Invention Grant
- Patent Title: 半导体元件测试用分选机
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Application No.: CN201410691161.XApplication Date: 2014-11-26
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Publication No.: CN104785450BPublication Date: 2017-05-31
- Inventor: 权宁镐 , 李孝玟
- Applicant: 泰克元有限公司
- Applicant Address: 韩国京畿道华城市东滩面东滩一般产业团地11-7街区
- Assignee: 泰克元有限公司
- Current Assignee: 泰克元有限公司
- Current Assignee Address: 韩国京畿道华城市东滩面东滩一般产业团地11-7街区
- Agency: 北京冠和权律师事务所
- Agent 朱健
- Priority: 10-2014-0007186 20140121 KR
- Main IPC: B07C5/00
- IPC: B07C5/00
Abstract:
本发明涉及半导体元件测试用分选机。根据本发明，在分选机的拾放装置结合用于从用户托盘等的载置要素去除异物的清洁器。通过如上所述的构成，本发明不仅能够清扫处于停止状态的空着的载置要素，而且其设置简单，且具有能够使清洁器设置空间最小化的优点。
Public/Granted literature
- CN104785450A 半导体元件测试用分选机 Public/Granted day:2015-07-22
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