公开(公告)号：CN108520765B

公开(公告)日：2020-08-11

申请号：CN201810304264.4

申请日：2018-04-08

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 卢瑶瑶 ,  蔡道林 ,  陈一峰 ,  闫帅 ,  宋志棠 ,  吴磊 ,  刘源广 ,  李阳

IPC: G11C13/00

Abstract: 本发明提供一种相变存储器阵列中的位线寄生参数的测量系统及方法，包括：若干条平行间隔排布的字线；若干条平行间隔排布的位线；相变存储器阵列；驱动电路，与各位线相连接；至少一测试结构，包括驱动电路、可变电阻器、可变电容器及第二相变存储器单元；其中，可变电阻器与可变电容器串联成的串联电路一端与驱动电路相连接，另一端与第二相变存储器单元相连接；第二相变存储器单元的结构与第一相变存储器单元的结构相同。本发明可以简单便捷地得到相变存储器阵列中的位线寄生参数，为相变存储器阵列中的各相变存储器单元均能够被充分操作弥补能量损耗提供依据，为得到比较一致的电阻分布，提高相变存储器芯片的工作可靠性提供基础。

公开(公告)号：CN109903800A

公开(公告)日：2019-06-18

申请号：CN201910196702.4

申请日：2019-03-15

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 蔡道林 ,  宋志棠 ,  陈一峰 ,  卢瑶瑶 ,  闫帅 ,  吴磊 ,  刘源广 ,  余力 ,  陆俊杰

IPC: G11C16/26 ,  G11C29/00

Abstract: 本申请提供一种相变储存器控制装置、相变储存器控制方法、电子装置及存储介质，包括：一检测单元，用于检测数据是否存在错误；一控制信号单元，获取来自所述相变储存器的第一存取参数设定值，根据所述第一存取参数设定值产生第一读取控制信号令所述相变储存器读取第一数据页面；当接收到所述校验单元校验第一数据页面存在错误而产生的检测错误信号时，根据第二存取参数设定值产生第二读取控制信号令所述相变储存器读取所述第一数据页面；其中，配置为所述第二存取参数设定值状态下的相变储存器的存取效率低于其配置为所述第一存取参数设定值状态。解决了因各个相变存储器的读取模式和参数不同使各端口匹配困难的问题，可以令端口实现自动匹配。

公开(公告)号：CN112311361B

公开(公告)日：2025-04-29

申请号：CN201910699840.4

申请日：2019-07-31

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 余力 ,  蔡道林 ,  陈一峰 ,  宋志棠 ,  闫帅 ,  吴磊 ,  刘源广 ,  李阳 ,  陆俊杰

IPC: H03K4/02 ,  G11C13/00

Abstract: 本发明涉及一种阶梯脉冲的确认方法，包括：基于确定的电阻方程和温度方程确定包含第一未知参量和第二未知参量的电流方程；根据多个第一阶梯脉冲对应的多个电阻阻值中确定出第一电阻阻值对应的第一阶梯脉冲；第一电阻阻值对应的第一阶梯脉冲的首脉冲的脉宽和幅值为第一脉宽和第一幅值；根据多个第二阶梯脉冲对应的多个电阻阻值中确定出第二电阻阻值对应的第二阶梯脉冲；第二电阻阻值对应的第二阶梯脉冲的非首脉冲的脉宽为第二脉宽；基于第二脉宽和第一幅值确定电流方程；基于电流方程对第二电阻阻值对应的第二阶梯脉冲的非首脉冲的幅值进行调节，获取与电流方程相匹配的目标阶梯脉冲。此设计得到的目标阶梯脉冲可以使擦操作成功率提高且速度变快。

公开(公告)号：CN107886993A

公开(公告)日：2018-04-06

申请号：CN201711022722.7

申请日：2017-10-27

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 蔡道林 ,  卢瑶瑶 ,  陈一峰 ,  闫帅 ,  吴磊 ,  刘源广 ,  李阳 ,  宋志棠

IPC: G11C29/50

CPC classification number: G11C29/50 ,  G11C2029/5004

Abstract: 本发明提供一种存储单元负载电压的测试方法及测试电路，包括用于进行信息存储的存储器阵列；并联于存储器阵列的位线上的缓冲隔离单元，从缓冲隔离单元的输出端获取存储器阵列中存储单元操作时的位线电压，并将要读取的位线电压与测试端隔离，减小测试端引入的电容对要读取的位线电压的影响，进而提高测试结果的准确性。本发明采用电压跟随器与位线并联的电路结构来测试存储单元操作时的电压，电压跟随器输出电压近似输入电压幅度，并对前级电路呈高阻状态，对后级电路呈低阻状态，因而起到“隔离”作用；通过位线输入操作被选中的相变存储器单元时，电压跟随器可以测试出通过存储单元的电压，提高测试进度并测试得到存储单元的电压降。

公开(公告)号：CN107591186A

公开(公告)日：2018-01-16

申请号：CN201710749389.3

申请日：2017-08-28

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 闫帅 ,  蔡道林 ,  薛媛 ,  宋志棠 ,  陈一峰 ,  卢瑶瑶 ,  吴磊 ,  刘源广

IPC: G11C29/56 ,  G11C11/56

Abstract: 本发明提供一种电压电流测试自动切换电路、相变单元测试系统及方法，包括：具有脉冲电流源模块、开关驱动模块、测试状态切换模块的电压电流测试自动切换电路；数字源表；探针台、第一待测相变电阻及第二待测相变电阻。电压测试时，电压电流测试自动切换电路接收单脉冲电压信号，并加载到第一待测相变电阻的两端，通过数字源表测量第一待测相变电阻的阻值；电流测试时，电压电流测试自动切换电路基于单脉冲电压信号及负直流电流信号产生单脉冲电流信号，并加载到第二待测相变电阻，通过数字源表测量第二待测相变电阻的阻值。本发明将分立的电压和电流测试系统合成到一起，通过电压和电流的自动切换实现工程测试的自动化，同时减小噪音干扰。