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公开(公告)号:CN107282474A
公开(公告)日:2017-10-24
申请号:CN201710232609.5
申请日:2017-04-11
Applicant: 泰克元有限公司
CPC classification number: B07C5/344 , B07C5/362 , G01R31/01 , G01R31/2601
Abstract: 本发明涉及一种用于测试电子部件的分选机,根据本发明的用于测试电子部件的分选机中,构成对电子部件进行加压以使电子部件电连接到测试器的测试插座的加压部的推进器包括:推进部件,具有使冷却流体经过的流体通路;至少一个加热器,为了向所述推进部件施加热量而配备。根据本发明,可以借助于冷却流体和加热器而维持在电子部件的测试时要求的温度,因此可以提高测试的可靠性。
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公开(公告)号:CN107110910A
公开(公告)日:2017-08-29
申请号:CN201580058183.5
申请日:2015-10-28
Applicant: 泰克元有限公司
Abstract: 本发明公开一种用于测试电子部件的分选机。用于测试所述电子部件的所示分选机包括:冷却袋,其安置于连接部件的推动头上,所述连接部件将所述电子部件电连接至测试器的测试插座;以及流体供应器,其用于将冷却流体供应至所述冷却袋内部。本发明的所述分选机增强测试中的可靠性,因为所述分选机可由于供应至所述冷却袋内部的所述冷却流体而维持测试所述电子部件所需要的温度。
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公开(公告)号:CN104841649B
公开(公告)日:2017-07-07
申请号:CN201510075988.2
申请日:2015-02-12
Applicant: 泰克元有限公司
Abstract: 本发明公开一种在测试生产出的半导体元件时将半导体元件电连接到测试器侧的分选机。根据本发明的分选机使操作器的全部操作中的至少一部分重新进行,由此向测试托盘施加冲击而引导非正常安置的半导体元件正确地安置,其中,所述操作器用于操作配备于测试托盘上的插入件的闩锁件。由此,具有可以大幅度地减少管理者的手动作业,并提高分选机的运行率的效果。
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公开(公告)号:CN104889077A
公开(公告)日:2015-09-09
申请号:CN201510097024.8
申请日:2015-03-04
Applicant: 泰克元有限公司
Abstract: 本发明涉及一种半导体元件测试用分选机及该分选机中的测试支持方法。在根据本发明的半导体元件测试用分选机中,通过扩展托盘移送器的功能而提高其利用率,并增加附带的构成要素,从而使通过新的测试而被分类为重新测试对象的半导体元件能够在新的测试过后接着顺利进行重新测试。因此,对全部的1批量物量进行的新的测试过程与重新测试准备过程能够以相互之间的干扰最小化的状态有机地组合,从而提高处理速度和容量。
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