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公开(公告)号：CN109875593B
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN201910107265.4
申请日：2019-02-02
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明公开一种X射线多谱分离成像方法、存储介质和装置，该方法包括：步骤11：设定被测物的成像电压范围[V1,V2]；步骤12：在[V1,V2]的范围内取N个不同的扫描电压，N大于被测物所包含的材质总数K，且任意两个扫描电压之间的差值大于第一预设值，在每个扫描电压下对被测物进行全角度扫描成像，获得符合成像灰度要求的N个投影图像序列；步骤13：基于N个投影图像序列，求解满足泊松极大似然原理的变能量多谱衰减表达式中的被测物的所有材质对应的投影厚度矩阵D；步骤14：基于D，计算X射线中每个窄能谱段的分离投影pr，r＝1,2…R；步骤15：重建pr得到每个窄能谱段的重建图像ar。本发明的方法可以实现低成本、能谱分辨率高的多能谱CT成像。
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公开(公告)号：CN115330596A
公开(公告)日：2022-11-11
申请号：CN202210882079.X
申请日：2022-07-26
Applicant: 中北大学
IPC: G06T3/40 , G06V10/762
Abstract: 本发明涉及图像拼接技术，具体是一种适用于阵列显微CT成像的图像拼接方法，该方法是采用如下步骤实现的：步骤一：在多个视角下采集待测样品的图像，由此得到多幅图像；步骤二：针对每幅图像，将该图像的所有像素灰度值定义为一个数据集；然后，针对每个数据集，将该数据集划分为五个聚类；步骤三：将所有图像的灰度标定值定义为一个数据集，并将该数据集划分为五个聚类；步骤四：对各幅图像进行灰度重分配；步骤五：识别出各幅图像的重合区域，并计算出重合区域的位置关系，然后对各幅图像进行拼接，由此得到拼接图像。本发明有效解决了现有图像拼接方法在应用于阵列显微CT成像时容易导致拼接质量差、拼接图像失真的问题，适用于阵列显微CT成像。
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公开(公告)号：CN110726625A
公开(公告)日：2020-01-24
申请号：CN201911112506.0
申请日：2019-11-14
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明涉及一种岩石类材料断裂过程区长度的确定方法，属于岩石力学与工程技术领域,具体公开了在虚拟裂缝模型的理论基础上，通过数字散斑相关方法DIC获取断裂过程区附近范围的位移场数据，采用拉依达准则判断过程区尖端位置，从而计算断裂过程区的长度。该断裂过程区确定方法更准确，避免了过程区尖端位置确定时对数据处理经验的依赖。
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公开(公告)号：CN119784931A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202411718369.6
申请日：2024-11-27
Applicant: 中北大学
IPC: G06T17/00 , G06T17/10 , G06T5/50 , G06T5/60 , G06T11/00 , G06T7/10 , G06T7/62 , G06T7/73 , G06N3/0464 , G06N3/0455
Abstract: 本申请提供了一种三维CT成像方法、装置、电子设备和存储介质。该方法包括：针对待成像物体采集两张具有垂直关系的DR图像，并获取待成像物体的三维坐标信息；将两张具有垂直关系的DR图像，以及三维坐标信息输入到预设的三维体积重建模型，获取待成像物体的三维体积数据；对三维体积数据进行切片获得待成像物体的三维CT图像。该方法能够在保证成像质量的基础上提高三维体积重建速度，进而快速获得质量高的三维CT图像。
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公开(公告)号：CN119399298A
公开(公告)日：2025-02-07
申请号：CN202411346482.6
申请日：2024-09-25
Applicant: 中北大学
IPC: G06T11/00
Abstract: 本申请提供了一种锥束CT散射校正方法、装置、电子设备和存储介质。该方法包括：获取采集设备采集的两组工件的DR投影，以及散射校正板的单幅DR投影；基于两组工件的DR投影生成第一DR投影集和第二DR投影集；并基于第一DR投影集和第二DR投影集获得离散散射信号集；对单幅DR投影进行图像处理，获得孔洞区域；基于离散散射信号集和孔洞区域，结合CS理论建立L1范数约束模型，并通过ADMM算法求解，重构出完整散射信号；在第一DR投影集中扣除完整散射信号，获得校正后的DR投影。该方法能够提高散射校正的准确率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119296102A
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202411254597.2
申请日：2024-09-09
Applicant: 中北大学
IPC: G06V20/70 , G06V20/10 , G06V10/26 , G06V10/58 , G06V10/44 , G06V10/80 , G06V10/82 , G06N3/0464 , G06N3/0455
Abstract: 本发明涉及图像目标检测技术领域，公开了一种基于光谱‑空间特征联合的高光谱图像分割方法，包括以下步骤：1)获取高光谱图像数据集；2)基于深度学习的多尺度空间‑光谱特征联合的高光谱图像分割；3)网络分割效果评估。本发明利用深度学习方法对高光谱图像实现分割，通过提出一种光谱‑空间特征联合的分割方法，有效提取高光谱图像的光谱特征和空间特征并进行融合，同时提升模型的预测准确度。
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公开(公告)号：CN115903065A
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN202211716842.8
申请日：2022-12-29
Applicant: 中北大学 , 重庆长安工业(集团)有限责任公司
IPC: G01V5/00 , G01N23/046
Abstract: 本公开实施例提供了一种产品装配缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质。通过X射线采集倾斜预设角度的待检测产品的单视角投影数据；其中，所述待检测产品倾斜预设角度使所述待检测产品的内部零件在投影数据中均显示；对所述单视角数据进行预处理；基于预设检测模型获取预处理后的所述单视角投影数据对应的所述待检测产品的内部零件的分类信息和定位信息；根据所述定位信息确定是否存在漏装零件；根据所述分类信息和所述定位信息确定内部零件之间的位置关联关系；并利用确定的位置关联关系与预设位置关联关系进行匹配；确定是否存在错位、错装；输出检测结果。该方法能够减少检测时的数据采集和计算复杂度，提高了检测速度和准确性。
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公开(公告)号：CN115272254A
公开(公告)日：2022-11-01
申请号：CN202210920637.7
申请日：2022-08-02
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明涉及硅钢板不平度检测技术，具体是一种快速高精度的硅钢板不平度检测方法。本发明解决了现有硅钢板不平度检测方法无法兼顾检测精度和检测速度的问题。一种快速高精度的硅钢板不平度检测方法，该方法是采用如下步骤实现的：步骤一：利用均匀线光源照射硅钢板边沿，并利用工业相机采集硅钢板边沿的边浪图像；步骤二：利用将亮度梯度作为生长准则的种子点生长法分割出边浪图像的ROI区域；步骤三：利用三尺度高斯滤波对ROI区域进行图像增强；步骤四：利用最大类间方差法对ROI区域进行二值化处理，然后利用轮廓提取函数提取ROI区域的轮廓线；步骤五：利用RANSAC算法对ROI区域的轮廓线的下部曲线进行拟合。本发明适用于硅钢板不平度检测。
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公开(公告)号：CN115728326B
公开(公告)日：2025-05-02
申请号：CN202211410044.2
申请日：2022-11-10
Applicant: 中北大学
IPC: G01N23/04
Abstract: 一种基于X射线探测树木皮下钻蛀性害虫的方法，属于无损探测技术领域，利用树木韧皮部和害虫的密度、厚度的不同，可以分辨出树木内部有无害虫存在，从而能够准确地监测树木内部害虫的蛀食危害行为。本发明通过以下步骤予以实现：S1、安装X射线成像检测系统；S2、获取图像；S3、图像处理（灰度值伽马校正）S4、图像分析。本发明利用X射线技术扫描疑似被钻蛀性害虫侵害树木，可以在不损害树干生长的条件下，准确高效地发现树皮下害虫活动的位置，提高单株探测的准确率，而且不需要耗用大量的人力物力，高效实用，具有很好的发展前景。
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公开(公告)号：CN118736122A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410831945.1
申请日：2024-06-25
Applicant: 中北大学
IPC: G06T17/00 , G06T19/20 , G06N3/0455 , G06N3/08
Abstract: 本申请提供了一种基于X射线双投影的三维CT成像方法和装置，该方法包括：针对待成像物体采集两张具有垂直关系的DR图像；基于预设三维体积重建模型获得两张具有垂直关系的DR图像对应的待成像物体的三维体积；对三维体积进行切片获得待成像物体的三维CT成像；其中，预设三维体积重建模型的生成包括：获取训练数据集；其中，训练数据集是由周向采集的参考物体的DR图像组成的；使用训练数据集中具有垂直关系的DR图像对待训练三维体积重建模型进行训练，获得预设三维体积重建模型。该方法能够在保证成像质量的基础上提高三维体积重建速度，进而快速获得质量高的三维CT成像。
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