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公开(公告)号：CN104036424A
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201410284067.2
申请日：2014-06-23
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06Q50/00
Abstract: 本发明公开了一种基于二维码的零件快速选配方法及系统。所述选配方法包括测量计算、信息编入二维码、粘贴二维码、零件装配等步骤，所述选配系统包括测算单元、导入单元、导出单元和选配单元，测算单元测算出零件信息，通过导入单元和导出单元传递给选配单元进行选配。本发明的有益效果是：利用二维码技术，结合计算系统，能够保证规定的装配精度和技术要求，选择合适公差的待装配零件，同时降低零件机械加工的难度和费用。
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公开(公告)号：CN104036078A
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201410249972.4
申请日：2014-06-06
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种基于安装高度的阵列天线辐射和散射性能综合设计方法，包括确定平面阵列天线的结构参数和电磁工作参数；确定矩形栅格圆口径阵列排布；计算单元辐射方向图函数和单元散射方向图函数；给出初始安装高度值；计算z向安装高度；计算z向安装高度下的辐射方向图函数和增益方向图函数，以及相对于理想情况的增益损失量；计算z向安装高度下的散射方向图函数和RCS方向图函数，以及相对于理想情况的RCS缩减量；判断z向安装高度下，辐射和散射性能是否满足增益损失量最小的情况下RCS缩减量达到最大的要求，不满足要求，更新z向安装高度并重复计算，直至满足要求。
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公开(公告)号：CN102799143B
公开(公告)日：2014-09-03
申请号：CN201210303822.8
申请日：2012-08-24
Applicant: 电子科技大学
Inventor： 王伟
IPC: G05B19/406
Abstract: 本发明涉及薄壁曲面零件加工表面质量缺陷快速计算方法。包括如下步骤：1.产生机床铣削薄壁曲面零件的各坐标轴数控指令；2：计算产生机床加工薄壁曲面零件的刚度分布：根据步骤1中得到的机床各坐标轴数控指令，计算机床铣削薄壁曲面零件过程中各坐标轴合成的刚度矩阵，将刚度矩阵沿零件法线方向投影，得到加工过程中机床的刚度分布；3：计算产生薄壁曲面零件在加工过程中自身的刚度分布；4：计算薄壁曲面零件的加工质量缺陷区域。本发明的有益效果：通过机床和薄壁曲面零件的法向刚度分布计算，产生加工过程中的机床和零件自身的刚度分布综合对比图，从而得到薄壁曲面零件加工质量缺陷区域，针对加工质量缺陷区域设定不同的加工工艺。
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公开(公告)号：CN103488818A
公开(公告)日：2014-01-01
申请号：CN201310393515.8
申请日：2013-09-02
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种热变形大型双反射面天线的副反射面位置补偿方法，主要解决双反射面天线因温度变形引起的电性能下降问题。其方案是：（1）根据天线结构参数，建立天线有限元模型。（2）计算加载温度载荷后变形的节点坐标；（3）根据变形主反射面信息，建立变形主反射面电磁模型；（4）在变形主反射面电磁模型中，以提取的变形副反射面的顶点坐标为基准，建立变形副反射面电磁模型，计算未补偿时电性能；（5）用等效馈源代替实馈源和副反射面；（6）用遗传算法，优化变形参量，由得的等效馈源位置求补偿后副反射面位置，计算进行补偿后电性能；（7）若补偿前后电性能提高量满足要求，则得所求；否，重设优化参数再计算，直至满足要求。
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公开(公告)号：CN103235295A
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN201310111620.8
申请日：2013-04-02
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01S7/41
Abstract: 本发明公开了一种基于压缩卡尔曼滤波的小场景雷达目标距离像估计方法，主要解决现有卡尔曼滤波算法在距离像估计中存在计算量大的问题及压缩采样雷达在低信噪比情况下难以获得较高的信噪比输出的问题。其实现过程是：1)对雷达接收到的回波信号进行压缩采样；2)估计压缩采样后噪声的自相关矩阵；3)建立线性近似的降维状态空间模型；4)对状态空间模型进行卡尔曼滤波递推；5)对递推结果进行校正获得距离像估计结果。本发明可消除现有匹配滤波方法存在的主瓣能量扩散问题，提高了距离分辨率，并在低信噪比情况下能获得优于传统压缩采样方法的成像效果，可用于提高压缩采样雷达的散射点信噪比输出。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102968532A
公开(公告)日：2013-03-13
申请号：CN201210466403.6
申请日：2012-11-16
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种65米大型反射面天线的机电集成设计方法，主要解决大型天线设计中机电集成的问题。其步骤是：基于天线结构有限元分析，得到反射面变形后节点位移信息；根据节点理论设计坐标和变形后坐标空间位置关系，计算三角形单元质心点的理论坐标和位移；计算反射面三角形单元质心点的光程差及其对应口径面上的相位误差；将单元投影到口径面上，计算远区电场分布，得到电性能参数；以天线结构参数为设计变量，天线电性能参数最优为目标，建立优化模型；采用序列二次规划法求解优化模型，得到最优机械电磁综合设计方案，实现反射面天线机电集成设计。本发明可用于指导大型反射面天线的结构设计及对不同工况下的天线机电综合性能分析与评价。
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公开(公告)号：CN102890741A
公开(公告)日：2013-01-23
申请号：CN201210414471.8
申请日：2012-10-25
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种振动变形对阵列天线电性能影响的预测方法，该方法包括：1）确定阵列天线几何模型文件；2）在ANSYS中构建其有限元模型；3）给定加速度功率谱，计算随机振动变形量，提取各个辐射单元位置偏移量；4）计算阵列天线方向图函数；5）判断是否满足设计要求。传统方法根据加速度功率谱分析天线结构强度是否满足要求，无法根据阵面变形误差确定电性能。本方法可以通过随机振动所导致偏移量实现对天线电性能预测；本方法更为简洁，可以将偏移量引入机电耦合模型计算电性能，不需要根据偏移量的变化重复电磁建模；利用本方法，分析振动对天线的影响，找出主要结构因素，以保证天线不被破坏并提高其工作状态下的电性能。
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公开(公告)号：CN102819240A
公开(公告)日：2012-12-12
申请号：CN201210304132.4
申请日：2012-08-24
Applicant: 电子科技大学
Inventor： 王伟
IPC: G05B19/406
Abstract: 本发明涉及五轴联动数控机床的加工质量缺陷区域计算方法，包括如下步骤：步骤1：产生机床铣削零件的各坐标轴数控指令；步骤2：计算产生机床加工零件的刚度分布：根据步骤1中得到的机床各坐标轴数控指令，计算机床铣削零件过程中各坐标轴合成的刚度矩阵，将刚度矩阵沿零件法线方向投影，得到加工过程中机床的刚度分布。本发明的有益效果：通过对机床加工过程中的法向刚度分布计算，产生机床刚度法向分布图，从而得到零件加工质量缺陷区域，由此可在加工前计算出机床加工过程中的零件表面质量缺陷区域，针对加工质量缺陷区域设定不同的机床加工工艺，从而为零件的工艺优化和精度保障提供依据。
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公开(公告)号：CN102799143A
公开(公告)日：2012-11-28
申请号：CN201210303822.8
申请日：2012-08-24
Applicant: 电子科技大学
Inventor： 王伟
IPC: G05B19/406
Abstract: 本发明涉及薄壁曲面零件加工表面质量缺陷快速计算方法。包括如下步骤：1.产生机床铣削薄壁曲面零件的各坐标轴数控指令；2.计算产生机床加工薄壁曲面零件的刚度分布：根据步骤1中得到的机床各坐标轴数控指令，计算机床铣削薄壁曲面零件过程中各坐标轴合成的刚度矩阵，将刚度矩阵沿零件法线方向投影，得到加工过程中机床的刚度分布；3.计算产生薄壁曲面零件在加工过程中自身的刚度分布；4.计算薄壁曲面零件的加工质量缺陷区域。本发明的有益效果：通过机床和薄壁曲面零件的法向刚度分布计算，产生加工过程中的机床和零件自身的刚度分布综合对比图，从而得到薄壁曲面零件加工质量缺陷区域，针对加工质量缺陷区域设定不同的加工工艺。
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公开(公告)号：CN101252224B
公开(公告)日：2012-02-08
申请号：CN200810017898.8
申请日：2008-04-08
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种平板裂缝天线缝制造精度对电性能影响的预测方法，它属于天线技术领域，其目的是比较准确地预测平板裂缝天线缝制造精度对电性能指标的影响。该方法以工程中搜集的缝制造精度和对应的电性能指标数据为基础，通过数据的处理，转换为缝平均制造精度和电性能变化量的数据。然后，使用支持向量机建立电性能指标变化量与缝平均制造精度的模型。最终，推导出平板裂缝天线在考虑缝制造精度后的电性能指标预测模型。应用这个模型，可以准确地预测平板裂缝天线的缝制造精度对电性能的影响。本发明可用于平板裂缝天线的辅助设计或缝制造精度的选择使用中。
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