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公开(公告)号：CN109556716A
公开(公告)日：2019-04-02
申请号：CN201811396933.1
申请日：2018-11-22
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明揭示了一种基于衍射效应的成像光谱仪及其超光谱成像方法，该成像光谱仪包括第一准直器件、衍射器件、第二准直器件、阵列式探测芯片及与阵列式探测芯片连接的数据计算与分析系统，第一准直器件使得待测光谱成像区域内各部位所发出的其中一束光以固定角度入射到衍射器件表面的不同部位；衍射器件用于令入射到衍射器件的光发生散射效应，使得不同频率相同强度的入射光经过衍射器件的相同部位后所发射出的衍射光具有不同的散射光强角分布，且相同频率相同强度的入射光经过衍射器件的不同部位所发射出散射光的光强角分布也不同。通过将待测光谱成像区域分成m个子单元区域，可分别利用阵列式探测芯片上不同的像素元区域实时进行成像光谱测量。
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公开(公告)号：CN105651385B
公开(公告)日：2018-10-19
申请号：CN201610022137.6
申请日：2016-01-13
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种基于干涉效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法。该测量装置包括干涉器件、干涉控制器、探测器和计算处理单元。待测太赫兹波经由干涉器件后形成两束或两束以上太赫兹波，之后再次相遇发生干涉，干涉控制器使得探测器在干涉控制器不同控制条件作用下可以测得不同的太赫兹波干涉强度；计算处理单元用来接收探测器的测量结果，并进行数据分析和处理。本发明的太赫兹波谱测量装置相比现有的太赫兹时域波谱测量装置具有体积较小、易于制作、成本相对低廉，且频率分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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公开(公告)号：CN104660344B
公开(公告)日：2017-07-18
申请号：CN201510068163.8
申请日：2015-02-09
Applicant: 南京邮电大学
IPC: H04B10/50 , H04B10/60 , H04B10/116
Abstract: 本发明公开了一种多输入多输出的光通信系统及其信号复原方法。包括光信号发射端和光信号接收端；光信号发射端包括相互连接的光强调制单元、光信号发送单元，光信号发送单元包括相互之间频谱互有重叠但又不完全相同的n个宽带光源，光强调制单元将n路信号分别调制至n个宽带光源生成相应的光调制信号；光信号接收端包括分光器件、光信号接收器、信号处理单元；所述分光器件可令不同频率的入射光经过后形成不同的光强分布，且相同频率的入射光经过分光器件的不同部位所产生的光强角分布也不同；光信号接收器为具有相同频谱响应的n个光探测器所组成的光探测器阵列。本发明能在照明的同时实现大容量信号的传输，且结构简单、实现容易。
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公开(公告)号：CN105572076A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201610020854.5
申请日：2016-01-13
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01N21/49
CPC classification number: G01N21/49
Abstract: 本发明公开了一种基于散射效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法。待测太赫兹波经由散射器件后形成太赫兹频率的散射波，散射波在散射控制器的不同控制条件作用下被探测器所接收；散射器件可令不同频率的入射太赫兹波形成不同的散射波强度角分布，散射控制器用来改变透过散射器件的太赫兹散射波在探测器位置处的散射场分布，使得固定频率的入射太赫兹波在散射控制器不同控制条件作用下被探测器所接收到的散射波强度互不相同；计算处理单元用来接收探测器的测量结果，并进行数据分析和处理。本发明的太赫兹波谱测量装置相比现有的太赫兹时域波谱测量装置具有体积较小、易于制作、成本相对低廉，且频率分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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公开(公告)号：CN103759829B
公开(公告)日：2015-10-07
申请号：CN201410000783.3
申请日：2014-01-02
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/447
Abstract: 本发明公开了一种基于磁光调制的光谱测量装置，属于光学测量技术领域。本发明光谱测量装置包括沿入射光方向依次设置的第一偏振片、磁光调制器件、第二偏振片、光探测器。本发明还公开了一种使用上述装置的光谱测量方法，首先测量在不同磁场强度下进行磁光调制时光探测器所检测到的光功率，并以得到的光功率数据作为增广矩阵，结合光谱测量装置在不同磁场强度下对不同频率入射光的探测率所组成的系数矩阵，建立线性方程组；对该线性方程组求解，得到待测入射光中各频率分量的光功率，然后对其进行线性拟合、光谱定标，得到待测入射光的光谱。本发明具有抗振动能力强、分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103063299B
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201210578653.9
申请日：2012-12-27
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/02
Abstract: 本发明公开了一种微型光谱仪，属于光学测量技术领域。本发明的微型光谱仪包括沿光路入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统，所述分光器件包括透明基底，所述透明基底的至少一个表面上固着有至少一层纳米粒子涂层，所述纳米粒子涂层由一组纳米至微米尺度的透明粒子构成，且透明粒子的尺寸或形状的分布不均匀。本发明采用纳米粒子涂层结构的分光器件，在保持测量精度高、测量范围大以及对振动不敏感等优点的同时，其制作工艺更简单，实现成本更低。
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公开(公告)号：CN102721670B
公开(公告)日：2014-06-04
申请号：CN201210216218.1
申请日：2012-06-28
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01N21/25
Abstract: 本发明公开了一种半导体等离子体频率测量方法。本发明首先将两个金属刀片平行设置在待测半导体表面上方，然后向其中一个刀片刃口与待测半导体表面之间的狭缝发射宽频电磁波，在待测半导体表面激发出表面等离子体波，并利用设置在另一刀片外侧的光谱分析装置接收耦合出的电磁波；通过调整宽频电磁波频率以及两个刀片的间距，使得光谱分析装置刚好不能接收到入射宽频电磁波的全部频率信号，记录下此时光谱分析装置所能探测到的最大频率值；将该最大频率值乘以，即为待测半导体的等离子体频率。本发明方法利用表面等离子体波在半导体表面的传播特性对半导体等离子体频率进行准确实时地测量，具有实现成本低、对半导体无损伤、测量范围广等优点。
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公开(公告)号：CN103196557A
公开(公告)日：2013-07-10
申请号：CN201310092371.2
申请日：2013-03-21
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种光谱仪，属于光学测量技术领域。本发明的光谱仪包括沿光路入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统；所述分光器件包括透明基底，所述透明基底的至少一个表面上固着有至少一层透明涂层，所述透明涂层中包含有一组尺寸或形状不均匀分布的气泡。相比现有技术，本发明具有制作简单、实现成本低、便携性好，以及较高的分辨率和较宽的光谱测量范围的优点。
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公开(公告)号：CN103063299A
公开(公告)日：2013-04-24
申请号：CN201210578653.9
申请日：2012-12-27
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/02
Abstract: 本发明公开了一种微型光谱仪，属于光学测量技术领域。本发明的微型光谱仪包括沿光路入射方向依次设置的光学准直装置、分光器件、阵列式探测芯片，以及与所述阵列式探测芯片连接的数据采集与分析系统，所述分光器件包括透明基底，所述透明基底的至少一个表面上固着有至少一层纳米粒子涂层，所述纳米粒子涂层由一组纳米至微米尺度的透明粒子构成，且透明粒子的尺寸或形状的分布不均匀。本发明采用纳米粒子涂层结构的分光器件，在保持测量精度高、测量范围大以及对振动不敏感等优点的同时，其制作工艺更简单，实现成本更低。
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公开(公告)号：CN102736273A
公开(公告)日：2012-10-17
申请号：CN201210216216.2
申请日：2012-06-28
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G02F1/01
Abstract: 本发明公开了基于表面等离子体波传输距离的电磁波温度调制方法。在本征半导体平板表面上方设置两个相互平行的金属刀片：第一刀片和第二刀片；从第一刀片的外侧向该刀片的刃口与本征半导体平板的间隙处发射频率小于本征半导体等离子体频率的电磁波，在本征半导体平板表面激发沿着本征半导体平板表面传输的表面等离子体波；保持第一刀片与第二刀片之间的距离不变，通过调整本征半导体平板的温度，使得所述表面等离子体波在本征半导体平板表面的传输距离发生变化，第二刀片刃口处耦合出的电磁波的强度随之发生变化，从而实现电磁波的调制。本发明具有温度范围小、调制速度快、硬件结构简单、易于实现等优点，可实现宽频电磁波的归零及非归零调制。
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