光谱测试方法
    121.
    发明公开
    光谱测试方法 审中-实审

    公开(公告)号:CN118730297A

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202310315069.2

    申请日:2023-03-28

    Inventor: 武振华 汪舟

    Abstract: 本发明提供一种光谱检测方法,其中所述光谱检测方法包括如下步骤:(a)将待测光谱传感器模组分成n组,其中每相邻m(m≥1)个待测模组为一组;和(b)分批控制各组待测光谱传感器模组进行曝光,并且每组中的各待测光谱传感器模组使用相同的曝光参数。

    可见光宽波段含单层衍射元件系统点扩散函数构建方法

    公开(公告)号:CN115586638B

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202211232931.5

    申请日:2022-10-10

    Abstract: 可见光宽波段含单层衍射元件系统点扩散函数构建方法,属于光学设计技术领域,为了解决现有技术无法用于可见光的彩色图像的问题,该方法首先构建出某一波长在某一分析级次的能量分布;其次,划分某一分析级次的特征波长,求出该分析级次所有特征波长的能量分布,将探测器的量子效率作为权重进行叠加,得到该分析级次的能量分布;最后,按照前两步的方法求出所有分析级次的能量分布,将其叠加后进行归一化处理,得到R、G、B三通道的PSF模型。该方法构建可以在可见光波段使用的受衍射效率影响的PSF模型,用于提升单层衍射元件在可见光宽波段的成像质量,消除低衍射效率对成像的影响,将单层衍射元件应用在可见光宽波段的光学系统之中。

    用于高分辨率小型化光谱仪的光路结构及光谱仪

    公开(公告)号:CN118687681A

    公开(公告)日:2024-09-24

    申请号:CN202410680701.8

    申请日:2024-05-29

    Applicant: 山东大学

    Abstract: 本发明提供了一种用于高分辨率小型化光谱仪的光路结构及光谱仪,包括:光源、准直镜、第一平面闪耀光栅、第二平面闪耀光栅、非球面透镜、平面反射镜、柱面镜和CCD芯片;光源、准直镜和第一平面闪耀光栅沿光路依次布置,第一平面闪耀光栅的第一部分用于将经准直镜发来的光反射至第二平面闪耀光栅,第一闪耀光栅的第二部分用于将经第二平面闪耀光栅反射来的光反射至非球面透镜,非球面透镜、平面反射镜、柱面镜和CCD芯片沿光路依次布置;本发明通过两个平行摆放的平面反射光栅,实现了多次衍射,解决了近红外波段光谱仪分辨率低的问题,大幅度提高了光谱仪的分辨率。

    便于高光谱图像几何纠正的地面标志

    公开(公告)号:CN118687546A

    公开(公告)日:2024-09-24

    申请号:CN202410842398.7

    申请日:2024-06-27

    Abstract: 本发明主要解决的问题是,高光谱航拍时,当对两幅不同时段不同波段的图像进行几何纠正时,如何保证地面标志能被同时识别出来。便于高光谱图像几何纠正的地面标志,其特征为,包括光源、壳体,所述光源覆盖高光谱成像的光谱范围,包括紫外光源,可见光、近红外光源,中、远红外光源三种光源,其中每种光源的数量至少为两个,每种光源均在一个圆的圆周上,且各种光源所在的圆是共圆心的,所述壳体固定所述光源之间的相对位置。有益效果是,所述地面标志几乎在所有高光谱波段上都能成像,无论何种波段成像时都有一个唯一的中心点,确保地面标志位置的准确性。

    纳米线超构表面结构的中波多光谱成像器件及其制备方法

    公开(公告)号:CN117782317B

    公开(公告)日:2024-09-24

    申请号:CN202311810577.4

    申请日:2023-12-26

    Abstract: 本发明提供了一种基于纳米线超构表面结构的中波多光谱成像器件包括介质基底层,以及在介质基底层上制备的介质缓冲层;在介质缓冲层上沉积GaN/AlN纳米线;GaN/AlN纳米线的一端为GaN,GaN/AlN纳米线的另一端为AlN,GaN/AlN纳米线的中间段为Al0.4Ga0.6N;GaN/AlN纳米线中N元素的浓度为50%,Ga元素和Al元素沿GaN/AlN纳米线长度逐渐改变,并且Ga元素和Al元素的浓度互补;在介质缓冲层上沉积多个阵列的电极,电极与GaN/AlN纳米线接触。本发明通过在Si/SiO2衬底上生长GaN/AlN纳米线,使用电子束光刻在纳米线上制造平行的In/Au电极阵列,最后沉积Al2O3钝化层。使用这种结构,结合正则化算法即可完成对入射光线光谱的重建,舍弃了传统成像系统中复杂沉重臃肿的色散聚焦等器件,实现了小型化、轻量化。

    一种大带宽和高分辨率的微型芯片光谱仪

    公开(公告)号:CN114838824B

    公开(公告)日:2024-09-24

    申请号:CN202210456874.2

    申请日:2022-04-27

    Abstract: 本发明公开了一种大带宽和高分辨率的微型芯片光谱仪,包括一个窄带宽的高分辨率循环AWG和一个基于可调谐MZI的宽带宽且低分辨率的FT单元,循环AWG利用不同输入通道依次完成对输入光谱的采样并得到一组以Δλ为间隔大小的周期性离散峰,基于可调谐MZI的FT单元只需还原出这些周期性的离散峰,从而大大降低FT单元的分辨率,可调MZI的大带宽通过优化加热电压步长来获取;本发明通过巧妙结合一个窄带宽的高分辨率循环AWG和一个基于可调谐MZI的宽带宽且低分辨率的FT单元来实现大带宽和高分辨率的光谱分析,本发明具有高的信噪比,为芯片光谱仪还原输入光谱的准确性提供了保证。

    一种用于光谱仪的控制系统、方法及电子设备

    公开(公告)号:CN118670516A

    公开(公告)日:2024-09-20

    申请号:CN202410825886.7

    申请日:2024-06-25

    Inventor: 钟长锋 唐钏钧

    Abstract: 本申请涉及光谱仪控制技术领域,本申请提供一种用于光谱仪的控制系统、方法及电子设备,包括:测温模块、驱动模块和控温模块;所述测温模块用于采集光谱仪的热力图,选取光谱仪的目标部件,在所述光谱仪的热力图中标记所述目标部件的位置,获取目标部件的热力图,并将所述目标部件的热力图下发至所述驱动模块;所述驱动模块用于基于所述目标部件的热力图生成异常控制信息和正常控制信息,并将所述异常控制信息和正常控制信息下发至控温模块;所述控温模块用于控制光谱仪主体温度。本申请通过测温模块和控温模块,系统能够准确地获取光谱仪主体和目标部件的温度信息,并根据需要进行精确的温度控制,提高了光谱仪控制的灵活性和适用性。

    波长选择器及单色仪
    128.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118655711A

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202411146953.9

    申请日:2024-08-20

    Abstract: 本公开实施例公开一种波长选择器及单色仪,涉及但不限于光学技术。波长选择器包括至少一个沿光路设置的光学组件。光学组件包括沿光路设置的干涉单元和选取单元。干涉单元设置成对入射光进行等厚干涉,形成等厚干涉光束,能够将不同波长的入射光在干涉单元中重新排列并出射,并通过对干涉单元进行设计增加干涉单元的自由光谱程范围,从而增加波长选择器的波长选择范围。选取单元设置成按期望对等厚干涉光束的一个自由光谱程内的波长进行选取,并形成从光学组件射出的出射光,实现波长的可调谐。出射光的线宽小于入射光的线宽,如此能够提高出射光的分辨率,从而使得本公开的波长选择器能够兼顾分辨率高、可调谐且波长选择范围大。

    一种微型光栅光谱仪
    129.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118654763A

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202410965964.3

    申请日:2024-07-18

    Abstract: 本申请提供的微型光栅光谱仪,入射光束通过所述输入光纤(1)后经所述入射狭缝入射进入所述第一反射镜(71),所述第一反射镜(71)对入射光线进行准直,准直后的光束进入所述衍射光栅,所述衍射光栅对入射的光束进行分光处理,经分光后的光束经所述第二反射镜(72)进行重聚焦,重聚焦后的光束通过所述出射狭缝被所述硅光电探测器(3)接收,通过转动所述衍射光栅以使所述Si光电探测器(3)接收到不同波长的光谱信息,本申请提供的微型光栅光谱仪,采用光栅型分光系统,解决了滤光片型光谱仪中单色光的谱带较宽,波长分辨率差的问题,通过旋转衍射光栅可以得到连续光谱。同时采用适合小型化的改进型C‑T型光路结构,具有两个反射镜分别用于准直和重聚焦,这种构型不仅可以为校正像差提供更多的自由度,还大大缩小了光谱仪的体积。

    原位测量脉冲工作模式下电子器件温度分布的装置及方法

    公开(公告)号:CN115290209B

    公开(公告)日:2024-09-17

    申请号:CN202210800738.0

    申请日:2022-07-08

    Abstract: 本发明公开了一种原位测量脉冲工作模式下电子器件温度分布的装置及方法,所述原位测量脉冲工作模式下电子器件温度分布的装置包括:脉冲激光系统,所述脉冲激光系统用于产生脉冲探测激光;信号调制系统,所述信号调制系统用于产生调制驱动器的第一调制信号和调制电源模块的第二调制信号;拉曼光谱系统,所述拉曼光谱系统用于探测和处理拉曼散射信号;样品台,所述样品台用于放置待测器件。本发明可解决现有拉曼测温装置无法实现对于工作在高频状态下电子器件时间分辨的温度分布测量的技术难题,能够实现原位测量脉冲工作模式下电子器件的温度分布。

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