公开(公告)号：CN107110910A

公开(公告)日：2017-08-29

申请号：CN201580058183.5

申请日：2015-10-28

Applicant: 泰克元有限公司

Inventor： 李秉哲 ,  金是勇 ,  金奉洙

IPC: G01R31/28 ,  G01R1/04 ,  G01R31/26 ,  H01L35/30

Abstract: 本发明公开一种用于测试电子部件的分选机。用于测试所述电子部件的所示分选机包括：冷却袋，其安置于连接部件的推动头上，所述连接部件将所述电子部件电连接至测试器的测试插座；以及流体供应器，其用于将冷却流体供应至所述冷却袋内部。本发明的所述分选机增强测试中的可靠性，因为所述分选机可由于供应至所述冷却袋内部的所述冷却流体而维持测试所述电子部件所需要的温度。

公开(公告)号：CN104841649B

公开(公告)日：2017-07-07

申请号：CN201510075988.2

申请日：2015-02-12

Applicant: 泰克元有限公司

Inventor： 金镇洙 ,  洪光珍

IPC: B07C5/344 ,  B07C5/02

Abstract: 本发明公开一种在测试生产出的半导体元件时将半导体元件电连接到测试器侧的分选机。根据本发明的分选机使操作器的全部操作中的至少一部分重新进行，由此向测试托盘施加冲击而引导非正常安置的半导体元件正确地安置，其中，所述操作器用于操作配备于测试托盘上的插入件的闩锁件。由此，具有可以大幅度地减少管理者的手动作业，并提高分选机的运行率的效果。

公开(公告)号：CN104001680B

公开(公告)日：2017-07-04

申请号：CN201410189222.2

申请日：2014-05-07

Applicant: 泰克元有限公司

Inventor： 罗闰成 ,  权宁镐 ,  金溶范

IPC: B07C5/36

Abstract: 本发明涉及支持半导体元件的测试的测试分选机。根据本发明的测试分选机，在将半导体元件推向测试器而使半导体元件与测试器电连接的推进装置中具有出入开关器，该出入开关器容许或阻止匹配板由构成于支撑匹配板的支撑装置的各支撑轨所支撑并进入设置位置或从设置位置退出。根据本发明，由于能够稳定地设置匹配板，因而提高设备的可靠度。

公开(公告)号：CN104785450B

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201410691161.X

申请日：2014-11-26

Applicant: 泰克元有限公司

Inventor： 权宁镐 ,  李孝玟

IPC: B07C5/00

Abstract: 本发明涉及半导体元件测试用分选机。根据本发明，在分选机的拾放装置结合用于从用户托盘等的载置要素去除异物的清洁器。通过如上所述的构成，本发明不仅能够清扫处于停止状态的空着的载置要素，而且其设置简单，且具有能够使清洁器设置空间最小化的优点。

公开(公告)号：CN104338682B

公开(公告)日：2017-04-12

申请号：CN201410325653.7

申请日：2014-07-09

Applicant: 泰克元有限公司

Inventor： 柳晛准 ,  黄正佑

IPC: B07C5/00

Abstract: 根据一个实施方式，用于使电子部件紧密接触测试分选机的测试仪插座的推动件组件可包括：被设置到匹配板的基底部件；配置成朝向测试仪插座推动电子部件的推动部件，其中该推动部件被设置在基底部件上以便能够在相对于匹配板的竖直方向上移动；配置成向推动部件提供弹性力的弹性部件，其中该弹性部件被设置在基底部件与推动部件之间；以及配置成引导推动部件的竖直运动的引导部件。

公开(公告)号：CN103977964B

公开(公告)日：2017-04-12

申请号：CN201410045325.1

申请日：2014-02-07

Applicant: 泰克元有限公司

Inventor： 具泰兴 ,  卢锺基

IPC: B07C5/344

Abstract: 本发明公开测试分选机用施压装置。根据本发明的施压装置，利用姿势校正部件将插件的姿势校正正确之后，推动器接触安置于插件的半导体元件。据此，根据插件和推动器的适当的整合，具有能够防止推动器引起的半导体元件或插件的损伤的效果。

公开(公告)号：CN102825012B

公开(公告)日：2015-11-18

申请号：CN201210191143.6

申请日：2012-06-11

Applicant: 泰克元有限公司

Inventor： 罗闰成 ,  权宁镐

IPC: B07C5/00 ,  H01L21/683 ,  H01L21/66

Abstract: 本发明涉及测试分选机用拾放装置。根据本发明，通过进一步设置限位部件，以限制用于调整拾放装置所具备的多个拾取器模块之间的间隔的凸轮板的间隔调整范围，从而可以容易地改变拾取器模块之间的间隔调整范围。

公开(公告)号：CN104889077A

公开(公告)日：2015-09-09

申请号：CN201510097024.8

申请日：2015-03-04

Applicant: 泰克元有限公司

Inventor： 咸锺仁 ,  金善真

IPC: B07C5/344 ,  B07C5/02 ,  B07C5/36

Abstract: 本发明涉及一种半导体元件测试用分选机及该分选机中的测试支持方法。在根据本发明的半导体元件测试用分选机中，通过扩展托盘移送器的功能而提高其利用率，并增加附带的构成要素，从而使通过新的测试而被分类为重新测试对象的半导体元件能够在新的测试过后接着顺利进行重新测试。因此，对全部的1批量物量进行的新的测试过程与重新测试准备过程能够以相互之间的干扰最小化的状态有机地组合，从而提高处理速度和容量。

公开(公告)号：CN103163446B

公开(公告)日：2015-09-09

申请号：CN201210526125.9

申请日：2012-12-07

Applicant: 泰克元有限公司

Inventor： 成耆炷

IPC: G01R31/28 ,  B07C5/00 ,  B07C5/02

Abstract: 公开了一种测试分选机，其中公开了通过使用制动单元或第二馈送单元在停止位置处牢固地保持从测试室向去浸泡室馈送的测试托盘的技术。

公开(公告)号：CN102323534B

公开(公告)日：2015-03-04

申请号：CN201110227681.1

申请日：2007-01-25

Applicant: 泰克元有限公司

Inventor： 沈裁均 ,  罗闰成 ,  全寅九 ,  具泰兴 ,  刘玄准

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2893 ,  G01R31/2867

Abstract: 本发明公开了一种测试处理机。测试处理机包括：装载单元，用于将用户托盘上的半导体器件装载到测试托盘上；测试室，在测试室中，测试器测试通过装载单元装载到测试托盘上的半导体器件；卸载单元，用于将在测试室中测试的半导体器件从测试托盘卸载到用户托盘上，装载单元包括至少一个移动型装载台、第一拾取装置和第二拾取装置，至少一个移动型装载台在第一区域和第二区域之间可移动并具有器件安放单元，第一拾取装置在第一区域中可移动，以将半导体器件从用户托盘传输并装载到位于第一区域中的移动型装载台的器件安放单元，第二拾取装置在第二区域中可移动，以将半导体器件从位于第二区域中的移动型装载台的器件安放单元传输并装载到测试托盘。