公开(公告)号：CN104841649A

公开(公告)日：2015-08-19

申请号：CN201510075988.2

申请日：2015-02-12

Applicant: 泰克元有限公司

Inventor： 金镇洙 ,  洪光珍

IPC: B07C5/344 ,  B07C5/02

Abstract: 本发明公开一种在测试生产出的半导体元件时将半导体元件电连接到测试器侧的分选机。根据本发明的分选机使操作器的全部操作中的至少一部分重新进行，由此向测试托盘施加冲击而引导非正常安置的半导体元件正确地安置，其中，所述操作器用于操作配备于测试托盘上的插入件的闩锁件。由此，具有可以大幅度地减少管理者的手动作业，并提高分选机的运行率的效果。

公开(公告)号：CN104841649B

公开(公告)日：2017-07-07

申请号：CN201510075988.2

申请日：2015-02-12

Applicant: 泰克元有限公司

Inventor： 金镇洙 ,  洪光珍

IPC: B07C5/344 ,  B07C5/02

Abstract: 本发明公开一种在测试生产出的半导体元件时将半导体元件电连接到测试器侧的分选机。根据本发明的分选机使操作器的全部操作中的至少一部分重新进行，由此向测试托盘施加冲击而引导非正常安置的半导体元件正确地安置，其中，所述操作器用于操作配备于测试托盘上的插入件的闩锁件。由此，具有可以大幅度地减少管理者的手动作业，并提高分选机的运行率的效果。