用于确定图像序列的信号序列的信号组成的方法和装置

    公开(公告)号:CN118098355A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202311609548.1

    申请日:2023-11-27

    Abstract: 本发明涉及一种用于确定图像序列的信号序列的信号组成的方法和装置。图像序列通过在多轮染色中用标记物标记分析物并用相机检测标记物来产生,选择标记物,分析物信号序列在图像序列范围内在一个图像区中包括染色信号和未染色信号,不同分析物类型的信号序列分别具有染色信号和未染色信号的特定顺序,不同分析物类型能依据特定顺序被鉴定,包括:接收信号序列;读入码本,码本对所有信号分量包括一个理论序列,其包括分析物理论序列,分析物理论序列具有按照各不同分析物类型的信号序列的特定顺序的一系列真值和假值;针对每个信号序列确定信号组成,根据信号组成给信号分量分配各自信号序列的信号占比;训练具有处理模型的机器学习系统的方法。

    准备用于分析物鉴定的数据的方法和装置

    公开(公告)号:CN118098354A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202311604751.X

    申请日:2023-11-27

    Abstract: 本发明涉及一种准备用于分析物鉴定的数据的方法和装置。做法是在多轮染色中用标记物染色一种或多种分析物,该标记物对于一定量的分析物有特异性,用相机检测多个标记物,相机针对每轮染色产生至少一个具有多个像点的图像,作为颜色信息分别给像点分配一个色值,其包括染色信号和未染色信号,存储各自染色轮的颜色信息以便评估颜色信息,数据点分别包括多轮染色的图像中的一个或多个连续像点,它们配属于样本内的同一位点,样本图像的像点色值接受其是否是染色信号和/或未染色信号的评估,关于其色值以预定概率被评估其是染色信号或未染色信号的像点,色值被相应二进制化,且在存储颜色信息时针对二进制化的像点存储相应的二进制值而不是色值。

    具有卷积神经网络实现的显微镜和方法

    公开(公告)号:CN114846382B

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202080077686.8

    申请日:2020-11-13

    Abstract: 一种用于处理显微镜图像以产生图像处理结果的方法,包括:执行卷积神经网络,其中第一卷积层从由显微镜图像形成的输入张量计算输出张量。输出张量被输入到卷积神经网络的一个或多个进一步的层中,以便计算图像处理结果。第一卷积层包括多个过滤卷积核。至少多个过滤卷积核分别由至少一个具有学习参数过滤矩阵和具有隐式参数的从属过滤矩阵表示,所述隐式参数由学习参数和一个或多个要学习的权重(W)确定,其中不同过滤卷积核的具有学习参数的过滤矩阵彼此不同,且输出张量的不同层由不同的过滤卷积核计算。

    利用吸收滤光器进行相衬成像的角度可变照明

    公开(公告)号:CN113302538B

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202080008311.6

    申请日:2020-01-08

    Abstract: 本发明涉及一种包括显微镜(100)的系统(90),该显微镜具有:照明模块(111);样本固持器(113);检测器(114);以及位于该样本固持器113)与该检测器(114)之间的成像光学单元(112)。该系统还包括至少一个计算单元(115),该至少一个计算单元被设计为:控制该照明模块(111),以便利用来自多个照明方向(700‑703,381,382)的光照射样本物体(390),并且控制该检测器(114),以捕获各自对应于该多个照明方向(700‑703,381,382)之一的图像。该系统还包括吸收滤光器(800),该吸收滤光器位于该成像光学单元(112)中并具有取决于位置的吸收率(810)。

    用于操作粒子束显微镜的方法以及粒子束显微镜

    公开(公告)号:CN112309812B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202010728916.4

    申请日:2020-07-24

    Inventor: B.加姆

    Abstract: 在粒子束显微镜中使用两种类型的操作参数,具体地是影响图像质量的第一参数,例如束偏转、聚焦以及像散校正,这些第一参数的设置可以由用户改变以获得更好的图像质量,以及表征操作模式的第二参数,例如束电流、加速电压、物体固持器的位置以及物体固持器的取向,图像质量会在这些第二参数改变时变差。粒子束显微镜的操作模式包括:记录用户在一段时间内进行的对第一参数和第二参数的设置;对多个所记录的第一参数和第二参数的设置进行分析;基于第二参数的当前设置来确定第一参数的在图像质量方面有利的设置;以及设置所确定的第一参数的有利设置。

    用于跟踪显微镜样品的装置和方法

    公开(公告)号:CN110444456B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN201910353504.4

    申请日:2019-04-28

    Inventor: W.伯杰 S.迪默

    Abstract: 本发明涉及一种用于容纳显微镜样品以便在显微镜系统中进行检查或处理的样品载体,其中,该样品载体可容纳在容纳装置中,使得处于容纳状态的样品载体采取相对于该容纳装置的某个限定取向。该样品载体具有单独样品载体标识符并且被设计成与该显微镜系统通信并且在该过程中将该单独样品载体标识符传送到该显微镜系统,使得容纳在该样品载体上的样品是可跟踪的。

    利用部分注释图像训练实例分割算法

    公开(公告)号:CN117635629A

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202311120571.4

    申请日:2023-08-31

    Abstract: 本发明涉及利用部分注释图像训练实例分割算法,涉及一种用于训练机器学习模型的方法,该机器学习模型用于图像、特别是显微镜图像中的对象的实例分割。第一工作步骤是读取具有第一注释范围的部分注释图像,其中,在部分注释图像的第一注释范围中将对象的区域与对象类相关联,并且将没有对象的区域与背景类相关联。在下一步骤中,通过机器学习模型执行对图像、尤其整个图像的标注,其中,由机器学习模型预测的对象区域与对象类相关联。此后,通过将与第一注释范围相关的注释与相应的标签进行比较来计算机器学习模型的损失函数的值。在最后的步骤中,以尽可能最小化损失函数的方式来适配机器学习模型。

    用于光显微镜的光束成形的光学布置和方法

    公开(公告)号:CN112005152B

    公开(公告)日:2023-12-01

    申请号:CN201980027509.6

    申请日:2019-04-11

    Abstract: 本发明涉及一种用于光显微镜中光束成形的光学布置,该光学布置包括第一液晶区域和第二液晶区域,该第一液晶区域和第二液晶区域中的每一个具有多个可以独立于彼此切换的液晶元件,通过这些液晶元件入射光的相位可以可变地改变。第一偏振分束器(10)布置为使得以偏振相关的方式将入射光(1)分束成在第一液晶区域(30A)的方向上反射的反射光(1A)和在第二液晶区域(30B)的方向上透射的透射光(1B)。第一偏振分束器或第二偏振分束器(10,11)布置为使得在通过液晶区域(30A,30B)相位调制之后,将反

    使用校正因子的显微成像方法

    公开(公告)号:CN110658617B

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN201910558190.1

    申请日:2019-06-25

    Abstract: 本发明涉及显微成像方法,其包含以下步骤:用照明辐射照明样品(1)并沿着检测轴线捕获检测辐射,所述检测辐射已经由照明辐射引起,在第一次时作为宽场信号(WF)且在第二次时作为复合信号(CI),所述复合信号已经由共焦图像和宽场图像的叠加来形成;通过从复合信号(CI)减去宽场信号(WF)来提取共焦图像,其中使用校正因子。所述方法的特征在于,为每个执行的成像和/或为每个成像的样品(1)确定当前校正因子,并且使用相应的当前校正因子来提取共焦图像。

    具有多个光子计数探测器元件阵列的方法和光学显微镜

    公开(公告)号:CN116710828A

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN202080105090.4

    申请日:2020-07-28

    Abstract: 一种用于操作光学显微镜的方法,包括从一个或多个光源(1)向样本定位位置(6A)发射和引导作为多个照射光束的照射光(2),在样本定位位置处(6A)形成多个分离的照射光点(2A、2B、2C、2D);以及将来自样本定位位置(6A)的照射光点(2A、2B、2C、2D)的探测光束(11)引导到包括多个传感器阵列(31‑34)的探测器(10)。每个传感器阵列(31‑34)包括光子计数探测器元件(40),并且探测光束(11)在传感器阵列(31‑34)上形成多个光点(15),其中来自样本定位位置(6A)处的不同照射光点(2A、2B、2C、2D)的探测光束(10)被引导到不同的传感器阵列(31‑34)。分析来自传感器阵列(31‑34)的测量信号以确定关于传感器阵列(31至34)上的光点(15)的位置信息。在调整过程中,基于位置信息调整光点(15)撞击传感器阵列(31‑34)的位置。还公开了相应的光学显微镜。

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