具有纠错的半导体存储器设备
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN119847813A

    公开(公告)日:2025-04-18

    申请号:CN202410949475.9

    申请日:2024-07-16

    Abstract: 一种存储器系统,包括半导体存储器设备和控制半导体存储器设备的存储器控制器。该半导体存储器设备包括存储器单元阵列,该存储器单元阵列被划分为在第一方向和第二方向上布置的多个子阵列块。存储器控制器包括纠错码(ECC)引擎。在写入操作中,ECC引擎通过对包括多个子数据单元的用户数据执行ECC编码来生成奇偶校验数据,通过基于映射信息交织子数据单元来生成主数据,使得将被存储在目标子阵列块的一行中的两个子数据单元包括在一个符号中。映射信息指示多个子数据单元与存储多个子数据单元的目标子阵列块的行之间的映射关系。

    预测非易失性存储器件的剩余寿命的方法以及存储设备

    公开(公告)号:CN114664367A

    公开(公告)日:2022-06-24

    申请号:CN202111227999.X

    申请日:2021-10-21

    Abstract: 提供了预测非易失性存储器件的剩余寿命的方法以及执行该方法的存储设备。在预测非易失性存储器件的剩余寿命的方法中,执行读取序列。所述读取序列包括多个读取操作,所述多个读取操作中的至少一个读取操作被顺序地执行,直到成功地得到所述非易失性存储器件中存储的读取数据。生成序列类别和纠错码(ECC)解码信息。基于所述序列类别和所述ECC解码信息中的至少一者确定所述非易失性存储器件的寿命阶段。当确定所述非易失性存储器件对应于第一寿命阶段时,执行对所述非易失性存储器件的所述剩余寿命的粗略预测。当确定所述非易失性存储器件对应于所述第一寿命阶段之后的第二寿命阶段,执行对所述非易失性存储器件的所述剩余寿命的精细预测。

    存储装置和存储装置的操作方法

    公开(公告)号:CN113053441A

    公开(公告)日:2021-06-29

    申请号:CN202011410313.6

    申请日:2020-12-04

    Abstract: 公开了存储装置和存储装置的操作方法。一种存储装置包括非易失性存储器装置和存储器控制器。存储器控制器基于第一读取命令从非易失性存储器装置接收第一数据,并且对第一数据执行错误校正。当错误校正失败时,存储器控制器将第二读取命令和第二读取电压信息发送至非易失性存储器装置,从非易失性存储器装置接收第二数据,将第三读取命令和第三读取电压信息发送至非易失性存储器装置,以及从非易失性存储器装置接收第三数据。存储器控制器基于第二数据和第三数据调整偏移,将第四读取命令、第四读取电压信息和偏移发送至非易失性存储器装置,从非易失性存储器装置接收第四数据,以及基于第四数据执行软判决处理。

    存储器控制器的操作方法、存储设备及其操作方法

    公开(公告)号:CN112395128A

    公开(公告)日:2021-02-23

    申请号:CN202010790981.X

    申请日:2020-08-07

    Abstract: 提供了一种存储器控制器的操作方法。该操作方法包括:接收第一读取数据和第二转换信息,第二转换信息包括通过基于线性运算转换第二读取数据而获得的数据,并且第一读取数据和所述第二读取数据包括从相同存储器单元读取的数据;基于线性运算转换第一读取数据以生成第一转换信息;对第一转换信息和第二转换信息执行逻辑运算以生成运算信息;对运算信息执行线性运算的逆运算以生成可靠性信息;以及基于第一读取数据和可靠性信息,纠正第一读取数据的错误。

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