制造半导体器件的方法
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106486380A

    公开(公告)日:2017-03-08

    申请号:CN201610720187.1

    申请日:2016-08-24

    Abstract: 制造半导体器件的方法被提供。所述方法可以包括:形成从衬底突出的鳍型有源区;形成覆盖鳍型有源区的顶表面和两侧壁的栅绝缘膜。栅绝缘膜可以包括高k电介质膜。所述方法还可以包括:在栅绝缘膜上形成含金属层;在含金属层上形成包含氢原子的硅覆盖层;去除硅覆盖层中包含的氢原子的一部分;去除硅覆盖层和至少一部分含金属层;以及在栅绝缘膜上形成栅电极。栅电极可以覆盖鳍型有源区的顶表面和两个侧壁。

    包括二维材料的半导体器件以及制造该半导体器件的方法

    公开(公告)号:CN106169511A

    公开(公告)日:2016-11-30

    申请号:CN201610157055.2

    申请日:2016-03-18

    Abstract: 示例实施方式涉及包括二维(2D)材料的半导体器件以及制造该半导体器件的方法。一种半导体器件可以是包括至少一种掺杂的2D材料的光电器件。光电器件可以包括:第一电极;第二电极;以及在第一电极和第二电极之间的半导体层。第一电极和第二电极中的至少一个可以包括掺杂的石墨烯。半导体层可以具有大于或等于大约0.1eV的内建电势,或者大于或等于大约0.3eV的内建电势。第一电极和第二电极中的其中之一可以包括p掺杂的石墨烯,另一个可以包括n掺杂的石墨烯。备选地,第一电极和第二电极中的其中之一可以包括p掺杂或n掺杂的石墨烯,另一个可以包括金属性材料。

    原子层沉积设备
    16.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111424261B

    公开(公告)日:2023-09-08

    申请号:CN201910813222.8

    申请日:2019-08-30

    Abstract: 提供了一种原子层沉积(ALD)设备,所述ALD设备包括:第一工艺室,被构造为供应第一源气体并诱导第一材料膜的吸附。第二工艺室被构造为供应第二源气体并诱导第二材料膜的吸附。第三工艺室被构造为供应第三源气体并诱导第三材料膜的吸附。表面处理室被构造为对第一材料膜至第三材料膜中的每个执行表面处理工艺并去除反应副产物。热处理室被构造为对在其上以预定顺序吸附有第一材料膜至第三材料膜的基底执行热处理工艺并且使第一材料膜至第三材料膜转换为单一化合物薄膜。

    电子设备以及用于在电子设备中显示对象的方法

    公开(公告)号:CN105824511B

    公开(公告)日:2020-12-29

    申请号:CN201610053037.X

    申请日:2016-01-26

    Inventor: 李相烨

    Abstract: 提供一种电子设备。所述电子设备包括:显示器;以及处理器,被配置为:如果第一手势从所述显示器上所显示的一个或多个项目当中选择项目,则控制以在所述显示器上显示与所选择的项目有关的一个或多个第一对象,以及如果接续自所述第一手势的第二手势从所述一个或多个第一对象当中选择所述第一对象,则控制以在所述显示器上显示用于执行所选择的第一对象的功能的一个或多个第二对象。

    电子设备和确定电子设备的触摸按键输入的有效性的方法

    公开(公告)号:CN103914196B

    公开(公告)日:2018-12-14

    申请号:CN201310701427.X

    申请日:2013-12-18

    Abstract: 提供一种电子设备和确定电子设备的触摸按键输入的有效性的方法。一种用于确定触摸按键输入的有效性的电子设备以及一种用于所述电子设备的确定触摸按键输入的有效性的方法和设备。所述方法包括:确定触摸按键是否被输入以执行预设功能;如果确定触摸按键被输入,则确定被用来确定触摸按键的输入的有效性的虚拟按键是否被输入;基于虚拟按键是否被输入来确定触摸按键的输入的有效性。根据本发明,通过确定触摸按键输入是否是用户所意图的,有可能防止用户不期望的功能被执行。

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