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公开(公告)号：CN115839920A
公开(公告)日：2023-03-24
申请号：CN202211509369.6
申请日：2022-11-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/25 , G01N21/88 , G01N21/954
Abstract: 本发明公开了一种光谱内窥式检测方法及对应的检测装置，步骤一，基于带光源的内窥镜与受限空间中的目标进行靠近或接触，确保受限空间中目标的光学图像能够通过分光成像模块分别导出到相机、光谱传感器上；步骤二，基于内窥镜进行检测点的标定，以得到对应的标定点；步骤三，通过相机的成像观察受限空间中目标上是否有缺陷、腐蚀点；其中，在步骤三中，在观察中如确定目标上存在缺陷、腐蚀点，则通过移动内窥镜将标定点的位置对准缺陷、腐蚀点，获取相应的光谱信息。本发明提供一种光谱内窥式检测方法及对应的检测装置，通过光谱传感器获取视场标定点位置的光谱信息，通过目标图像及内窥镜移动，可实现对目标上感兴趣的位置点进行光谱分析。
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公开(公告)号：CN110927170B
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN201911226014.4
申请日：2019-12-04
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明提供了一种缺陷确定方法、装置以及系统，通过先确定待测元件表面是否存在参考缺陷点，若存在，则对所确定的参考缺陷点进行预设激光辐照处理，将预设激光辐照处理过程中荧光信号强度的降低量低于第一预设值且散射光信号强度的降低量低于第二预设值的参考缺陷点确定为待测元件表面的目标缺陷点，目标缺陷点即为元件表面低损伤阈值缺陷，有效地实现了对元件表面低损伤阈值缺陷的定位，有利于去除元件表面低损伤阈值缺陷，提高元件的激光损伤性能。
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公开(公告)号：CN108455870A
公开(公告)日：2018-08-28
申请号：CN201810342443.7
申请日：2018-04-17
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: C03C15/00 , C03C17/245
Abstract: 本发明涉及光学材料领域，具体而言，涉及一种石英以及增加石英抗激光损伤性能的方法。增加石英抗激光损伤性能的方法，包括以下步骤：对石英基片进行刻蚀处理后在所述石英基片上沉积二氧化硅；在沉积所述二氧化硅的同时，对沉积的所述二氧化硅进行熔融。其通过刻蚀能够将较小的微裂纹完全去除，同时能将较大的微裂纹完全暴露并钝化裂纹尖端，便于后续熔覆过程对微裂纹的填补和修复。而后利用熔融沉积的二氧化硅的流动性修复填补裂纹，从而提高熔石英的机械性能并最终提升其抗激光损伤性能。同时，大面积均匀的沉积和熔覆玻璃涂层，使得熔石英整个表面具有较好的面型。
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公开(公告)号：CN107831635A
公开(公告)日：2018-03-23
申请号：CN201711234879.6
申请日：2017-11-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G03B42/02
CPC classification number: G03B42/02
Abstract: 本发明公开了一种X射线条纹相机时标光耦合器，该耦合器将靶场提供的紫外时标光信号通过光纤连接到真空紫外光纤连接器上，紫外时标光信号先经过真空紫外光纤连接器，再经过紫外光纤传输到时标光聚焦组件，紫外时标光信号由时标光聚焦组件的壳体入射端入射，然后被聚焦透镜聚焦成很小的光点后从出射端出射，并穿过阴极狭缝后进入X射线条纹相机并被其记录。本发明的X射线条纹相机时标光耦合器能够使X射线条纹相机记录靶场的紫外时标光信号，从而对探测到的物理信号时间进行精密定标，结构简单，操作简易，具有广阔的应用前景。
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公开(公告)号：CN107831351A
公开(公告)日：2018-03-23
申请号：CN201711234877.7
申请日：2017-11-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01R13/00
CPC classification number: G01R13/00
Abstract: 本发明公开了一种条纹相机扫描脉冲监测装置，所述的条纹相机扫描脉冲监测装置包括电磁脉冲屏蔽罩、同轴电缆、同步机、示波器和耦合天线。该装置利用耦合天线感应扫描脉冲发生器工作时辐射的电磁波而产生一个时间波形信号，并将此时间波形信号和同步机输出的信号输入示波器记录，通过实验前后两者的相对时间关系即可快速判断出扫描脉冲发生器是否受到误触发。利用本装置可有效提升条纹相机工作的可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115839920B
公开(公告)日：2025-04-25
申请号：CN202211509369.6
申请日：2022-11-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/25 , G01N21/88 , G01N21/954
Abstract: 本发明公开了一种光谱内窥式检测方法及对应的检测装置，步骤一，基于带光源的内窥镜与受限空间中的目标进行靠近或接触，确保受限空间中目标的光学图像能够通过分光成像模块分别导出到相机、光谱传感器上；步骤二，基于内窥镜进行检测点的标定，以得到对应的标定点；步骤三，通过相机的成像观察受限空间中目标上是否有缺陷、腐蚀点；其中，在步骤三中，在观察中如确定目标上存在缺陷、腐蚀点，则通过移动内窥镜将标定点的位置对准缺陷、腐蚀点，获取相应的光谱信息。本发明提供一种光谱内窥式检测方法及对应的检测装置，通过光谱传感器获取视场标定点位置的光谱信息，通过目标图像及内窥镜移动，可实现对目标上感兴趣的位置点进行光谱分析。
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公开(公告)号：CN108490598B
公开(公告)日：2024-03-19
申请号：CN201810273557.0
申请日：2018-03-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本申请提供一种光学元件体散射缺陷探测装置，光学元件为长方体结构，包括多个光束照射面；光学元件体散射缺陷探测装置包括光源、三维平移台、分光单元、照明系统及成像系统，光源用于发出光束L0；三维平移台用于承载和平移光学元件；分光单元用于将光束L0分为两束光束；照明系统用于将两束光束分为多束光束后垂直入射多个光束照射面，以形成多光束交叠照明区域；成像系统用于对多光束交叠照明区域进行成像。本申请提供的光学材料体散射缺陷探测装置及探测方法可实现对体缺陷多角度照明，从而获得材料体内大部分缺陷的清晰成像，对于判断材料质量具有重要参考价值。
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公开(公告)号：CN117346889A
公开(公告)日：2024-01-05
申请号：CN202311408505.7
申请日：2020-03-26
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明涉及一种超表面光谱传感系统、确定方法及光谱仪。所述超表面光谱传感系统包括：面阵探测器和超表面分光系统，所述超表面分光系统包括多个超表面单元；多个所述超表面单元设置在所述面阵探测器的上表面；每个所述超表面单元均包括多个相同的超原子；所述超表面单元用于针对设定谐振波长值透过率和非设定谐振波长值透过率不同，起到分光的作用；一个所述超表面单元对应一个设定谐振波长值；所述面阵探测器用于探测所述超表面单元透过的光。本发明通过在面阵探测器上表面设置集成化的超表面分光系统，以缩小光谱传感系统的体积，进而减小光谱仪的体积，实现光谱仪的小型化。
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公开(公告)号：CN116689403A
公开(公告)日：2023-09-05
申请号：CN202310719900.0
申请日：2023-06-17
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种熔石英光学元件清洗干燥夹持装置，光学元件清洗技术领域，熔石英光学元件清洗干燥夹持装置包括旋转动力组件、固定支架和夹持组件，所述固定支架用于与移动设备的移动端固定连接，所述旋转动力组件固定在所述固定支架上，所述旋转动力组件的转轴与所述夹持组件固定连接，所述夹持组件用于夹持光学元件，所述旋转动力组件能够驱动所述夹持组件进行转动，能够提高干燥效率，增强残余杂质去除能力并改善光学元件表面残余杂质分布的均匀性。
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公开(公告)号：CN114152339A
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202111396191.4
申请日：2021-11-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种基于几何相位超表面结构的光谱传感器及光谱重建方法，包括：对入射光进行起偏处理的起偏器；对起偏器出来的光进行二次处理的消色差1/4波片；用于光谱编码的几何相位超表面器件；与几何相位超表面器件相配合的检偏器；与检偏器相配合的面阵探测器。本发明提出了一种基于几何相位超表面结构的光谱传感器及光谱重建方法，可以将光谱编码结构压缩为数个平面光学元件的组合，极大简化了光学系统的结构。
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