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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116612000A
公开(公告)日：2023-08-18
申请号：CN202310540271.5
申请日：2023-05-15
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提出了一种用于筒形舱段三维测量的点云自动拼接方法，该方法根据筒形舱段的集合特点，将体量巨大的点云数据精简为仅多个断面的具有直线特征的拟合圆心和圆柱最边缘点云，只需使用两点距离法进行点云匹配及最小二乘法进行点云拼接即可，计算复杂度低、速度快，能够实现点云自动拼接，容易嵌入在测量软件中实现一键式尺寸测量。
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公开(公告)号：CN116007494A
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202211611784.2
申请日：2022-12-14
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例提供了一种全自动大型构造件检测装置，其特征在于，包括：激光影像扫描系统、移动升降平台系统、控制终端、靶标、围栏及测量工装；其中，所述激光影像扫描系统至于所述围栏内，用于扫描待测物体；所述移动升降平台系统用于支撑并且控制所述激光影像扫描系统的位置；所述控制终端位于围栏外侧，用于控制所述激光影像扫描系统测量和移动走位；所述靶标均匀分布于大型构造件表面，用于多站位测量拼接成像数据；所述围栏用于区分工作区域与非工作区域，且起到安全防护作用；所述测量工装用于支撑所述待测物体；所述检测软件安装于控制终端。
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公开(公告)号：CN116465271A
公开(公告)日：2023-07-21
申请号：CN202310623978.2
申请日：2023-05-30
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种用于光学轴类测量仪校准的阶梯型变径标准轴规，其特征在于，其由两种不同结构式样的阶梯型变径标准轴规组成，第一种阶梯型变径标准轴规的结构式样以中间的圆柱为最大轴径，沿上下两侧轴向逐步减小轴径，直至两端为最小轴径，第二种阶梯型变径标准轴规的结构式样以靠近下端部的第二、第三或第四个圆柱为最大轴径，向上沿轴向逐步减小轴径，两端为最小轴径。本发明的用于光学轴类测量仪校准的阶梯型变径标准轴规可用于对所有的光学轴类测量仪进行校准，可同时对轴径和轴长的精度进行校准，具有通用性强、测量准确度高、工作可靠等优点，实用性显著。
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公开(公告)号：CN114396870A
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN202111505865.X
申请日：2021-12-10
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种激光影像扫描系统测试验证方法，包括：现场测量验证空间、激光扫描式测量系统、测量靶标、激光跟踪仪、标准球杆、四面体核查标准器、标准孔杆、计算机及分析软件。通过与激光跟踪仪比对验证空间坐标测量精度，利用测量标准球杆验证测长精度，利用四面体核查标准器验证拼接精度，利用标准孔杆验证几何要素测量精度。本发明采用现场测试验证方法，通过构建空间测量场及测量要素，实现激光影像扫描系统的长度测量精度、多站拼接精度、几何要素探测精度等验证，形成一套完整的测试验证方案。本发明具有简单快速、可扩展性强等特征，采用的技术方法可以运用到其他大尺寸测量设备、多系统组网测试系统的现场快速测试验证、自校验中。
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公开(公告)号：CN219656819U
公开(公告)日：2023-09-08
申请号：CN202222649009.8
申请日：2022-10-08
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本实用新型提供了一种火箭筒段基准刻线偏扭测量系统，其特征在于，其包括放置于火箭筒段(6)的左右两侧的左侧激光雷达(1)、右侧激光雷达(2)，装在火箭筒段法兰盘(7)的基准刻线测量引导装置(3)，安装于基准刻线测量引导装置(3)上的标准靶球(4)，所述基准刻线测量引导装置(3)对齐火箭筒段(6)的基准刻线(5)。本实用新型的技术方案能够使得火箭筒段的基准刻线偏扭得到准确测量。该火箭筒段基准刻线偏扭测量系统具有操作简单、通用性强、测量准确度高、工作可靠的特点。
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