一种提高拼接法生长金刚石单晶拼接缝质量的方法

    公开(公告)号:CN114032613B

    公开(公告)日:2023-10-31

    申请号:CN202111195819.4

    申请日:2021-10-14

    Abstract: 本发明的一种提高拼接法生长金刚石单晶拼接缝质量的方法属于金刚石单晶生长技术领域,以金刚石单晶作为籽晶,将2片或多片籽晶拼接在一起得到金刚石单晶衬底;生长之前,在拼接缝处通过激光切割机均匀制造出多个缺陷;在MPCVD设备中生长金刚石单晶,人造缺陷处由于二次成核生长成为塔台状,顶端为金刚石多晶颗粒,四周为金刚石单晶台阶生长;将塔台顶端的金刚石多晶抛光,继续生长,得到完整的金刚石单晶外延层。本发明解决了拼接缝晶向不同而引起的生长弊端,接缝处能够自然平缓的弥合,得到拼接缝良好的高质量的大面积金刚石单晶片。

    一种大尺寸单晶金刚石拼接生长方法

    公开(公告)号:CN114150376B

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202111195697.9

    申请日:2021-10-14

    Abstract: 本发明的一种大尺寸单晶金刚石拼接生长方法属于晶体生长技术领域,首先选取1片(100)取向的单晶金刚石作为衬底模板,在衬底模板表面生长单晶金刚石外延层并切割剥离,重复此操作获得多片晶体取向严格一致的高质量单晶金刚石外延片;研磨、抛光、清洗后放入CVD设备中生长1~4h,以观察样品表面台阶流生长方向;然后将外延片沿台阶流生长方向平行的方式进行排列,作为拼接衬底,在拼接衬底表面生长单晶金刚石外延层,并切割剥离,得到大尺寸高质量单晶金刚石。本发明在拼接缝处晶体的方向一致,拼接缝能够自然平缓的弥合,外延生长的晶体质量无明显退化,同时提高了单晶金刚石拼接生长的尺寸极限。

    一种低温条件下在金刚石表面镀覆硅的方法

    公开(公告)号:CN116516312A

    公开(公告)日:2023-08-01

    申请号:CN202310419801.0

    申请日:2023-04-19

    Applicant: 吉林大学

    Abstract: 本发明公开了一种低温条件下在金刚石表面镀覆硅的方法,属于金刚石/碳化硅复合材料合成技术领域,包括将金刚石颗粒用去离子水反复清洗直至水质电导率为000uS/cm,于200℃烘干1h~3h;将烘干的金刚石颗粒放入配置好的浓度为0.15g/mL~0.3g/mL的NaOH溶液中于70℃~90℃进行水浴加热持续搅拌1h~2h,将碱处理后的金刚石颗粒用去离子水清洗至水质中性;取碱处理后的金刚石颗粒以及硅粉加入进配好的硅烷偶联剂醇溶液中,60℃~70℃水浴加热,反应1h~2h;反应结束后表面经处理的金刚石颗粒用无水乙醇清洗2~3次,用鼓风干燥箱进行烘干处理,使得金刚石表面涂层硅物质对金刚石表面改性。

    可用于单片集成的金刚石基CMOS逻辑电路及制备方法

    公开(公告)号:CN114937667A

    公开(公告)日:2022-08-23

    申请号:CN202210297544.3

    申请日:2022-03-24

    Applicant: 吉林大学

    Abstract: 本发明的可用于单片集成的金刚石基CMOS逻辑电路及制备方法属于半导体单片集成电路技术领域,其结构由下往上依次包括衬底(1)、金刚石外延层(2)、氢终端二维空穴气(3)、绝缘介质层(4)、半导体层和欧姆接触电极;制备方法包括在衬底上生长金刚石外延层、刻蚀形成凹槽结构、形成氢终端二维空穴气等步骤。本发明工艺简单,利用氢终端金刚石表面的二维空穴气作为栅电极可以有效缩短晶体管栅极长度,并且利用p、n型半导体形成CMOS结构,有利于后续单片集成。

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