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公开(公告)号：CN116678839B
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202310857581.X
申请日：2023-07-13
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种发光材料检测方法、装置、终端设备以及存储介质，涉及材料检测领域，其方法包括：获取待检测发光材料的预测光谱信息；将所述预测光谱信息输入到预先创建的光谱分析模型进行预测，得到所述待检测发光材料的预测发光信息。本发明简化发光材料的检测步骤，提高了发光材料的检测效率。
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公开(公告)号：CN116678839A
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202310857581.X
申请日：2023-07-13
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种发光材料检测方法、装置、终端设备以及存储介质，涉及材料检测领域，其方法包括：获取待检测发光材料的预测光谱信息；将所述预测光谱信息输入到预先创建的光谱分析模型进行预测，得到所述待检测发光材料的预测发光信息。本发明简化发光材料的检测步骤，提高了发光材料的检测效率。
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公开(公告)号：CN119147107A
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN202411597953.0
申请日：2024-11-11
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种波长测量方法、设备、存储介质及计算机程序产品，涉及光电技术领域，波长测量设备包括依次沿光路设置的光束导入口、光束准直筒镜、针孔安置筒镜、光电检测部件，光电检测部件与主控部件之间通信连接，设置待检光源，使得待检光源发出的光线依次经过光束导入口、光束准直筒镜和针孔安置筒镜，发生衍射；通过光电检测部件收集待检光源产生的衍射图样；将衍射图样输入目标波长测量模型，得到目标波长测量模型输出的波长信息。本发明实现了简化波长测量设备的结构，提升波长测量的便捷性的技术效果。
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公开(公告)号：CN118584817A
公开(公告)日：2024-09-03
申请号：CN202411052324.X
申请日：2024-08-02
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及MicroLED巨量转移技术领域，公开了一种巨量转移时二维驻波的控制方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：通过搭建偏振光源、偏振相机及相关光路对氛围介质中MicroLED载物面板的二维驻波进行检测；通过在MicroLED载物面板引入多位点的振动输入源及基于神经网络模型的智能优化算法，对氛围介质中的MicroLED载物面板振动过程产生的二维驻波进行精确控制，通过设计进化算法对振动数据进行优化并使用神经网络模型学习调优策略，完成对载物面板二维驻波进行优化，最终实现精确稳定的巨量转移振动控制。本发明有效解决了现有技术中仅通过单一振动频率输入或者固定的振动频率组合进行输入不能适应MicroLED目标背板尺寸结构变化，不能针对载物面板出现的驻波进行调整的问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118408932A
公开(公告)日：2024-07-30
申请号：CN202410870052.8
申请日：2024-07-01
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种Micro‑LED检测设备及检测方法，属于Micro‑LED检测技术领域，该设备包括运动台、激光器、物镜、反射镜、采集器、半透半反镜、第一灰度相机、第二灰度相机。本申请提供的上述方案，在反射镜处于第一位置时，物镜成像后发出的光经过半透半反镜后，会分别进入到第一灰度相机和第二灰度相机中，后经过图像采集卡发送给计算机；在反射镜处于第二位置时，物镜成像后发出的光会经过反射镜后进入到采集器中，采集器通过标准光谱或色度对光图像进行标定，标定后的光图像经过图像采集卡发送给计算机，计算机再分析、计算标定后的光图像和经过灰度相机处理的光图像，从而实现Micro‑LED快速、高精度检测。
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公开(公告)号：CN115575790A
公开(公告)日：2023-01-06
申请号：CN202211587907.3
申请日：2022-12-12
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种微米发光二极管芯片缺陷检测方法、设备及存储介质，属于芯片检测技术领域，该方法包括：获取微米发光二极管芯片的光谱数据，将所述光谱数据转化为待测光谱向量；确定所述待测光谱向量与预设的背景光谱向量之间的第一角度参量，若所述第一角度参量符合预设的检测条件，则将所述待测光谱向量作为目标光谱向量；确定所述目标光谱向量与预设的参考光谱向量之间的第二角度参量，根据所述第二角度参量和预设的参量阈值之间的大小关系判断所述微米发光二极管芯片是否异常。本发明通过光谱角匹配进行微米发光二极管芯片的缺陷检测，实现了提高微米发光二极管芯片检测效率的技术效果。
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公开(公告)号：CN114376609B
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202210285932.X
申请日：2022-03-23
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种鼻声反射仪、鼻气道测量方法、测量设备和介质，该方法包括：通过上位机检测到启动检测信号后，基于FPGA控制器控制电火花发生装置进行周期性放电；基于安装在声波导管中的麦克风采样装置记录电火花发生装置进行周期性放电后产生的声音信号；通过FPGA控制器对麦克风采样装置中的声音信号进行读取和存储后，将存储在FPGA控制器中的声音信号发送至上位机中进行计算，得到鼻气道测量结果。通过将声源由扬声器替换为脉冲极短的电火花，缩短了所需的声波导管的长度，进而避免因螺旋结构的声波导管而导致的鼻气道测量精度下降的问题，通过对连续多次采集的声音信号进行处理计算，进一步提升鼻气道测量的稳定性和测量精度。
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公开(公告)号：CN114376609A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202210285932.X
申请日：2022-03-23
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种鼻声反射仪、鼻气道测量方法、测量设备和介质，该方法包括：通过上位机检测到启动检测信号后，基于FPGA控制器控制电火花发生装置进行周期性放电；基于安装在声波导管中的麦克风采样装置记录电火花发生装置进行周期性放电后产生的声音信号；通过FPGA控制器对麦克风采样装置中的声音信号进行读取和存储后，将存储在FPGA控制器中的声音信号发送至上位机中进行计算，得到鼻气道测量结果。通过将声源由扬声器替换为脉冲极短的电火花，缩短了所需的声波导管的长度，进而避免因螺旋结构的声波导管而导致的鼻气道测量精度下降的问题，通过对连续多次采集的声音信号进行处理计算，进一步提升鼻气道测量的稳定性和测量精度。
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公开(公告)号：CN117939308B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410298423.X
申请日：2024-03-15
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种偏振成像方法、装置、电子设备及存储介质，属于光学成像技术领域，该方法包括：获取偏振图像采集设备生成的原始偏振图像；根据所述偏振图像采集设备中的预设偏振方向，将所述原始偏振图像分解为多张遮挡图像，其中，各所述遮挡图像之间的偏振方向不同，各所述遮挡图像中的偏振方向相同；对各所述遮挡图像进行图像还原处理，得到目标偏振图像。本发明通过图像遮挡和图像还原处理，实现了提升偏振成像的图像质量的技术效果。
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