公开(公告)号：CN101178905A

公开(公告)日：2008-05-14

申请号：CN200710152182.4

申请日：2007-09-14

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 伊海佳昭 ,  今村孝浩 ,  藤卷徹 ,  横畑徹

IPC: G11B5/455 ,  G11B21/21 ,  G11B5/60

CPC classification number: G11B5/40 ,  G11B5/3136 ,  G11B5/6064

Abstract: 本发明提供了一种用于磁头滑块接触判断的装置和磁头滑块接触判断方法。AC电源被连接到安装在磁头滑块上的写线圈，用于判断磁头滑块与存储介质的接触。该AC电源输出具有特定频率的交流电流。测量电路测量被提供给写线圈的电流的指标序列。与该特定频率相对应的分量被从指标序列中抽取出。这消除了与除该特定频率之外的频率相对应的分量，即，噪声。检测电路基于在该特定频率处出现的序列的幅度的改变，检测磁头滑块和存储介质之间的接触。从而可以可靠地检测出磁头滑块和存储介质之间的接触。

公开(公告)号：CN1975916A

公开(公告)日：2007-06-06

申请号：CN200610132260.X

申请日：2006-10-13

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 横畑徹 ,  岩濑健 ,  上野隆久 ,  井垣诚吾 ,  今村孝浩 ,  藤卷徹

IPC: G11B21/00 ,  G11B21/21 ,  G11B5/02 ,  G11B5/455 ,  G11B5/60

CPC classification number: G11B5/6005 ,  G11B5/6064

Abstract: 本发明提供了检测接触的设备和方法及读写头制造方法。在用于检测读写头与记录介质的接触的接触检测设备中，信号写入单元将包括至少一个预定频率分量的信号写到记录介质上；并且接触检测单元通过在改变读写头与记录介质之间的间隔的同时读取写在记录介质上的所述信号，根据所述预定频率分量的幅值来检测读写头与记录介质的接触。

公开(公告)号：CN101064170A

公开(公告)日：2007-10-31

申请号：CN200610139767.8

申请日：2006-09-25

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 伊海佳昭 ,  饭田安津夫 ,  今村孝浩 ,  藤卷徹 ,  横畑徹

IPC: G11B21/21 ,  G11B5/60

CPC classification number: G11B5/6005 ,  G11B5/6064

Abstract: 一种对信息记录/再现设备中的磁头与记录介质之间的间隙进行检测的方法，所述信息记录/再现设备利用所述磁头向所述记录介质记录信息和从所述记录介质再现信息。在该方法中，磁头与记录介质之间的间隙被交替地增大和减小，从而逐渐地减小磁头与记录介质之间的间隙。用来确定磁头或支撑磁头的滑块与记录介质之间的接触的检测信号被检测。当确定了磁头或滑块已经接触记录介质时，磁头被停止并被从记录介质移开到指定位置，并且表示为接触记录介质磁头已经移动的距离的数据被获取。