公开(公告)号：CN1230270C

公开(公告)日：2005-12-07

申请号：CN01107214.8

申请日：2001-02-27

Applicant: 中国兵器工业第五九研究所

Inventor： 李先禄 ,  吴键 ,  何长光 ,  张志明 ,  曹洋 ,  沈蕾芳

IPC: B23D36/00 ,  B23Q15/00 ,  B23Q15/20

Abstract: 本发明涉及是一种棒料锯切自动在线光电控制等重下料的计算机控制方法。它包括由锯切机、光电精密测径仪、光栅位移传感器、工控机构成的棒料锯切系统，其特征是采用了如下的控制步骤：光栅位移传感器，将测得的送料进给位移传送给工控机；与此同时，光电精密测径仪检测的对应直径值，通过串行通讯口也传输给工控机，工控机根据接收到的送料进给位移和对应直径值，计算瞬时重量增量ΔG瞬时i和瞬时重量G瞬时i。将瞬时重量G瞬时i+1与设定下料重量G下料的初始值进行比较判断，根据判断结果通过工控机开关量输入输出卡向锯切机发出继续送料或停止送料指令。本发明实现了棒料锯切自动在线光电控制等重下料，且下料精度高。

公开(公告)号：CN115598157B

公开(公告)日：2025-04-11

申请号：CN202110709363.2

申请日：2021-06-25

Applicant: 中国兵器工业第五九研究所

Inventor： 郑林 ,  窦世涛 ,  陈新 ,  张伦武 ,  张津 ,  伍太宾 ,  车路长 ,  王成章 ,  周堃 ,  赵方超 ,  何长光 ,  封先河

IPC: G01N23/20008 ,  G01N23/20

Abstract: 本发明公开了一种基于阵列探测的短波长特征X射线衍射测量装置，以及基于该装置的测量分析方法。该衍射测量装置的阵列探测器只探测接收源自于样品被测部位物质衍射且通过接收准直器的通光孔的衍射线，和通过接收准直器的通光孔的其它杂散线，以及通过定位孔的射线；通光孔的内锥边一的延长线与其内锥边二的延长线相交于入射X射线束的中心线上，且该相交点为装置的衍射仪圆圆心，样品被测部位位于装置的衍射仪圆圆心；所述方法采用了该衍射测量装置。采用本发明能够快速无损检测厘米级厚度样品内部的一个部位衍射花样，即一个或多个衍射的德拜环或衍射斑，实现样品内部一个部位的物相、织构、应力等晶体结构及其结构变化的快速无损检测分析。

公开(公告)号：CN115598157A

公开(公告)日：2023-01-13

申请号：CN202110709363.2

申请日：2021-06-25

Applicant: 中国兵器工业第五九研究所(CN)

Inventor： 郑林 ,  窦世涛 ,  陈新 ,  张伦武 ,  张津 ,  伍太宾 ,  车路长 ,  王成章 ,  周堃 ,  赵方超 ,  何长光 ,  封先河

IPC: G01N23/20008 ,  G01N23/20

Abstract: 本发明公开了一种基于阵列探测的短波长特征X射线衍射测量装置，以及基于该装置的测量分析方法。该衍射测量装置的阵列探测器只探测接收源自于样品被测部位物质衍射且通过接收准直器的通光孔的衍射线，和通过接收准直器的通光孔的其它杂散线，以及通过定位孔的射线；通光孔的内锥边一的延长线与其内锥边二的延长线相交于入射X射线束的中心线上，且该相交点为装置的衍射仪圆圆心，样品被测部位位于装置的衍射仪圆圆心；所述方法采用了该衍射测量装置。采用本发明能够快速无损检测厘米级厚度样品内部的一个部位衍射花样，即一个或多个衍射的德拜环或衍射斑，实现样品内部一个部位的物相、织构、应力等晶体结构及其结构变化的快速无损检测分析。

公开(公告)号：CN113740366A

公开(公告)日：2021-12-03

申请号：CN202010459120.3

申请日：2020-05-27

Applicant: 中国兵器工业第五九研究所

Inventor： 郑林 ,  窦世涛 ,  张津 ,  车路长 ,  陈新 ,  封先河 ,  唐伦科 ,  张伦武 ,  王成章 ,  伍太宾 ,  赵方超 ,  何长光

IPC: G01N23/20 ,  G01N23/20008

Abstract: 本发明提供了无损检测单晶体或定向结晶体内部晶体取向差异和晶界缺陷的方法及装置，方法步骤包括：采用透射的短波长特征X射线衍射，无损测定样品内部某一方向（h1k1l1）晶面的晶体取向角（ϑ1，κ1），并判定该样品晶面取向角是否超差；在该晶面的（ϑ1，κ1）方向上，平移样品扫描测量被测样品各部位的（h1k1l1）晶面衍射强度及其分布，根据测量结果判定被测样品内部是否存在晶界缺陷、亚晶界缺陷。装置包括样品台、X射线照射系统和X射线探测系统及用于改变入射X射线束与样品夹角的转动机构等。采用本发明，解决了不能快速准确地无损测定单晶体和定向结晶体内部晶体取向差异、亚晶界、晶界等晶体缺陷的难题。

公开(公告)号：CN113310611A

公开(公告)日：2021-08-27

申请号：CN202110784497.0

申请日：2021-07-12

Applicant: 中国兵器工业第五九研究所

Inventor： 郑林 ,  窦世涛 ,  张伦武 ,  张津 ,  车路长 ,  王成章 ,  周堃 ,  何长光 ,  彭正坤 ,  封先河 ,  陈新

IPC: G01L1/25

Abstract: 本发明公开了一种短波长特征X射线内部应力无损测试装置，包括X射线源及其入射准直器、测角仪、试样架、至少两个探测器及其接收准直器组等；各探测器及其相应的接收准直器均与探测器支架固定连接，各个探测器与接收准直器一一对应，由测角仪驱动各探测器及其相应的接收准直器转动；各探测器的接收口指向对应的接收准直器的出射口，接收准直器的接收口指向衍射仪圆圆心。在使用过程中可以调节接收准直器和探测器的位置，使多个探测器与样品之间具有不同的角度，从而使得各个探测器可以对应样品中不同的衍射晶面，从而实现同时对样品中多个衍射晶面进行测试，提高测试效率。本发明还提供了一种短波长特征X射线内部应力无损测试方法，同样具有上述有益效果。

公开(公告)号：CN109540940B

公开(公告)日：2021-06-29

申请号：CN201811487680.9

申请日：2018-12-06

Applicant: 中国兵器工业第五九研究所

Inventor： 窦世涛 ,  郑林 ,  何长光 ,  封先河 ,  肖勇 ,  彭正坤 ,  王成章 ,  张伦武

IPC: G01N23/20008 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明公开了一种准直器快速更换装置，包括用于位置可调的设于短波长X射线衍射仪器设备的调节基座和若干个用于与调节基座可拆卸连接的准直器，调节基座设有用于定位准直器的定位部，准直器设有用于与定位部配合定位的待定位部和用于使X射线穿过的通孔，各准直器的待定位部和通孔之间具有相同的相对位置。相比于现有技术采用具有调节结构的准直器整体，每次更换时均需再次重新调整更换后的准直器整体的光路，该准直器快速更换装置能够节省大量的准直器更换时所耗费的时间，可实现准直器的快速准确更换，给准直器的更换带来诸多便利。本发明还公开了一种包括上述准直器快速更换装置的短波长X射线衍射仪器设备。

公开(公告)号：CN2470785Y

公开(公告)日：2002-01-09

申请号：CN01214320.0

申请日：2001-02-27

Applicant: 中国兵器工业第五九研究所

Inventor： 李先禄 ,  何长光 ,  吴键 ,  曹洋

IPC: G01B11/08

Abstract: 本实用新型涉及一种棒料横截面最大线性尺寸光电测量装置,它由测量机构、驱动控制电路板、逻辑通讯电路板构成;其中测量机构包括外箱体1,前、后压盖2,前、后防尘板3,内箱体4,内方圈5,前、后盖板6,电光源7,会聚透镜8,成像透镜9,光栏10、电荷耦合器件11;驱动控制电路板12由电荷耦合阵列电路、二值化电路、水平方向驱动与滤波放大电路、竖直方向驱动与滤波放大电路构成。本实用新型实现了大直径钢材或大尺寸圆角方钢对角线尺寸的自动、连续、快速、准确的在线测量。