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公开(公告)号:CN203414201U
公开(公告)日:2014-01-29
申请号:CN201320550768.7
申请日:2013-09-05
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01K15/00
Abstract: 铂膜温度传感器温度系数批量测试装置属于传感器技术领域;该装置设置有信号调理模块,包括沿数据传输方向依次设置的恒流源、电子开关Ka、多个Pt等效电路、电子开关Kb和放大电路;所述的Pt等效电路包括与电子开关Ka连接的电阻R3、与电阻R3连接的电阻R1和铂电阻Pt、串联在铂电阻Pt和恒流源地之间的电阻R4、串联在铂电阻Pt和信号回路地之间的电阻R2;所述的电阻R1串联在电阻R3和铂电阻Pt连接点与电子开关Kb之间;所述的电阻R1、电阻R2、电阻R3和电阻R4阻值相等;本实用新型铂膜温度传感器温度系数批量测试装置不仅可以实现批量测试,而且具有测量精度高的优点。
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公开(公告)号:CN204789908U
公开(公告)日:2015-11-18
申请号:CN201520377584.4
申请日:2015-06-03
Applicant: 哈尔滨理工大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 基于LabVIEW的电路板自动测试系统,它涉及电路板测试系统。本实用新型的目的是为了解决现有技术中的电路板测试系统存在熟读低、可靠性差、可视化差的问题。本实用新型包括上位机、数据采集卡、待测电路板、参考电路板和若干弹性探针,待测电路板上设有若干测试点,参考电路板上设有若干参考点,弹性探针的一端固定在参考电路板的参考点上,弹性探针的另一端与待测电路板的测试点接触,参考电路板的参考点通过导线与数据采集卡的输入端建立连接,数据采集卡的输出端通过USB接口与上位机建立连接。本实用新型实现了对电路板进行高速可靠地测试,提高数字电路的质量和可靠性。
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