公开(公告)号：CN204789908U

公开(公告)日：2015-11-18

申请号：CN201520377584.4

申请日：2015-06-03

Applicant: 哈尔滨理工大学

Inventor： 于洋 ,  丁喜波 ,  胡逸 ,  李春玉

IPC: G01R31/28

Abstract: 基于LabVIEW的电路板自动测试系统，它涉及电路板测试系统。本实用新型的目的是为了解决现有技术中的电路板测试系统存在熟读低、可靠性差、可视化差的问题。本实用新型包括上位机、数据采集卡、待测电路板、参考电路板和若干弹性探针，待测电路板上设有若干测试点，参考电路板上设有若干参考点，弹性探针的一端固定在参考电路板的参考点上，弹性探针的另一端与待测电路板的测试点接触，参考电路板的参考点通过导线与数据采集卡的输入端建立连接，数据采集卡的输出端通过USB接口与上位机建立连接。本实用新型实现了对电路板进行高速可靠地测试，提高数字电路的质量和可靠性。

公开(公告)号：CN204359918U

公开(公告)日：2015-05-27

申请号：CN201420799426.3

申请日：2014-12-18

Applicant: 哈尔滨理工大学

Inventor： 王向鑫 ,  施云波 ,  赵文杰 ,  姜文娟 ,  于洋

IPC: G01R33/04

Abstract: 一种微型化双环形磁通门传感器，包括：衬底、激励线圈、感应线圈、软磁磁芯、焊盘引脚、光刻胶保护膜，环形磁芯的三条边分别绕制三组相互独立的三维螺线管激励线圈，一共六组激励线圈，在两个环形磁芯相邻且平行的两条边上绕制一组三维螺线管感应线圈，激励线圈和感应线圈均通过光刻胶保护膜与磁芯绝缘隔离，激励线圈和感应线圈均位于衬底上，激励线圈和感应线圈两端都连接焊盘引脚。本实用新型解决了传统磁通门传感器制造稳定性低、重复性差的问题。同时，也解决了微型化磁通门传感器激励线圈匝数少的问题，在有限的范围内，增大了感应线圈的横截面积，提高了微型磁通门传感器性能，全尺寸小于7mm×7mm，制造工艺同时兼容大规模集成电路工艺，可以和接口电路集成制造，在许多新的领域具有广泛的应用前景。