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公开(公告)号:CN109904065B
公开(公告)日:2021-05-11
申请号:CN201910129433.X
申请日:2019-02-21
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种异质结构的制备方法,包括如下步骤:提供第一衬底,具有离子注入面;自离子注入面进行离子注入,以形成缺陷层;提供第二衬底,具有键合面,将键合面与离子注入面进行键合,得到初始键合结构;基于局部加热的方式对初始键合结构进行加热处理,以沿缺陷层剥离部分第一衬底,以在第二衬底上形成一衬底薄膜,得到包括第二衬底及衬底薄膜的异质结构。本发明基于局部加热的方式实现最终异质结构的制备,局部加热退火工艺可以降低键合结构中的热应力,提高制备过程中异质键合结构的稳定性,从而降低异质键合结构在退火剥离过程中的整体热应力和翘曲,本发明制备的单晶功能薄膜可以用于制备高性能的声学、光学和电学器件及各类传感器件等。
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公开(公告)号:CN109166792B
公开(公告)日:2021-05-11
申请号:CN201810942371.X
申请日:2018-08-17
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H01L21/18 , H01L21/265 , H01L21/34 , H01L21/425 , H01L21/78 , H01L29/06
Abstract: 本发明提供一种基于应力补偿制备柔性单晶薄膜的方法及柔性单晶薄膜,制备包括:提供第一单晶衬底及第二单晶衬底,分别具有第一离子注入面及第二离子注入面;对第一单晶衬底进行第一离子注入,形成第一缺陷层,对第二单晶衬底进行第二离子注入,形成第二缺陷层;将第一离子注入面与第二离子注入面进行键合;沿第一缺陷层剥离得到第一单晶薄膜层,沿第二缺陷层剥离得到第二单晶薄膜层,获得柔性单晶薄膜。本发明采用对称应力补偿技术,制备了由第一单晶薄膜层及第二单晶薄膜层构成的柔性单晶薄膜,避免了制备的薄膜卷曲、碎裂的问题;使得可以得到具备超薄、超轻、柔性且可以自支撑特性的薄膜;可以通过本发明的方案制备得到大面积的柔性单晶薄膜。
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公开(公告)号:CN109427538B
公开(公告)日:2021-04-02
申请号:CN201710735726.3
申请日:2017-08-24
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H01L21/02 , H01L21/683
Abstract: 本发明提供一种异质结构的制备方法,包括提供供体衬底,并于供体衬底表面形成牺牲层;于牺牲层表面形成薄膜盖层,其远离所述牺牲层的表面为注入面;从注入面进行离子注入,以在牺牲层中形成缺陷层;提供受体衬底,并将受体衬底与薄膜盖层的注入面键合;沿缺陷层剥离所述牺牲层,以将键合有薄膜盖层的受体衬底与供体衬底分离,获得受体衬底‑薄膜盖层异质结构。通过上述方案,本发明中引入含铝化合物等易被化学腐蚀的材料作为牺牲层,层裂之后借用含铝化合物易氧化的特点,将处理牺牲层的工序简化,并且使得到的异质结构和供体衬底表面洁净,可以成功的将薄膜盖层转移到受体衬底上,在提供柔性衬底的同时,供体衬底材料还可以重复利用。
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公开(公告)号:CN111383915B
公开(公告)日:2021-03-23
申请号:CN201811619162.8
申请日:2018-12-28
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种异质键合结构的制备方法,包括步骤:提供第一衬底及第二衬底,第一衬底具有第一键合面,第二衬底具有第二键合面,将第一键合面与第二键合面在键合温度下进行键合处理;在退火处理温度下进行退火处理;进行冷却处理,以降温至第一温度,第一温度低于键合温度;调整上步得到结构的温度至室温,以得到由处理后的第一衬底及第二衬底构成的异质键合结构。本发明提供一种异质键合结构的制备方法,在进行退火处理加固之后,对加固后的结构进行冷却处理,冷却至键合温度以下,从而使得冷却处理过程中产生与加热过程中相反的热应力,降低了异质键合结构内部的残余热应力,从而可以降低因应力引发的键合结构的翘曲。
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公开(公告)号:CN112530855A
公开(公告)日:2021-03-19
申请号:CN202011412909.X
申请日:2020-12-04
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H01L21/762 , H01L27/12
Abstract: 本发明提供一种复合异质集成半导体结构、半导体器件及制备方法,可集成具有不同功能、不同特性的材料层,实现复合异质集成,且根据不同材料层所具有的特点,从而可发挥各材料层的不同优势,以获得高质量、高性能的半导体器件;进一步的,半导体单晶晶片可以回收循环利用,从而可大大降低成本。
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公开(公告)号:CN110880920B
公开(公告)日:2021-01-19
申请号:CN201811035898.0
申请日:2018-09-06
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种异质薄膜结构的制备方法,包括步骤:提供第一衬底,具有相对的第一表面及第二表面;自第一表面进行第一离子注入,形成第一缺陷层,自第二表面进行第二离子注入,形成第二缺陷层;提供具有第一键合面的第二衬底及具有第二键合面的第三衬底,将第一键合面与第一表面键合,第二键合面与第二表面键合;剥离第一衬底,在第二衬底上形成第一剥离层,在第三衬底上形成第二剥离层,获得第一异质薄膜结构以及第二异质薄膜结构,本发明采用双面进行离子注入和进行双面键合的方式,解决了异质衬底制备中,由于热失配导致的键合晶圆解键合甚至碎裂的问题,提高了衬底的产量以及效率,本发明的方案为高效声表面波滤波器的制备提供衬底支持。
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公开(公告)号:CN110138356B
公开(公告)日:2020-11-06
申请号:CN201910576571.2
申请日:2019-06-28
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本发明提供一种高频声表面波谐振器及其制备方法,所述高频声表面波谐振器包括:高波速支撑衬底,位于所述高波速支撑衬底上表面的压电膜,及位于所述压电膜上表面的顶电极;其中,所述高波速支撑衬底中传播的体波波速大于所述压电膜中传播的目标弹性波波速。通过本发明提供的高频声表面波谐振器及其制备方法,解决了现有声表面波谐振器的工作频率较低的问题。
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公开(公告)号:CN111883649A
公开(公告)日:2020-11-03
申请号:CN202010719062.3
申请日:2020-07-23
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H01L41/253 , H01L41/312 , H01L21/67 , H01L21/683 , H01L41/08 , H01L41/083
Abstract: 本发明涉及薄膜材料技术领域,特别涉及一种异质衬底上的薄膜结构及其制备方法,包括:提供键合体,键合体包括异质衬底层和键合于异质衬底层上的薄膜材料基板层,薄膜材料基板层中具有缺陷层;获取预设剥离应力,所述预设剥离应力为在第一退火温度时所述薄膜材料基板层中所述缺陷层处的第一最大热应力;在第一退火温度条件下,对键合体进行退火处理,使薄膜材料基板层以预设剥离应力沿缺陷层开始剥离;在剥离过程中,通过调整退火温度控制薄膜材料基板层以预设剥离应力沿缺陷层剥离,至得到异质衬底上的薄膜结构。本发明能够有效降低热应力差异对薄膜剥离厚度的影响,提高异质衬底上薄膜结构的厚度均一性。
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公开(公告)号:CN111883647A
公开(公告)日:2020-11-03
申请号:CN202010717300.7
申请日:2020-07-23
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H01L41/253 , H01L41/04 , H01L41/08 , H03H9/02 , H03H9/64
Abstract: 本发明公开了压电薄膜的制备方法、压电薄膜及声表面波滤波器,该方法包括:对压电晶圆进行离子注入剥离,得到表面具有离子注入损伤层的初始压电薄膜;在预设温度范围内,通过氟离子对初始压电薄膜进行低能离子辐照去除所述离子注入损伤层,得到辐照后的压电薄膜;辐照后的压电薄膜的表面具有非晶层,所述非晶层包含所述氟离子与初始压电薄膜在离子辐照过程中进行化学反应得到的成分;使用预设混合溶液去除辐照后的压电薄膜表面的非晶层,得到压电薄膜。本发明能够降低薄膜表面粗糙度和提高薄膜厚度均匀性,同时不在薄膜表面留下非晶层。
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公开(公告)号:CN111880124A
公开(公告)日:2020-11-03
申请号:CN202010661706.8
申请日:2020-07-10
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R33/00
Abstract: 本发明涉及磁场探测技术领域,本发明公开了一种高频可调节磁场探测器的制备方法。该探测器的制备方法具体如下,通过对具有二氧化硅介质层的碳化硅薄膜衬底进行图形化,进而得到待键合碳化硅薄膜衬底,并将该待键合碳化硅薄膜衬底与压电薄膜衬底进行键合,对键合后的薄膜衬底进行退火剥离,得到碳化硅-压电薄膜结构,再通过刻蚀掉该碳化硅-压电薄膜内部的部分二氧化硅介质层,之后通过制备叉指电极、低温快退火等工序,得到该磁场探测器。本申请提供的磁场探测器具有频率高和灵敏度高的特点。
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