公开(公告)号：CN101034551A

公开(公告)日：2007-09-12

申请号：CN200610107858.3

申请日：2006-07-26

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 今村孝浩 ,  横畑徹

IPC: G11B5/012 ,  G11B5/60 ,  G11B21/21

CPC classification number: G11B5/6029 ,  G11B5/6005

Abstract: 浮起高度测量装置及测量方法。提供了一种新的用于无需特定磁象而测量读取头的浮起高度的装置，即，一种用在包括读取头的盘驱动器内的读取头浮起高度测量装置，包括：信号重放单元(300)，用于重放来自读取头的信号；滤波器单元(320，322)，连接到所述信号重放单元，用于对经重放的信号进行滤波；振幅检测单元(330，332)，连接到多个滤波器单元中的每一个，用于从经滤波的重放信号中检测最大振幅或接近该最大振幅的代表值；以及计算单元(340)，用于利用所述振幅检测单元所检测到的最大振幅或接近该最大振幅的代表值来计算盘驱动器内的读取头的浮起高度。

公开(公告)号：CN101064170A

公开(公告)日：2007-10-31

申请号：CN200610139767.8

申请日：2006-09-25

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 伊海佳昭 ,  饭田安津夫 ,  今村孝浩 ,  藤卷徹 ,  横畑徹

IPC: G11B21/21 ,  G11B5/60

CPC classification number: G11B5/6005 ,  G11B5/6064

Abstract: 一种对信息记录/再现设备中的磁头与记录介质之间的间隙进行检测的方法，所述信息记录/再现设备利用所述磁头向所述记录介质记录信息和从所述记录介质再现信息。在该方法中，磁头与记录介质之间的间隙被交替地增大和减小，从而逐渐地减小磁头与记录介质之间的间隙。用来确定磁头或支撑磁头的滑块与记录介质之间的接触的检测信号被检测。当确定了磁头或滑块已经接触记录介质时，磁头被停止并被从记录介质移开到指定位置，并且表示为接触记录介质磁头已经移动的距离的数据被获取。

公开(公告)号：CN101154426A

公开(公告)日：2008-04-02

申请号：CN200710142023.6

申请日：2007-08-20

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 伊海佳昭 ,  横畑徹 ,  今村孝浩 ,  山本宪郎

IPC: G11B21/21 ,  G11B5/596

CPC classification number: G11B5/486 ,  G11B5/4853 ,  G11B5/5552

Abstract: 本发明提供了一种能够减少与磁头滑块有关的布线的存储介质驱动器。第一布线将第一致动器连接到磁头滑块上的控制电路。第二布线将第二致动器与第一致动器并联地连接到第一布线。第一整流元件被插入在第一布线中。第二整流元件被插入第二布线中。当电压沿第一方向被施加到第一和第二布线时，所述电压对第一布线起作用。只允许第一致动器接收电压。当电压沿与第一方向相反的第二方向被施加到第一和第二布线时，电压对第二布线起作用。只允许第二致动器接收沿第二方向的电压。

公开(公告)号：CN1975916A

公开(公告)日：2007-06-06

申请号：CN200610132260.X

申请日：2006-10-13

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 横畑徹 ,  岩濑健 ,  上野隆久 ,  井垣诚吾 ,  今村孝浩 ,  藤卷徹

IPC: G11B21/00 ,  G11B21/21 ,  G11B5/02 ,  G11B5/455 ,  G11B5/60

CPC classification number: G11B5/6005 ,  G11B5/6064

Abstract: 本发明提供了检测接触的设备和方法及读写头制造方法。在用于检测读写头与记录介质的接触的接触检测设备中，信号写入单元将包括至少一个预定频率分量的信号写到记录介质上；并且接触检测单元通过在改变读写头与记录介质之间的间隔的同时读取写在记录介质上的所述信号，根据所述预定频率分量的幅值来检测读写头与记录介质的接触。

公开(公告)号：CN101178905A

公开(公告)日：2008-05-14

申请号：CN200710152182.4

申请日：2007-09-14

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 伊海佳昭 ,  今村孝浩 ,  藤卷徹 ,  横畑徹

IPC: G11B5/455 ,  G11B21/21 ,  G11B5/60

CPC classification number: G11B5/40 ,  G11B5/3136 ,  G11B5/6064

Abstract: 本发明提供了一种用于磁头滑块接触判断的装置和磁头滑块接触判断方法。AC电源被连接到安装在磁头滑块上的写线圈，用于判断磁头滑块与存储介质的接触。该AC电源输出具有特定频率的交流电流。测量电路测量被提供给写线圈的电流的指标序列。与该特定频率相对应的分量被从指标序列中抽取出。这消除了与除该特定频率之外的频率相对应的分量，即，噪声。检测电路基于在该特定频率处出现的序列的幅度的改变，检测磁头滑块和存储介质之间的接触。从而可以可靠地检测出磁头滑块和存储介质之间的接触。

公开(公告)号：CN101046974A

公开(公告)日：2007-10-03

申请号：CN200610099340.X

申请日：2006-07-17

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 今村孝浩 ,  窪寺裕之 ,  横畑徹

IPC: G11B5/455 ,  G11B5/60 ,  G11B21/21

CPC classification number: G11B5/455 ,  G11B5/6005 ,  G11B5/6064 ,  G11B2220/2512 ,  G11B2220/2516

Abstract: 本发明公开了一种头部检查装置和其方法。在用于判断用在记录和再现设备中的记录和再现头部的可接受性的检查中，获取指示头部单元的数据信号的质量的质量信息和指示头部单元的飞行高度的飞行高度信息，并通过质量和飞行高度的组合判断头部单元的可接受性。

公开(公告)号：CN101046966A

公开(公告)日：2007-10-03

申请号：CN200610099336.3

申请日：2006-07-17

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 横畑徹 ,  今村孝浩 ,  饭田安津夫

IPC: G11B5/012 ,  G11B5/60 ,  G11B21/21

CPC classification number: G11B5/6029 ,  G11B5/6005 ,  G11B2220/2516

Abstract: 首先，为了检查设备的噪声电平，将DC擦除应用于磁性记录介质并对磁性记录介质进行读取。然后，将包括一阶分量和三阶谐波频率的测试信号写入到磁性记录介质。读取写入的测试信号并且将傅立叶变换应用于读取的信号以获得一阶和三阶谐波分量的各自幅度。然后确定三阶谐波分量的幅度与获得的噪声电平相比是否足够大。如果幅度足够大，则同时使用一阶和三阶谐波分量来估算磁头飞行高度。如果幅度不是足够大，则仅使用一阶分量来估算磁头飞行高度。