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公开(公告)号:CN114112041A
公开(公告)日:2022-03-01
申请号:CN202111406725.7
申请日:2021-11-24
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种基于微纳滤光片阵列的光谱成像系统及其扫描方法,涉及光谱成像技术领域,该系统主要包括:成像镜头、微纳滤光片阵列、二维平移台、面阵探测器和计算机;工作时,通过所述计算机控制所述二维平移台按照设定步长进行横向移动和纵向移动,从而使得目标上的每一个空间像点依次被所述微纳滤光片阵列上不同的滤光片进行光谱调制;经过光谱调制后的空间像点通过所述面阵探测器后形成光电信号;所述光电信号通过所述电连接传输至所述计算机,并经过所述计算机处理后形成所述目标的光谱图像;所述设定步长为所述微纳滤光片阵列中滤光片排列的周期。本发明能够实现高空间分辨率、高光谱精度、低成本的光谱成像。
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公开(公告)号:CN113758565A
公开(公告)日:2021-12-07
申请号:CN202010493231.6
申请日:2020-06-03
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明涉及一种用于光谱传感系统中的连接部件及光谱仪。所述连接部件包括:阵列式布设在基底的上表面的多个纳米结构单元;每个纳米结构单元对应一个设定谐振波长值;每个纳米结构单元均由多个圆形环组成;多个圆形环为同心圆环;每个圆形环由多个相同纳米结构按圆周方向均匀排布而成,所有纳米结构单元的焦距均相等。本发明设置了多个纳米结构,通过根据不同波长的光设置每个纳米结构的相位,使每个纳米结构单元的焦距相等以实现不同波长的光聚焦在一个平面上,使面阵探测器能够准确的测量光强分布,以解决分光光学系统所产生的衍射串扰问题,实现光谱传感系统及光谱仪的高效集成化。
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公开(公告)号:CN113447121A
公开(公告)日:2021-09-28
申请号:CN202010221962.5
申请日:2020-03-26
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明涉及一种超表面光谱传感系统及光谱仪。所述超表面光谱传感系统包括:面阵探测器和超表面分光系统,所述超表面分光系统包括多个超表面单元;多个所述超表面单元设置在所述面阵探测器的上表面;每个所述超表面单元均包括多个相同的超原子;所述超表面单元用于针对设定谐振波长值透过率和非设定谐振波长值透过率不同,起到分光的作用;一个所述超表面单元对应一个设定谐振波长值;所述面阵探测器用于探测所述超表面单元透过的光。本发明通过在面阵探测器上表面设置集成化的超表面分光系统,以缩小光谱传感系统的体积,进而减小光谱仪的体积,实现光谱仪的小型化。
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公开(公告)号:CN111830009A
公开(公告)日:2020-10-27
申请号:CN202010729989.5
申请日:2020-07-27
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/65
Abstract: 本发明涉及一种全介质超表面集成化拉曼光谱探测系统。该系统包括激光器、光纤、波导、纳米结构阵列、滤波片和超表面光谱仪,波导激发传输拉曼信号,纳米结构阵列设置在波导的上表面,纳米结构阵列提供强电磁场,将探测物分子悬浮设置在纳米结构阵列周围,探测物分子在强电磁场作用下发出拉曼信号,滤波片镀在波导输出端,滤波片将波导输出的泵浦光滤掉,超表面芯片光谱仪设置在滤波片的表面,超表面芯片光谱仪将滤波片滤掉入射光波段后的拉曼信号进行解析,得到探测物分子的各种光谱信息。本发明能够实现拉曼信号的激发、增强、采集在同一结构上同步进行,完成高度集成芯片化拉曼传感系统的目标。
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公开(公告)号:CN110927170A
公开(公告)日:2020-03-27
申请号:CN201911226014.4
申请日:2019-12-04
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明提供了一种缺陷确定方法、装置以及系统,通过先确定待测元件表面是否存在参考缺陷点,若存在,则对所确定的参考缺陷点进行预设激光辐照处理,将预设激光辐照处理过程中荧光信号强度的降低量低于第一预设值且散射光信号强度的降低量低于第二预设值的参考缺陷点确定为待测元件表面的目标缺陷点,目标缺陷点即为元件表面低损伤阈值缺陷,有效地实现了对元件表面低损伤阈值缺陷的定位,有利于去除元件表面低损伤阈值缺陷,提高元件的激光损伤性能。
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公开(公告)号:CN110849815A
公开(公告)日:2020-02-28
申请号:CN201911213585.4
申请日:2019-12-02
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明涉及一种预测光学元件表面激光损伤性能的方法和系统,通过选取标准光学元件;获取所述标准光学元件的吸收性缺陷分布特性,得到不同吸收水平的缺陷密度;获取损伤性能;损伤性能包括损伤阈值和损伤密度;采用Spearman相关性分析法,确定标准光学元件的不同吸收水平的缺陷密度中与损伤性能相关性最高的缺陷密度,得到各所述损伤性能对应的缺陷密度,并建立损伤性能与其对应的缺陷密度之间的关联曲线,作为标准曲线;获取待检测光学元件的缺陷密度,根据所述标准曲线,确定所述待检测光学元件的损伤性能。本发明提供的预测光学元件表面激光损伤性能的方法和系统,能够在不损坏光学元件的基础上,提高光学元件损伤性能的评估准确性。
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公开(公告)号:CN108710163A
公开(公告)日:2018-10-26
申请号:CN201810436156.2
申请日:2018-05-08
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G02B1/10 , G02B1/14 , C09D129/04
Abstract: 一种熔石英表面镀聚乙烯醇涂层、制备方法以及应用,本发明属于光学材料制备技术领域,包括:用孔径为0.15‑0.30μm的PVDF过滤头对质量百分比为0.5%‑5%的聚乙烯醇水溶液进行过滤,最后冷却待用;通过旋涂或提拉镀膜的方式将所述聚乙烯醇镀制在表面整洁的熔石英基片后表面,干燥后得到聚乙烯醇涂层。这种聚乙烯醇涂层能够将最高电场强度的分布从熔石英后表面转移到涂层上,从而降低熔石英后表面的电场强度,其在紫外波段的激光损伤阈值提高10‑20%。这种方法工艺简单,条件温和,易于控制,成本低廉,环境友好,在光学材料领域具有良好的应用前景。
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公开(公告)号:CN118343995A
公开(公告)日:2024-07-16
申请号:CN202410274889.6
申请日:2024-03-12
Applicant: 西南科技大学 , 中钢集团马鞍山矿院新材料科技有限公司 , 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种窄粒径分布复合硅酸盐凝胶微球及其制备方法和应用。对水玻璃或硅溶胶进行稀释和酸化处理后加入碱金属、碱土金属等无机盐以及黄原胶溶液得到均匀、稳定的复合硅酸盐前驱液,在苯甲醇或聚二甲基硅氧烷中加入乳化剂得到油相;采用二次膜乳化技术制备油包水乳液,通过膜管孔径、气压、磁力泵流速等对乳液的粒径分布进行调控,获得窄粒径分布乳液;采用旋转蒸发法对乳液进行固化,得到窄粒径分布复合硅酸盐凝胶微球。本发明具有实验设备及工艺方法简单,经济成本低,适合大批量生产等优点,所制备的微球粒径分布窄、球形度好、表面光滑,且含多种有利于调控玻璃性能的金属元素,可应用于高强度、低密度空心玻璃微球的制备。
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公开(公告)号:CN117700078A
公开(公告)日:2024-03-15
申请号:CN202410093530.9
申请日:2024-01-23
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 , 中钢集团马鞍山矿院新材料科技有限公司 , 西南科技大学 , 东南大学
Abstract: 本发明公开了一种多孔结构的空心玻璃微珠前体微粒的制备及应用,包括:将硅溶胶与水混合,接着在磁力搅拌下加入水玻璃,得到混合液;将金属醋酸盐和硼酸溶解成饱和水溶液,在磁力搅拌下加入到混合液中,用醋酸调节pH,得到白色乳液,通过匀质机搅拌后进行喷雾干燥,得到多孔结构的空心玻璃微珠前体微粒。本发明的多孔结构的空心玻璃微珠前体微粒内部已有的微孔取代了微粒在发泡成球过程中的气泡成核过程,缩短发泡成球时间,消除球壁中未聚并的气泡,减少发泡不完全的粒子,提高空心玻璃微珠的成品率及性能。本发明采用交联不完全的硅溶胶为原料,用化学键合作用取代了传统软化学法制备微粒的粘结聚集作用,增强了前体微粒的耐压强度。
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公开(公告)号:CN115839920A
公开(公告)日:2023-03-24
申请号:CN202211509369.6
申请日:2022-11-29
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/25 , G01N21/88 , G01N21/954
Abstract: 本发明公开了一种光谱内窥式检测方法及对应的检测装置,步骤一,基于带光源的内窥镜与受限空间中的目标进行靠近或接触,确保受限空间中目标的光学图像能够通过分光成像模块分别导出到相机、光谱传感器上;步骤二,基于内窥镜进行检测点的标定,以得到对应的标定点;步骤三,通过相机的成像观察受限空间中目标上是否有缺陷、腐蚀点;其中,在步骤三中,在观察中如确定目标上存在缺陷、腐蚀点,则通过移动内窥镜将标定点的位置对准缺陷、腐蚀点,获取相应的光谱信息。本发明提供一种光谱内窥式检测方法及对应的检测装置,通过光谱传感器获取视场标定点位置的光谱信息,通过目标图像及内窥镜移动,可实现对目标上感兴趣的位置点进行光谱分析。
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