基于信号传输性能分析的MIV故障诊断系统及其方法

    公开(公告)号:CN119178984A

    公开(公告)日:2024-12-24

    申请号:CN202410965100.1

    申请日:2024-07-18

    Abstract: 基于信号传输性能分析的MIV故障诊断系统及其方法,涉及三维集成电路测试技术领域。解决现有单片层间通孔MIV测试方法可诊断故障范围有限的问题。诊断系统包括一个测试控制器和多个测试单元;所述测试控制器用于向各测试单元发送测试指令。基于诊断系统实现的诊断方法为:通过分别检测整个MIV组中是否存在开路故障、漏电故障及前半组MIV中是否存在短路故障、后半组MIV中是否存在短路故障,若检测过程中存在故障则对整个MIV组进行进一步故障诊断,诊断包括执行延迟特性识别的故障诊断、电压特性识别的故障诊断,直至获得诊断结果。本发明适用于三维集成技术中MIV的测试及故障诊断。

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