一种提高拼接法生长金刚石单晶拼接缝质量的方法

    公开(公告)号:CN114032613A

    公开(公告)日:2022-02-11

    申请号:CN202111195819.4

    申请日:2021-10-14

    IPC分类号: C30B25/18 C30B25/20 C30B29/04

    摘要: 本发明的一种提高拼接法生长金刚石单晶拼接缝质量的方法属于金刚石单晶生长技术领域,以金刚石单晶作为籽晶,将2片或多片籽晶拼接在一起得到金刚石单晶衬底;生长之前,在拼接缝处通过激光切割机均匀制造出多个缺陷;在MPCVD设备中生长金刚石单晶,人造缺陷处由于二次成核生长成为塔台状,顶端为金刚石多晶颗粒,四周为金刚石单晶台阶生长;将塔台顶端的金刚石多晶抛光,继续生长,得到完整的金刚石单晶外延层。本发明解决了拼接缝晶向不同而引起的生长弊端,接缝处能够自然平缓的弥合,得到拼接缝良好的高质量的大面积金刚石单晶片。

    一种提高单晶金刚石外延层晶体质量的生长方法

    公开(公告)号:CN116288706A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202211477919.0

    申请日:2022-11-23

    IPC分类号: C30B29/04 C30B25/20 C30B33/12

    摘要: 本发明提供了一种提高单晶金刚石外延层晶体质量的生长方法,属于晶体生长技术领域。本发明将多片单晶金刚石衬底进行拼接,得到拼接衬底;通入氢气和甲烷,利用化学气相沉积法在所述拼接衬底表面生长单晶金刚石外延层;停止通入甲烷,通入氧气对新生长的单晶金刚石外延层进行刻蚀,待刻蚀完后停止通入氧气,通入甲烷继续生长单晶金刚石外延层;交替进行刻蚀和生长,直至得到目标厚度的单晶金刚石外延层。本发明交替进行生长‑刻蚀‑生长,可以有效减少拼接缝处的生长缺陷,在生长过程中通过刻蚀可以定期对非晶碳、多晶金刚石等进行刻蚀,同时可以对缺陷,位错等进行实时修正,使得单晶金刚石的拼接缝自然弥合,显著提高拼接缝处单晶生长质量。

    一种提高拼接法生长金刚石单晶拼接缝质量的方法

    公开(公告)号:CN114032613B

    公开(公告)日:2023-10-31

    申请号:CN202111195819.4

    申请日:2021-10-14

    IPC分类号: C30B25/18 C30B25/20 C30B29/04

    摘要: 本发明的一种提高拼接法生长金刚石单晶拼接缝质量的方法属于金刚石单晶生长技术领域,以金刚石单晶作为籽晶,将2片或多片籽晶拼接在一起得到金刚石单晶衬底;生长之前,在拼接缝处通过激光切割机均匀制造出多个缺陷;在MPCVD设备中生长金刚石单晶,人造缺陷处由于二次成核生长成为塔台状,顶端为金刚石多晶颗粒,四周为金刚石单晶台阶生长;将塔台顶端的金刚石多晶抛光,继续生长,得到完整的金刚石单晶外延层。本发明解决了拼接缝晶向不同而引起的生长弊端,接缝处能够自然平缓的弥合,得到拼接缝良好的高质量的大面积金刚石单晶片。

    一种大尺寸单晶金刚石拼接生长方法

    公开(公告)号:CN114150376B

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202111195697.9

    申请日:2021-10-14

    IPC分类号: C30B25/02 C30B33/06 C30B29/04

    摘要: 本发明的一种大尺寸单晶金刚石拼接生长方法属于晶体生长技术领域,首先选取1片(100)取向的单晶金刚石作为衬底模板,在衬底模板表面生长单晶金刚石外延层并切割剥离,重复此操作获得多片晶体取向严格一致的高质量单晶金刚石外延片;研磨、抛光、清洗后放入CVD设备中生长1~4h,以观察样品表面台阶流生长方向;然后将外延片沿台阶流生长方向平行的方式进行排列,作为拼接衬底,在拼接衬底表面生长单晶金刚石外延层,并切割剥离,得到大尺寸高质量单晶金刚石。本发明在拼接缝处晶体的方向一致,拼接缝能够自然平缓的弥合,外延生长的晶体质量无明显退化,同时提高了单晶金刚石拼接生长的尺寸极限。