在机测量系统中的线激光传感器位姿标定方法

    公开(公告)号:CN113739717A

    公开(公告)日:2021-12-03

    申请号:CN202110962375.6

    申请日:2021-08-20

    Abstract: 本发明公开了一种在机测量系统中的线激光传感器位姿标定方法,包括以下步骤:将在机测量系统的坐标系划分为传感器测量坐标系OMXMYMZM、刀具坐标系OCXCYCZC和工件坐标系OPXPYPZP;以标准平面和标准球为测量对象,根据机床的多维平移信息和线激光传感器测得的距离信息计算线激光传感器的三维姿态,实现传感器测量坐标系向工件坐标系的转换;利用传感器夹具采用并行调节的方式将线激光传感器的三维姿态调节至理想姿态。本发明适用于三轴、四轴和五轴数控机床,具有低标定误差,能将工件三维轮廓的检测精度提升至几十甚至十几微米的水平,能够提高工件的加工精度和加工效率。

    一种基于短相干的光学平板玻璃折射率测量系统及方法

    公开(公告)号:CN106018345A

    公开(公告)日:2016-10-12

    申请号:CN201610349666.7

    申请日:2016-05-24

    CPC classification number: G01N21/45

    Abstract: 本发明公开了一种基于短相干的光学平板玻璃折射率测量系统及方法,该系统包括迈克尔逊干涉仪,由短相干光源、分光棱镜、参考反射镜、和半透半反镜组成迈克耳逊干涉光路,利用迈克耳逊干涉光路等臂原理,参考反射镜可前后移动从而匹配半透板反镜与反射镜之间光程,通过光栅尺测量参考镜移动距离则可计算出半透半反镜与反射镜间光程。分别测量放入样品前后半透半反镜与反射镜间光程和测量旋转样品一定角度后半透半反镜与反射镜间光程,从而可计算得到样品的折射率。本装置结构简单,回避了测量光学玻璃物理厚度,实现了光学玻璃折射率的高精度测量,提出采用迭代的方法,可快速计算出光学玻璃折射率。

    一种精确测定单层化学膜折射率变化值的装置及方法

    公开(公告)号:CN109164064B

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN201811136812.3

    申请日:2018-09-28

    Abstract: 本发明涉及一种精确测定单层化学膜折射率变化值的装置及方法,属于高功率激光技术领域,该装置包括脉冲激光器、第一光电管、取样镜、石英棱镜、单层化学膜和第二光电管,所述石英棱镜为等边三棱镜,所述单层化学膜涂覆在石英棱镜的一个面上,所述脉冲激光器发出的光束经取样镜后,一部分入射到第一光电管上,剩余部分从石英棱镜的一个侧面射入,从涂有单层化学膜的一面射出,出射光线入射到第二光电管上,本发明的装置结构简单紧凑、成本低,能够有效测定高功率激光系统中单层化学膜折射率变化值,折射率变化值的检测精度达到0.0001。

    一种用于新型冠状病毒拉曼检测的装置

    公开(公告)号:CN114371160A

    公开(公告)日:2022-04-19

    申请号:CN202111674743.3

    申请日:2021-12-31

    Abstract: 本发明公开了一种用于新型冠状病毒拉曼检测的装置,包括监测光学架、光谱仪和核心控制器;监测光学架用于激发待测样品的光谱信号,并采集待测样品的图像数据;光谱仪用于收集监测光学架激发的光谱信号,并将光学信号转化为数字信号,发送至核心控制器;核心控制器用于接收上位机的控制信号、监测光学架的图像数据以及光谱仪的数字信号,并调用神经网络模型对图像数据以及数字信号进行分析,得到检测结果。本发明的装置既可以完成实际拉曼光谱数据的采集工作,又可以控制硬件工作逻辑以及最终的数据分析工作,为完成大量控制系统装置数据管理,还提供有控制系统装置与数据云平台通讯交互功能,实现云平台实时检测与管理检测数据。

    大口径倍频晶体o光e光与边缘平行度测量装置及方法

    公开(公告)号:CN110441035B

    公开(公告)日:2021-08-03

    申请号:CN201910772671.2

    申请日:2019-08-20

    Abstract: 本发明公开了大口径倍频晶体o光e光与边缘平行度测量装置及方法,属于光学测量领域,本发明包括:发射器组件,用于发出一束垂直偏振光;分光镜,用于将所述垂直偏振光分为第一光束、第二光束;第一探测器,用于记录第一光束的参量;第二光路,所述第二光路包括依次设置的起偏器、待测晶体、以及与所述起偏器正交布置的检偏器,还包括用于驱动所述起偏器和/或检偏器分别绕起偏器/或检偏器的轴线转动的旋转组件;第二探测器,用于记录第二光束通过第二光路后的参量;其中,所述第一光束与第二光束之间的参量变化限定所述垂直偏振光,本发明可极大地消除了用于发射激光的激光器功率随时间变化的影响。

    大口径平板元件剩余透反射率及不均匀性测量装置

    公开(公告)号:CN117490979A

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN202311214812.1

    申请日:2023-09-19

    Abstract: 本发明公开了一种大口径平板元件剩余透反射率及不均匀性测量装置,涉及光学元件透反射率及不均匀性的测量,其目的在于解决现有技术中因存在较大系统误差而致使最终测量误差较大的技术问题,相比于传统的双光路测量方法,本申请在光路中引入了参考高反射镜,并将其作为比较测量对象;由于引入的参考高反射镜的透射率在光路中进行了原位标定,其提高了系统误差测量的进度;结合剩余透射率、剩余反射率的计算公式,计算公式中都有乘以标定的参考高反射镜的剩余透射率,从而极大地降低随机误差,进一步提高测量精度。

    大口径倍频晶体o光e光与边缘平行度测量装置及方法

    公开(公告)号:CN110441035A

    公开(公告)日:2019-11-12

    申请号:CN201910772671.2

    申请日:2019-08-20

    Abstract: 本发明公开了大口径倍频晶体o光e光与边缘平行度测量装置及方法,属于光学测量领域,本发明包括:发射器组件,用于发出一束垂直偏振光;分光镜,用于将所述垂直偏振光分为第一光束、第二光束;第一探测器,用于记录第一光束的参量;第二光路,所述第二光路包括依次设置的起偏器、待测晶体、以及与所述起偏器正交布置的检偏器,还包括用于驱动所述起偏器和/或检偏器分别绕起偏器/或检偏器的轴线转动的旋转组件;第二探测器,用于记录第二光束通过第二光路后的参量;其中,所述第一光束与第二光束之间的参量变化限定所述垂直偏振光,本发明可极大地消除了用于发射激光的激光器功率随时间变化的影响。

    计算全息法测量长焦距透镜透射波前的检测装置

    公开(公告)号:CN206161284U

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201621175839.X

    申请日:2016-10-27

    Abstract: 本实用新型公开了一种计算全息法测量长焦距透镜透射波前的检测装置及检测方法,属于光学测量技术领域。其主要由干涉仪、被测长焦距透镜和菲涅尔波带片组成菲索干涉光路,干涉仪输出的准直平行光通过标准平面镜时,一束由标准平面镜参考面反射形成标准参考光束,另一束透过被测长焦距透镜透射、经波带片反射沿原路返回形成测试光束;测试光束与标准参考光束发生干涉,调整被测长焦距透镜,使干涉条纹最少,即可测量得到被测长焦距透镜的透射波前。本实用新型适用于长焦距透镜的透射波前的检测。

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