基于合成偏差的模拟电路测试激励优化方法

    公开(公告)号:CN111398777B

    公开(公告)日:2022-03-15

    申请号:CN202010163778.X

    申请日:2020-03-10

    Abstract: 基于合成偏差的模拟电路测试激励优化方法,涉及模拟电路故障检测领域。本发明是为了解决脉冲激励对于特征微弱的潜在故障不能有效激励的问题。本发明采集被测电路中所有元件的敏感频率,并将所有元件的敏感频率构成被测电路的敏感频率集,采用贪婪算法对敏感频率集进行去冗余处理,获得优化后的测试激励。能够更好激发元器件特征微弱的潜在故障特征,在减少测试激励集规模的同时提高了模拟电路潜在故障的检测率。

    一种模拟电路模块故障诊断方法

    公开(公告)号:CN108845247B

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN201810699568.5

    申请日:2018-06-29

    Abstract: 一种模拟电路模块故障诊断方法,本发明涉及模拟电路模块故障诊断方法。本发明为了解决实际模拟电路模块故障诊断过程中缺少故障样本导致电路模块故障诊断准确率低的问题。本发明包括:一:将模拟电路进行功能模块划分;二:通过仿真实验,对电路输入脉冲信号,获得划分后的各模块正常状态的各节点检测率,以及其中任一模块处于故障状态下的各节点检测率;三:对实际的电路各模块进行故障检测;四:根据检测率对各模块的检测结果配置可信度,可信度作为证据m1;五:将脉冲信号更换为扫频信号,重复执行步骤二至四得到证据m2,将m1和m2通过D‑S证据理论进行融合后,完成故障模块的定位。本发明用于模拟电路模块故障诊断领域。

    一种基于多特征的DC-DC变换器关键器件参数辨识方法

    公开(公告)号:CN111464022A

    公开(公告)日:2020-07-28

    申请号:CN202010220636.2

    申请日:2020-03-25

    Abstract: 一种基于多特征的DC-DC变换器关键器件参数辨识方法,属于电力电子技术领域,解决了现有电力电子变换器主电路参数辨识方法中,存在建模复杂,需要引入的电流传感器,增加电路复杂度,易引发新的故障,且降低了待辨识器件所在电路的可靠性的问题。本发明获取待进行参数识别的DC-DC变换器的M个关键元器件的参考信号和采样信号,采用遗传算法,分别对每个器件的特征进行选择,获取每个元器件的敏感特征,利用每个器件的敏感特征和参考特征向量,建立基于回归算法的变换器关键元器件参数辨识模型,获取每个关键器件的特征参数值。本发明适用于DC-DC变换器器件参数识别。

    一种基于响应混叠性度量与遗传算法的测试激励优选方法

    公开(公告)号:CN107480386B

    公开(公告)日:2020-06-30

    申请号:CN201710725700.0

    申请日:2017-08-22

    Abstract: 一种基于响应混叠性度量与遗传算法的测试激励优选方法,本发明涉及基于响应混叠性度量与遗传算法的测试激励优选方法。本发明为了解决现有模拟电路中,由于器件容差的存在使得器件故障状态和正常状态界限模糊,导致早期故障检测较低以及测试激励优选速度慢的问题。本发明包括:步骤一:得到M个正常样本和M个故障样本;步骤二:采用遗传算法对P个频点进行二进制编码,并进行参数初始化;步骤三:遗传算法采用响应混叠性度量函数作为适应度函数,计算NIND个频点的适应度函数值;步骤四:获取响应混叠性度量函数值最小的测试激励的二进制基因,通过解码后得到对应的最优测试激励。本发明用于模拟电路故障诊断领域。

    基于开关电容的TSV测试电路及测试方法

    公开(公告)号:CN107765167B

    公开(公告)日:2020-06-09

    申请号:CN201710962060.5

    申请日:2017-10-16

    Abstract: 本发明公开了一种基于开关电容的TSV测试电路及测试方法,涉及半导体领域。基于开关电容的TSV测试电路的等效电阻单元包括复数个等效电阻模块,每个等效电阻模块对应一待测穿透硅通孔,等效电阻模块的测试端口与对应的待测穿透硅通孔的测试端连接,所有的等效电阻模块的充电端口共同连接以形成等效电阻单元的充电端;公共测试单元的电量输出端与等效电阻单元的充电端连接,公共测试单元用以根据第三控制输入端的第三控制信号、第一控制输入端的第一控制信号,及第二控制输入端的第二控制信号控制待测穿透硅通孔的充放电状态,以进行测试,通过测试输出端输出待测穿透硅通孔的测试结果。

    一种基于贪婪算法的测试激励集合优选方法

    公开(公告)号:CN107478981B

    公开(公告)日:2019-12-10

    申请号:CN201710725698.7

    申请日:2017-08-22

    Abstract: 一种基于贪婪算法的测试激励集合优选方法,本发明涉及测试激励集合优选方法。本发明为了解决现有技术在元器件的参数偏差程度对电路的影响较小时,故障检测率和诊断率较低,以及不能够覆盖整个电路的元器件的问题。本发明包括:步骤一:建立m个待选测试激励与n个电路中的元器件构成的初始矩阵;步骤二:根据步骤一得到的初始矩阵并利用贪婪算法,依次从m个待选测试激励中优选出x个测试激励,T1,T2,T3…Tx,构成了测试激励集合F,F=(T1,T2,T3…Tx),得到测试激励集合F对应的最小代价和为Smin;步骤三:采用内部比较策略和随机剔除策略对步骤二的测试测试激励集合F进行优化。本发明用于模拟电路故障诊断领域。

    一种用于海底管道磁记忆检测的水下机器人

    公开(公告)号:CN108468862A

    公开(公告)日:2018-08-31

    申请号:CN201810516698.0

    申请日:2018-05-25

    Abstract: 本发明提供的是一种用于海底管道磁记忆检测的水下机器人,主要为了解决常规ROV对海底管道尤其卧在海床上的管道底部检测不到的难题。其特征在于:本装置包括ROV本体、喷枪除沙机构、附管爬行夹持机构、可变径传感器检测机构以及泥沙抚平机构;其中,ROV本体作为载体为其它装置提供支撑和动力,喷枪除沙机构用于对管道上和底部泥沙的清理,附管爬行夹持机构用于夹持不同直径的管道并实现二次清扫,以确保卡爪上的万向滚轮紧贴于管道爬行不打滑;可变径传感器检测机构用于实现传感器对不同直径管道的锁紧抱合检测。本发明可实现在较深水域、泥沙覆盖等复杂情况下海底管道的整周全方位无死角检测。

    一种基于响应混叠性度量与遗传算法的测试激励优选方法

    公开(公告)号:CN107480386A

    公开(公告)日:2017-12-15

    申请号:CN201710725700.0

    申请日:2017-08-22

    Abstract: 一种基于响应混叠性度量与遗传算法的测试激励优选方法,本发明涉及基于响应混叠性度量与遗传算法的测试激励优选方法。本发明为了解决现有模拟电路中,由于器件容差的存在使得器件故障状态和正常状态界限模糊,导致早期故障检测较低以及测试激励优选速度慢的问题。本发明包括:步骤一:得到M个正常样本和M个故障样本;步骤二:采用遗传算法对P个频点进行二进制编码,并进行参数初始化;步骤三:遗传算法采用响应混叠性度量函数作为适应度函数,计算NIND个频点的适应度函数值;步骤四:获取响应混叠性度量函数值最小的测试激励的二进制基因,通过解码后得到对应的最优测试激励。本发明用于模拟电路故障诊断领域。

    一种电子系统多退化进程研究方法

    公开(公告)号:CN107203677A

    公开(公告)日:2017-09-26

    申请号:CN201710482200.9

    申请日:2017-06-22

    Abstract: 一种电子系统多退化进程研究方法,本发明涉及电子系统多退化进程研究方法。本发明的目的是为了解决现有实际研究中通常考虑系统中所有退化量分析其退化,导致计算量大,研究复杂,以及为了优化分析过程需要考虑多退化系统的主要退化量而忽略次要退化量,导致可靠性及寿命预测结果置信度低的问题。过程为:一、得到电路的传递函数;绘制出电路全部元件退化时的幅频特性曲线和相频特性曲线;得到电路全部元件退化时的电路增益、上下限截止频率和中心频率电路特征信息;二、进行灵敏度分析,按照灵敏度排序情况划分关键元件组合;三、选取关键元件组合,进行电路性能退化分析。本发明用于电路退化领域。

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