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公开(公告)号：CN118607701A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410653044.8
申请日：2024-05-24
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京航天自动控制研究所
IPC: G06Q10/04 , G06Q10/20 , G06N3/0442 , G06N3/0455 , G06N3/08 , G06F17/16
Abstract: 本发明是一种识别状态影响的设备寿命预测系统及方法。本发明涉及设备寿命信息处理技术技术领域，本发明获取设备的多维监测数据；设备的监测数据对监测的特征进行初步筛选，保留包含设备退化信息的监测特征数据，构建设备的健康状态记忆矩阵；进行设备退化状态的识别；搭建LSTM‑Transformer网络，进行预测模型的网络参数的调优，选定对应的寿命预测模型，用于寿命预测。本发明构建了LSTM‑Transformer的结合网络，充分利用多头注意力机制，并将重构向量与特征向量的残差向量作为网络的输入，放大性能退化，提高预测效果。
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公开(公告)号：CN117707116A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202311847284.3
申请日：2023-12-29
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京航天自动控制研究所
IPC: G05B23/02
Abstract: 基于GRU和改进注意力机制的故障诊断方法、系统、计算机设备及介质，属于工业故障诊断技术领域，解决了由于工业系统庞大、工业领域数据的时序相关性较强，导致传统的方法不能充分利用单维数据不同时间数据点包含的故障特征信息以及时序信息、对于时序特征捕捉不足，以及传统的GRU难以体现设备运行时的全部特征的问题。所述方法包括：采集传感器数据集，对所述数据集进行预处理；构建GUR网络、改进注意力机制SA模型和SE多通道注意力机制模型；将预处理后的数据集输入到GUR网络中，得到时序特征；将时序特征输入到改进注意力机制SA模型中，得到自注意力计算结果并输入到SE多通道注意力机制模型中，得到故障诊断结果。本发明适用于工业领域故障检测场景。
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公开(公告)号：CN117668649A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311621540.7
申请日：2023-11-30
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京航天自动控制研究所
IPC: G06F18/241 , G06F18/214 , G06F18/15
Abstract: 本申请公开了一种基于SimAM‑LSTM‑AE的异常检测方法，属于航天器异常检测领域，包括：获取遥测数据集，并将其划分为实时数据集和训练集；通过小波阈值降噪方法对遥测数据集进行降噪；通过SimAM注意力机制提取降噪后的遥测数据集的特征，得到注意力特征图；构建LSTM‑AE网络，并基于训练集的注意力特征图对其进行训练，得到训练集的重构误差序列；将实时数据集的注意力特征图输入至训练后的LSTM‑AE网络中，得到实时数据集的重构误差序列，根据实时数据集的重构误差序列检测实时数据集是否出现异常。本申请提供的方法可应用于对于航天器领域采集的遥测数据进行时间段的异常检测和判定异常工作。
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公开(公告)号：CN117607648A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311569601.X
申请日：2023-11-23
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京航天自动控制研究所
Abstract: 本发明提出了一种基于跟踪微分器的三相电压源型转换器开路故障诊断方法及系统，首先采集三相VSC的电流，用三个微分跟踪器分别得到了连续平滑的三相差分电流；第一个IGBT开路故障的诊断需要识别过零区间；当某一相差分电流持续一段时间接近于0时，被认为这一相的差分电流出现过零区间；过零区间发生后，判断同时这一相差分电流在一个周期内的最大最小值相对于上个周期的最大最小值是否发生了改变；根据之前的分析结果，分析第二个IGBT开路故障情况，完成三相电压源型转换器开路故障。
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公开(公告)号：CN117787470A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311621554.9
申请日：2023-11-30
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京航天自动控制研究所
IPC: G06Q10/04 , G06F18/15 , G06F18/2131 , G06N3/0442 , G06F18/214
Abstract: 一种基于EWT和集成方法的时序预测方法和系统，涉及信息处理技术领域。解决现有非平稳的时间序列数据使用神经网络方法进行时序预测会忽略一些细节特征，预测效果不理想，存在局限性的问题。所述方法包括：对时间序列数据进行预处理，得到时间序列数据；根据经验小波变换EWT方法分解时间序列样本数据，获取残差趋势分量和细节分量IMF；采用高斯过程回归GPR对残差趋势项进行预测，获取预测的残差趋势项；采用TAM‑BiLSTM网络模型对细节分量IMF进行预测，获取预测的细节分量；将所述预测的残差趋势项和预测的细节分量叠加重构，获取最终的时间序列的预测结果。应用于金融科技、社会科学、交通流量等领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117687297A
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN202311563594.2
申请日：2023-11-22
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京航天自动控制研究所
IPC: G05B13/04 , G06F18/2433 , G06F18/214 , G06N3/0442 , G06N3/042 , G06N3/045 , G06N3/088
Abstract: 基于自适应关联分析的图神经网络融合的航天器控制系统异常检测方法，涉及系统故障、异常检测技术领域。解决现有的异常数据主要隐藏在大量的正确点中，难以复制，导致无法完全利用正常数据的无监督学习来探索内在规律的问题。本发明提供以下方案，采集航天控制系统领域多维的时序数据，对时序数据进行转换，获得离散变量序列；对离散变量序列进行自适应边分析，得到邻接矩阵A；构建图结构的邻接矩阵，获得LSTM‑图网络；采用LSTM‑图网络模型对离散变量序列进行提取，获得每个变量的时序特征；将时序特征输入到LSTM‑图网络中，获得预测数据；根据误差阈值对处理后的预测数据进行判定，获得异常数据的存储位置。还适用于航天器控制系统异常检测和阈值检测中。
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公开(公告)号：CN116627801A
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202310426677.0
申请日：2023-04-20
Applicant: 哈尔滨工业大学 , 北京航天自动控制研究所
Abstract: 基于出口排序的复杂控制系统测试调度方法、设备、介质和产品，属于自动化测试技术领域，解决复杂控制系统性能和效率较低问题。本发明的方法包括：本发明的基于出口排序的复杂控制系统测试调度方法通过采用各测试任务的出口排序值作为蚁群算法中的启发函数，很大程度上将任务间的优先级关系、通信代价耦合到算法最优解的搜索中，有效提高了对最优解的搜索效率，提高了算法的优化性能，进而提高了复杂控制系统性能和效率。本发明适用于优化复杂控制系统测试任务调度。
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公开(公告)号：CN113466668A
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN202110779635.6
申请日：2021-07-09
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 一种基于开关电容的层间介质空洞故障测试结构及测试方法，属于高密度集成电路测试领域。本发明针对层间介质空洞故障检测精度低并不适用于大规模芯片测试的问题。包括CP控制单元和测试单元；测试单元包括测试电容和四个传输门开关，CP控制单元控制测试单元中四个传输门开关的断开与闭合；一号传输门开关的一端连接电源VD，另一端连接集成电路上待测逻辑门的测试输入端；三号传输门开关的一端接地，另一端连接待测逻辑门的测试输入端；二号传输门开关的一端连接待测逻辑门的测试输入端，另一端连接测试电容的一端，测试电容的另一端接地；四号传输门开关的一端连接测试电容的一端，四号传输门开关的另一端接地。本发明用于介质空洞故障测试。
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公开(公告)号：CN107133476B
公开(公告)日：2019-12-10
申请号：CN201710335811.0
申请日：2017-05-12
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 一种基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法，本发明涉及基于响应混叠性度量的测试激励与测点的协同优化方法。本发明为了解决现有模拟电路中，由于器件容差的存在使得器件故障状态和正常状态界限模糊，导致早期故障检测较低的问题。本发明包括：一：在全频带范围获取电路N个测点M次正常工作和M次故障元件H故障状态下的特征信息，即得到M个正常样本和M个故障样本；二：息得到在全频带下M个正常样本和M个故障样本对应的正态分布曲线，以及正态分布的均值和标准差；三：计算全频带的正常样本与故障样本之间的响应混叠性；四：选择使响应混叠性度量函数达到最小值的测试激励和测点。本发明应用于电路故障检测领域。
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公开(公告)号：CN107765167A
公开(公告)日：2018-03-06
申请号：CN201710962060.5
申请日：2017-10-16
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种基于开关电容的TSV测试电路及测试方法，涉及半导体领域。基于开关电容的TSV测试电路的等效电阻单元包括复数个等效电阻模块，每个等效电阻模块对应一待测穿透硅通孔，等效电阻模块的测试端口与对应的待测穿透硅通孔的测试端连接，所有的等效电阻模块的充电端口共同连接以形成等效电阻单元的充电端；公共测试单元的电量输出端与等效电阻单元的充电端连接，公共测试单元用以根据第三控制输入端的第三控制信号、第一控制输入端的第一控制信号，及第二控制输入端的第二控制信号控制待测穿透硅通孔的充放电状态，以进行测试，通过测试输出端输出待测穿透硅通孔的测试结果。
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