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公开(公告)号：CN105784631A
公开(公告)日：2016-07-20
申请号：CN201610202887.1
申请日：2016-04-01
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01N21/3563
CPC classification number: G01N21/3563
Abstract: 本发明公开了一种负温及常温不透明材料发射率测量装置。它包括，真空低温仓、低温恒温循环系统、光学系统、电控平移台和计算机控制与测量系统。其测量原理为利用探测器将被测目标与相同温度下的等温黑体的辐射能量进行测量和比较，从而得到材料在不同光谱下的光谱发射率。本发明可以实现7至13μm典型光谱范围、?50℃～50℃温度范围的材料法向光谱发射率测量。所述光学系统和测量系统均处在真空低温环境中，避免了大气衰减对发射率测量影响，拓展了材料发射率测量的下限，提高了测量结果的不确定度。
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公开(公告)号：CN104568225A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410752976.4
申请日：2014-12-10
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及测量领域，具体涉及一种运动物体温场测量装置及温场合成方法。扫描电机1通过固定座21固定于电机保护罩20内；探针外壳6与电机保护罩20固定连接；扫描电机1与推杆8固定连接；推杆8与连接器22连接；连接器22与扫描反射镜7相连；扫描反射镜7通过高温轴10安装在光学探头3前端，光学探头3安装在探针外壳6内；气缸组4和吹扫进气组件5套在探针外壳6的外部；光纤2连接在光学探头3尾部，光纤2还与电子盒26的输入端连接；电子盒26的输出端分别与数据处理模块25、气缸组4和扫描电机1的输入端连接。其优点是可以获得整个被测物体的温场分布情况；不需要拍摄到整个被测物体，适用范围更广；响应速度快，可测量高速运动的物体。
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公开(公告)号：CN115494616A
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202211080261.X
申请日：2022-09-05
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G02B13/00
Abstract: 本发明公开的一种四分幅光学系统，属于光学成像领域。本发明沿光轴从物面到像面依次设有：第一透镜L1、第二透镜L2、第三透镜L3、第四透镜组L4、第五透镜L5、第六透镜L6、第七透镜L7、第八透镜L8以及像平面L9；所述第一透镜、第三透镜、第四透镜组、第五透镜、第七透镜以及第八透镜的光焦度为正，第二透镜和第六透镜的光焦度为负；所述第四透镜组L4中的四个透镜l41、l42、l43、l44相同，光学系统中四个单通道的孔径光阑分别位于透镜l41、l42、l43、l44的物面侧。本发明的光学系统仅使用一块探测器，但具有对同一成像目标进行四波段同步成像的功能，本发明还具有畸变小、全视场无渐晕、结构紧凑和研发成本低等优点。
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公开(公告)号：CN104568225B
公开(公告)日：2017-09-05
申请号：CN201410752976.4
申请日：2014-12-10
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明涉及测量领域，具体涉及一种运动物体温场测量装置及温场合成方法。扫描电机1通过固定座21固定于电机保护罩20内；探针外壳6与电机保护罩20固定连接；扫描电机1与推杆8固定连接；推杆8与连接器22连接；连接器22与扫描反射镜7相连；扫描反射镜7通过高温轴10安装在光学探头3前端，光学探头3安装在探针外壳6内；气缸组4和吹扫进气组件5套在探针外壳6的外部；光纤2连接在光学探头3尾部，光纤2还与电子盒26的输入端连接；电子盒26的输出端分别与数据处理模块25、气缸组4和扫描电机1的输入端连接。其优点是可以获得整个被测物体的温场分布情况；不需要拍摄到整个被测物体，适用范围更广；响应速度快，可测量高速运动的物体。
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