光学元件表面清洗系统及其清洗方法

    公开(公告)号:CN114011757B

    公开(公告)日:2022-08-26

    申请号:CN202111287733.4

    申请日:2021-11-02

    Abstract: 本发明公开了一种光学元件表面清洗系统,包括机架;安装在机架上的电控旋转台,电控旋转台设有用于固定光学元件的夹持机构;通过三维移动机构安装在电控旋转台一侧的清洗座,该清洗座上设有风刀和清洗头接口,并配置有等离子清洗头和液体擦拭清洗头;安装在清洗座上的位置传感器,用于检测与光学元件的距离,并将距离信号输出;以及控制器,能够根据所述距离信号控制三维移动机构、电控旋转台运动,以调整清洗座与光学元件的相对位置,并控制清洗座按预设清洗轨迹对光学元件进行清洗。本发明能够实现光学元件表面的自动清洗,相比人工擦拭清洗,极大提高了清洗效率,保证清洗工艺的稳定性,提高清洗效果。本发明还公开了上述清洗系统的清洗方法。

    光机模块装配小车
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114310824A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202210003722.7

    申请日:2022-01-05

    Abstract: 本发明公开了一种光机模块装配小车,包括底部配置有滚动元件的底座;一端转动连接在位于底座前端的安装座上的倾斜托板;用于驱动倾斜托板在倒平位置和前倾位置之间转动的倾斜驱动机构;以及借助平移机构安装在倾斜托板上的装配平台,其能够在平移机构驱动下沿倾斜托板滑动;其中,倾斜托板在倒平位置时,与底座平行,处于前倾位置时,由底座前端向前倾斜。本发明能够实现各光机模块的柔性精密装配及现场安装,具有操作方便,可靠性好,安全性高等优点。

    转轴夹角测量方法
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108709515A

    公开(公告)日:2018-10-26

    申请号:CN201810813992.8

    申请日:2018-07-23

    Abstract: 本发明公开了一种转轴夹角测量方法,在待测机构上安装反射镜,并在反射镜正前方架设自准直仪,利用自准直仪对其表面进行准直,然后再分别调整转轴,读取叉丝像点在自准直CCD上的X和Y轴方向角度分量,再根据准直完的像点与调整后的像点连线必与所调整的一维的转轴相互垂直及三角函数关系便可求出所调整的一维的转轴与自准直仪X轴方向夹角,同理,求出另一维转轴与自准直仪X轴方向的夹角,最后将这两维转轴与自准直仪X轴方向夹角角度值相减便可求得该两维转轴的夹角。采用非接触式的测量方法,实现对待测机构的二维或者二维以上的多个维度转轴夹角的测量,其测量精度和通用性极高,可操作性良好,且成本低,操作简单。

    楔形透镜精密定轴方法
    14.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104483741B

    公开(公告)日:2017-07-18

    申请号:CN201410672250.X

    申请日:2014-11-20

    Abstract: 本发明公开了一种楔形透镜精密定轴方法,根据生产厂家给定的楔形透镜楔角值,借助旋转分度台、标准镜、自准直仪和内调焦望远镜建立楔形透镜定轴基准,再加入楔形透镜,调整楔形透镜姿态或调整内调焦望远镜姿态,采用基准过渡和多个基准复合定位的方法,达到楔形透镜精密定轴的目的。本发明的显著效果是:本发明基于平面和曲面反射远场成像的原理,通过基准复制传递,楔角补偿,建立多个基准同时对楔形透镜平面和曲面法线进行监测,保证了定出的楔形透镜光轴的精确性;实现了不同楔角、不同口径、不同曲率半径的楔形透镜精密定轴,具有很高的通用性和实用性。

    楔形透镜精密定轴方法
    15.
    发明公开

    公开(公告)号:CN104483741A

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:CN201410672250.X

    申请日:2014-11-20

    CPC classification number: G02B7/023

    Abstract: 本发明公开了一种楔形透镜精密定轴方法,根据生产厂家给定的楔形透镜楔角值,借助旋转分度台、标准镜、自准直仪和内调焦望远镜建立楔形透镜定轴基准,再加入楔形透镜,调整楔形透镜姿态或调整内调焦望远镜姿态,采用基准过渡和多个基准复合定位的方法,达到楔形透镜精密定轴的目的。本发明的显著效果是:本发明基于平面和曲面反射远场成像的原理,通过基准复制传递,楔角补偿,建立多个基准同时对楔形透镜平面和曲面法线进行监测,保证了定出的楔形透镜光轴的精确性;实现了不同楔角、不同口径、不同曲率半径的楔形透镜精密定轴,具有很高的通用性和实用性。

    一种单口径电光开关的装校工艺

    公开(公告)号:CN109387951B

    公开(公告)日:2023-09-22

    申请号:CN201811497646.X

    申请日:2018-12-07

    Abstract: 本发明公开了一种单口径电光开关的装校工艺,支撑架的上端安装有支撑台,支撑台的中部设有具有导向通孔的导向柱,导向通孔的下端安装有调节螺栓,支撑台上设有晶体调节块,晶体调节块的一端设有滑动安装在所述导向通孔内的延伸部;支撑台上还固定安装有沿晶体调节块周向环绕的定位框,将晶体真片放置在晶体调节块上,再将普克尔盒放置在支撑台上,调整所述调节螺栓使晶体真片与普克尔盒平面处于同一平面上,并锁紧止锁螺钉,然后在间隙中填充有机弹性硅胶,并固化24小时,固化完成后装配密封圈和玻璃并旋紧金属压框,在填充有机弹性硅胶时晶体真片没有移动,因此不会产生内应力。

    大口径KDP晶体最佳相位匹配角测量系统及其测量方法

    公开(公告)号:CN114413794A

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN202210109674.X

    申请日:2022-01-29

    Abstract: 本发明公开了一种大口径KDP晶体最佳相位匹配角测量系统及其测量方法,包括依次设置的激光器、整形器、标准镜、凹透镜和CCD相机,激光器出射激光经整形器整形后垂直入射到凹透镜,从而产生从多个角度入射到待测KDP晶体表面的激光,CCD相机用于接收并记录由待测KDP晶体出射的激光;所述测量系统还包括激光自准直仪、晶体自准直仪和图像处理模块,激光自准直仪用于对标准镜及激光器出射激光进行准直,晶体自准直仪用于准直待测KDP晶体,图像处理模块能够读取CCD相机获取的图像并计算出对应的相位匹配角。本发明能够实现KDP晶体相位匹配角度的精确测量,具有自动化程度高,操作方便,测量准确等优点。

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