一种基于发散光束的倍频晶体特征角度的测量装置和方法

    公开(公告)号:CN108168470B

    公开(公告)日:2023-07-04

    申请号:CN201810233020.1

    申请日:2018-03-21

    Abstract: 本发明公开了一种基于发散光束的倍频晶体特征角度的测量装置和测量方法。该装置由照明光源、定位基准元件、发散透镜、待测晶体、匹配透镜和CCD组成。用于照明的平行光束注入整个测量装置,经过定位基准元件、发散透镜后垂直入射到待测晶体表面。然后通过匹配透镜和CCD组成的光学系统将入射光成像于监视CCD上,通过CCD采集图像中的灰度值最大点的位置坐标来反推使倍频效率最大时对应的倍频晶体偏离准直位的夹角,从而得出倍频晶体的特征角度。本方法有效的解决了快速精确测量晶体特征角度的难题,消除了在测量过程中因为入射光束不稳定性引入的光束角漂对测试结果的影响,具有测量原理简单,操作简便等优点。

    一种基于发散光束的倍频晶体特征角度的测量装置和方法

    公开(公告)号:CN108168470A

    公开(公告)日:2018-06-15

    申请号:CN201810233020.1

    申请日:2018-03-21

    Abstract: 本发明公开了一种基于发散光束的倍频晶体特征角度的测量装置和测量方法。该装置由照明光源、定位基准元件、发散透镜、待测晶体、匹配透镜和CCD组成。用于照明的平行光束注入整个测量装置,经过定位基准元件、发散透镜后垂直入射到待测晶体表面。然后通过匹配透镜和CCD组成的光学系统将入射光成像于监视CCD上,通过CCD采集图像中的灰度值最大点的位置坐标来反推使倍频效率最大时对应的倍频晶体偏离准直位的夹角,从而得出倍频晶体的特征角度。本方法有效的解决了快速精确测量晶体特征角度的难题,消除了在测量过程中因为入射光束不稳定性引入的光束角漂对测试结果的影响,具有测量原理简单,操作简便等优点。

    一种光束反转器
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN119472061B

    公开(公告)日:2025-04-15

    申请号:CN202510066109.3

    申请日:2025-01-16

    Abstract: 本发明提供了一种光束反转器,包括:沿激光传输方向依次设置的第一柱面凸透镜、第二柱面凸透镜、第一反射镜、第二反射镜,第一柱面凸透镜的柱面脊线与第二柱面凸透镜的柱面脊线均与入射光束的偏振方向成45°夹角,使得入射光束依次通过第一柱面凸透镜、第二柱面凸透镜、第一反射镜、第二反射镜后,入射光束的偏振方向旋转的角度为90°,光学元件数量较少且成直线或简单的直角反射排列,不需要调节复杂的空间角锥镜组,进一步降低了装调难度,节约成本,很大程度上提高了本发明的可用性和可靠性。

    一种光束反转器
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119472061A

    公开(公告)日:2025-02-18

    申请号:CN202510066109.3

    申请日:2025-01-16

    Abstract: 本发明提供了一种光束反转器,包括:沿激光传输方向依次设置的第一柱面凸透镜、第二柱面凸透镜、第一反射镜、第二反射镜,第一柱面凸透镜的柱面脊线与第二柱面凸透镜的柱面脊线均与入射光束的偏振方向成45°夹角,使得入射光束依次通过第一柱面凸透镜、第二柱面凸透镜、第一反射镜、第二反射镜后,入射光束的偏振方向旋转的角度为90°,光学元件数量较少且成直线或简单的直角反射排列,不需要调节复杂的空间角锥镜组,进一步降低了装调难度,节约成本,很大程度上提高了本发明的可用性和可靠性。

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