一种光学元件表面吸收性缺陷的检测方法及检测系统

    公开(公告)号:CN119023701A

    公开(公告)日:2024-11-26

    申请号:CN202411497463.3

    申请日:2024-10-25

    Abstract: 本发明公开了一种光学元件表面吸收性缺陷的检测方法及检测系统,涉及光学元件检测领域,包括:S1、基于微区受抑全反射成像原理,采用EMCCD在受抑全反射条件下扫描标准玻片上的探针光倏逝波图像Ⅰ;S2、在探针光倏逝波图像Ⅰ采集之后或之前,扫描未泵浦条件下元件表面的探针光倏逝波图像Ⅱ;S3、基于设定坐标及路径,完成对待测光学元件全口径范围内的扫描;S4、将各探针光倏逝波图像Ⅰ、各探针光倏逝波图像Ⅱ分别进行拼接、对比,得到光学元件全口径范围内吸收性缺陷的相对光吸收强度。本发明提供一种光学元件表面吸收性缺陷的检测方法及检测系统,能在高效率的情况下,保证高灵敏度的检测效果。

    石英以及增加石英抗激光损伤性能的方法

    公开(公告)号:CN108455870B

    公开(公告)日:2021-06-08

    申请号:CN201810342443.7

    申请日:2018-04-17

    Abstract: 本发明涉及光学材料领域,具体而言,涉及一种石英以及增加石英抗激光损伤性能的方法。增加石英抗激光损伤性能的方法,包括以下步骤:对石英基片进行刻蚀处理后在所述石英基片上沉积二氧化硅;在沉积所述二氧化硅的同时,对沉积的所述二氧化硅进行熔融。其通过刻蚀能够将较小的微裂纹完全去除,同时能将较大的微裂纹完全暴露并钝化裂纹尖端,便于后续熔覆过程对微裂纹的填补和修复。而后利用熔融沉积的二氧化硅的流动性修复填补裂纹,从而提高熔石英的机械性能并最终提升其抗激光损伤性能。同时,大面积均匀的沉积和熔覆玻璃涂层,使得熔石英整个表面具有较好的面型。

    一种利用湿法刻蚀制作熔石英衬底曲线型光栅元件的方法

    公开(公告)号:CN116626793A

    公开(公告)日:2023-08-22

    申请号:CN202310599730.7

    申请日:2023-05-25

    Abstract: 本发明公开了一种利用湿法刻蚀制作熔石英衬底曲线型光栅元件的方法,包括:对熔石英衬底进行清洗;对清洗后的熔石英衬底表面涂覆光敏性有机材料膜层;在涂覆有光敏性有机材料膜层的熔石英衬底表面曝光显影,产生光栅图像;进行湿法刻蚀,将曝光显影产生的光栅图像转移到熔石英衬底上,得到熔石英衬底光栅;对熔石英衬底光栅进行清洗,去除湿法刻蚀后熔石英衬底光栅表面残留的光敏性有机材料膜层材料,得到熔石英衬底曲线型光栅元件。本发明的方法可制作无亚表面缺陷的熔石英衬底光栅元件,进而提升熔石英衬底光栅元件的抗激光损伤性能,延长光栅元件使用寿命,降低熔石英衬底光栅元件使用成本。

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