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: G11B5/455 , G11B5/6005 , G11B5/6064 , G11B2220/2512 , G11B2220/2516
Abstract: 本发明公开了一种头部检查装置和其方法。在用于判断用在记录和再现设备中的记录和再现头部的可接受性的检查中，获取指示头部单元的数据信号的质量的质量信息和指示头部单元的飞行高度的飞行高度信息，并通过质量和飞行高度的组合判断头部单元的可接受性。
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公开(公告)号：CN101046966A
公开(公告)日：2007-10-03
申请号：CN200610099336.3
申请日：2006-07-17
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: G11B5/6029 , G11B5/6005 , G11B2220/2516
Abstract: 首先，为了检查设备的噪声电平，将DC擦除应用于磁性记录介质并对磁性记录介质进行读取。然后，将包括一阶分量和三阶谐波频率的测试信号写入到磁性记录介质。读取写入的测试信号并且将傅立叶变换应用于读取的信号以获得一阶和三阶谐波分量的各自幅度。然后确定三阶谐波分量的幅度与获得的噪声电平相比是否足够大。如果幅度足够大，则同时使用一阶和三阶谐波分量来估算磁头飞行高度。如果幅度不是足够大，则仅使用一阶分量来估算磁头飞行高度。
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公开(公告)号：CN1841506A
公开(公告)日：2006-10-04
申请号：CN200510087398.8
申请日：2005-07-29
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: G11B5/3133 , G11B5/3106 , G11B5/40 , G11B5/6005
Abstract: 本发明公开了一种与磁盘的表面相对布置的磁头滑块，其包括滑块主体、从所述磁盘读取和再现数据的磁头元件、以及振动吸收单元，其中所述振动吸收单元吸收由于所述滑块主体的任何部分与所述磁盘的表面之间的接触所产生的振动，并且所述振动吸收单元被设置在所述滑块主体上的预定位置处。
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公开(公告)号：CN1352790A
公开(公告)日：2002-06-05
申请号：CN99816725.8
申请日：1999-07-07
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G11B5/39
CPC classification number: B82Y25/00 , B82Y10/00 , G11B5/3113 , G11B5/3903 , G11B2005/3996
Abstract: 本发明的目的在于提供一种用于再现以高记录密度记录在记录介质上的信息并能抑制巴克豪森噪声产生的磁阻效应型磁头。这种磁阻效应型磁头具有一能呈现随外部磁场强度而定的电阻变化的磁阻效应元件,用于检测该磁阻效应元件的电阻幅度从而检测磁场强度。所述磁阻效应元件由一平的多层薄膜组成,其中一根据外部磁场而改变磁化方向的自由磁性层被设置在最底层。这种磁阻效应型磁头包括:一非磁性基底;一与所述自由磁性层基底一侧上的下表面中央部分相接触的绝缘层;用于引导电流通过所述磁阻效应元件的一对电极层,该对电极层被形成在将所述绝缘层插入其间且与所述自由磁性层基底一侧上的下表面的两个边缘部分接触的位置上,并且被形成为与所述绝缘层具有相同的表面高度;以及用于抑制所述自由磁性层的磁畴壁移动的一对磁畴壁控制层,该对磁畴壁控制层被形成为将所述磁阻效应元件插入其间而伸展。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1141474A
公开(公告)日：1997-01-29
申请号：CN96105520.0
申请日：1996-03-01
Applicant: 富士通株式会社
IPC: G11B5/31
CPC classification number: G11B5/6005 , G11B5/488 , G11B5/54 , H02N1/008 , Y10T29/49041 , Y10T29/49812
Abstract: 一种制造薄膜磁头滑板的方法，该磁头滑板具有相对于记录媒体的媒体相对表面，跟踪机构设置在滑板上，用于驱动上述机构的静电致动器包括有固定部件，该固定部件具有多个相互平行的齿，可移动部件也具有多个齿，这些齿平行于上述固定部件的齿，支承弹簧支承上述可移动部件，因此可移动部件能够相对于上述固定部件移动。
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公开(公告)号：CN100456360C
公开(公告)日：2009-01-28
申请号：CN200510077628.2
申请日：2005-06-17
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: B82Y10/00 , G11B5/59688 , G11B5/743 , G11B5/84 , G11B5/855 , G11B5/865 , Y10T428/32
Abstract: 本发明公开了一种制造磁记录介质的方法和用于其的模具。在衬底上的磁层表面上形成阻挡膜。在磁层表面上覆盖模具。该模具包括围绕槽交替布置在平坦表面上的磁区域和非磁区域。使所述阻挡膜凸出，以使得平坦表面驱动阻挡膜进入模具的槽中。在保持模具与磁层接触的同时槽内的阻挡膜固化。向与磁层接触的模具施加磁场。从磁区域泄漏的磁场作用在磁层上。于是基于所泄漏的磁场来将磁信息写入磁层中。可以基于固化的阻挡膜在磁层中建立记录轨道。
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公开(公告)号：CN100437757C
公开(公告)日：2008-11-26
申请号：CN200510077629.7
申请日：2005-06-17
Applicant: 富士通株式会社
Abstract: 本发明公开了一种检测用于记录介质的磁头位置的方法及记录介质驱动器。磁头在记录介质上的分隔轨道和记录轨道之间的边界上沿横向移动。分隔轨道将相邻的记录轨道彼此隔离。检测基于记录轨道从磁头提供的输出中的变化。基于所述变化产生表示磁头位置的位置信息。从磁头提供的输出响应于所述横向上的移动即间歇时间而变化。由此可以基于输出中的变化产生位置信息。产生的位置信息有助于在方便的方式下精确定位。此外，可以从所述记录介质中省略定位磁头所需要的信息。在所述记录介质的制造中可以简化工艺。操作时间由此可以缩短。
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公开(公告)号：CN101064170A
公开(公告)日：2007-10-31
申请号：CN200610139767.8
申请日：2006-09-25
Applicant: 富士通株式会社
CPC classification number: G11B5/6005 , G11B5/6064
Abstract: 一种对信息记录/再现设备中的磁头与记录介质之间的间隙进行检测的方法，所述信息记录/再现设备利用所述磁头向所述记录介质记录信息和从所述记录介质再现信息。在该方法中，磁头与记录介质之间的间隙被交替地增大和减小，从而逐渐地减小磁头与记录介质之间的间隙。用来确定磁头或支撑磁头的滑块与记录介质之间的接触的检测信号被检测。当确定了磁头或滑块已经接触记录介质时，磁头被停止并被从记录介质移开到指定位置，并且表示为接触记录介质磁头已经移动的距离的数据被获取。
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