一种波前控制方法及系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118584654A

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202410843919.0

    申请日:2024-06-27

    IPC分类号: G02B26/06

    摘要: 本发明提供了一种波前控制方法及系统,包括:利用夏克哈特曼波前传感器获得待校正激光光束入射到夏克哈特曼波前传感器上的子孔径光斑分布,控制器根据待校正激光光束入射到夏克哈特曼波前传感器上的子孔径光斑分布的区域取一个最小外接矩形,计算最小外接矩形的子孔径的波前斜率,并根据各子孔径的波前斜率计算出待校正激光光束的波前,根据待校正激光光束的波前数据与变形镜的响应函数,利用最小二乘法计算出变形镜的第一驱动电压,控制变形镜实现对待校正激光光束波前的校正,实现了波前控制过程在入射光束区域的最小外接矩形的条件下进行,使得波前控制能够不受入射光束截面形状的影响,极大的提高了波前校正的准确性。

    一种波前测量方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108775965B

    公开(公告)日:2019-11-12

    申请号:CN201810889999.8

    申请日:2018-08-07

    IPC分类号: G01J9/00

    摘要: 本发明涉及一种波前测量方法,属于波前测量技术领域,对于存在波前畸变的待测激光束,采用哈特曼传感器进行波前测量,得到初次波前畸变,将待测激光束进行扩束,采用哈特曼传感器测量扩束后待测激光束的波前畸变,得到二次波前畸变,对初次波前畸变、二次波前畸变求差,得到待测激光束的波前畸变,本发明通过哈特曼传感器测量两组不同口径的光束相应得到两组不同空间分布特性的波前畸变,通过控制器对波前畸变进行处理,从而在不标定哈特曼传感器自身像差的条件下得到高精度的波前测量结果,可被应用于高精度波前探测相关领域。

    一种波前控制方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109633891A

    公开(公告)日:2019-04-16

    申请号:CN201910039436.4

    申请日:2019-01-16

    IPC分类号: G02B26/00 G02B27/00

    CPC分类号: G02B26/00 G02B27/0025

    摘要: 本发明涉及一种波前控制方法,属于自适应光学技术领域,所述方法为利用波前传感器获得入射光束的波前像差,分析得到低阶像差和高阶像差,根据变形镜响应函数、低阶像差和高阶像差特征,驱动变形镜的驱动器处于互锁模式,以校正低阶像差,驱动变形镜的驱动器处于解锁模式,以校正高阶像差,相比于传统的波前控制方法,本发明中变形镜的驱动器通过互锁模式和解锁模式的切换,实现了变形镜响应函数的变化,进而实现对低阶像差和高阶像差的同时校正,仅使用一个变形镜达到传统波前控制方法中两个变形镜的校正效果,降低了系统的复杂度及制作成本,具有较好的应用推广前景。

    光学器件装校平台及单口径电光开关的装校工艺

    公开(公告)号:CN109387951A

    公开(公告)日:2019-02-26

    申请号:CN201811497646.X

    申请日:2018-12-07

    IPC分类号: G02B27/62 G02B7/00

    摘要: 本发明公开了一种光学器件装校平台及单口径电光开关的装校工艺,支撑架的上端安装有支撑台,支撑台的中部设有具有导向通孔的导向柱,导向通孔的下端安装有调节螺栓,支撑台上设有晶体调节块,晶体调节块的一端设有滑动安装在所述导向通孔内的延伸部;支撑台上还固定安装有沿晶体调节块周向环绕的定位框,将晶体真片放置在晶体调节块上,再将普克尔盒放置在支撑台上,调整所述调节螺栓使晶体真片与普克尔盒平面处于同一平面上,并锁紧止锁螺钉,然后在间隙中填充有机弹性硅胶,并固化24小时,固化完成后装配密封圈和玻璃并旋紧金属压框,在填充有机弹性硅胶时晶体真片没有移动,因此不会产生内应力。