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公开(公告)号：CN106093572B
公开(公告)日：2018-12-28
申请号：CN201610471140.6
申请日：2016-06-23
Applicant: 西安电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于集成鉴相器AD8302的高精度相位检测电路及其自校准方法，其中，该相位检测电路包括：集成鉴相器AD8302，集成鉴相器AD8302的输入端连接有两路信号输入通道，其中任意一路信号输入通道上安装有两个可以进行加线和不加线两种状态切换的射频继电器，两种状态下集成鉴相器AD8302的输出值至少有一个处于相位响应特性曲线的线性区域，加长电缆线的长度L通过以下公式计算得到：本发明的有益之处在于：本发明的相位检测电路通过在两路信号输入通道中的任意一路信号输入通道上给信号加特定长度的延迟线缆，改变了两路信号到达集成鉴相器AD8302时的相位差，使原相位差能够跳过相位响应特性曲线的非线性区，解决了非线性区域问题和二值性问题。
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公开(公告)号：CN104077485B
公开(公告)日：2017-05-03
申请号：CN201410305053.4
申请日：2014-06-30
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F19/00
Abstract: 本发明公开了一种基于吻合度的模型正确性的评价方法，其特征在于，包括以下步骤：一、建立模型的递阶层次结构，二、计算递阶层次结构最底层子子节点各参数的单项吻合度，三、计算子子节点各参数相对于子节点的权重，四、计算各子节点的吻合度，五、计算子节点各参数相对于目标节点的权重，六、计算目标节点的吻合度。本发明的有益之处在于：只需知道模型的输入输出参数，且在输出参数可测得的情况下，采用本发明提出的基于吻合度的模型正确性评价方法即可对模型的正确性程度进行评价，该方法不需要清楚模型复杂的原理及其内在的工作方式，因此本发明的方法具有显著的优点。
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公开(公告)号：CN104038295A
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201410249973.9
申请日：2014-06-06
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明公开了一种基于机电耦合的变形阵列天线散射性能分析方法，包括：确定阵列天线的几何模型参数、材料属性和电磁工作参数；建立天线有限元模型；确定有限元模型的约束条件与随机振动载荷、重力载荷和热载荷环境，计算在约束和载荷环境下阵列天线的阵面变形，提取该条件下天线有限元模型天线中心节点的位置偏移量；累加得到天线总的位置偏移量；计算阵面内相邻两天线单元散射场空间相位差，得到口面相位差；计算天线单元散射方向图；计算阵列天线散射场方向图；分析载荷环境下的阵列结构变形对天线散射性能的影响。方法用于定量评价载荷环境下阵面结构变形对阵列天线散射性能的影响，指导阵列天线结构设计、散热设计和散射性能仿真分析和评估。
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公开(公告)号：CN106093572A
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201610471140.6
申请日：2016-06-23
Applicant: 西安电子科技大学
CPC classification number: G01R25/04 , G01R35/005
Abstract: 本发明公开了一种基于集成鉴相器AD8302的高精度相位检测电路及其自校准方法，其中，该相位检测电路包括：集成鉴相器AD8302，集成鉴相器AD8302的输入端连接有两路信号输入通道，其中任意一路信号输入通道上安装有两个可以进行加线和不加线两种状态切换的射频继电器，两种状态下集成鉴相器AD8302的输出值至少有一个处于相位响应特性曲线的线性区域，加长电缆线的长度L通过以下公式计算得到：本发明的有益之处在于：本发明的相位检测电路通过在两路信号输入通道中的任意一路信号输入通道上给信号加特定长度的延迟线缆，改变了两路信号到达集成鉴相器AD8302时的相位差，使原相位差能够跳过相位响应特性曲线的非线性区，解决了非线性区域问题和二值性问题。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104077485A
公开(公告)日：2014-10-01
申请号：CN201410305053.4
申请日：2014-06-30
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F19/00
Abstract: 本发明公开了一种基于吻合度的模型正确性的评价方法，其特征在于，包括以下步骤：一、建立模型的递阶层次结构，二、计算递阶层次结构最底层子子节点各参数的单项吻合度，三、计算子子节点各参数相对于子节点的权重，四、计算各子节点的吻合度，五、计算子节点各参数相对于目标节点的权重，六、计算目标节点的吻合度。本发明的有益之处在于：只需知道模型的输入输出参数，且在输出参数可测得的情况下，采用本发明提出的基于吻合度的模型正确性评价方法即可对模型的正确性程度进行评价，该方法不需要清楚模型复杂的原理及其内在的工作方式，因此本发明的方法具有显著的优点。
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公开(公告)号：CN104036078B
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201410249972.4
申请日：2014-06-06
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种基于安装高度的阵列天线辐射和散射性能综合设计方法，包括确定平面阵列天线的结构参数和电磁工作参数；确定矩形栅格圆口径阵列排布；计算单元辐射方向图函数和单元散射方向图函数；给出初始安装高度值；计算z向安装高度；计算z向安装高度下的辐射方向图函数和增益方向图函数，以及相对于理想情况的增益损失量；计算z向安装高度下的散射方向图函数和RCS方向图函数，以及相对于理想情况的RCS缩减量；判断z向安装高度下，辐射和散射性能是否满足增益损失量最小的情况下RCS缩减量达到最大的要求，不满足要求，更新z向安装高度并重复计算，直至满足要求。
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公开(公告)号：CN104849561A
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201510176237.X
申请日：2015-04-14
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01R27/06
Abstract: 本发明公开了一种低采样率下和欠采样率下高精度计算驻波比的方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)重构采样信号：假设采样后形成的采样信号是fs(t)，fs(t)经过内插处理后被恢复成原来的连续信号f(t)，重构公式：(2)高频采样：对重构出来的连续信号f(t)进行高频采样，采样的频率为：信号频率10倍以上的频率，得到高频采样信号fs1(t)；(3)计算驻波比：针对高频采样信号fs1(t)按照能量法计算驻波比。本发明的有益之处在于：在低采样率下和欠采样率下，通过对采样信号进行重构，重新获得了连续的信号，由于是针对重构后的连续信号计算驻波比，所以计算结果更加精确，克服了现有方法测量驻波比误差较大以及误差波动较大的缺点。
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公开(公告)号：CN104036078A
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201410249972.4
申请日：2014-06-06
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种基于安装高度的阵列天线辐射和散射性能综合设计方法，包括确定平面阵列天线的结构参数和电磁工作参数；确定矩形栅格圆口径阵列排布；计算单元辐射方向图函数和单元散射方向图函数；给出初始安装高度值；计算z向安装高度；计算z向安装高度下的辐射方向图函数和增益方向图函数，以及相对于理想情况的增益损失量；计算z向安装高度下的散射方向图函数和RCS方向图函数，以及相对于理想情况的RCS缩减量；判断z向安装高度下，辐射和散射性能是否满足增益损失量最小的情况下RCS缩减量达到最大的要求，不满足要求，更新z向安装高度并重复计算，直至满足要求。
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公开(公告)号：CN104038295B
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201410249973.9
申请日：2014-06-06
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: H04B17/00
Abstract: 本发明公开了一种基于机电耦合的变形阵列天线散射性能分析方法，包括：确定阵列天线的几何模型参数、材料属性和电磁工作参数；建立天线有限元模型；确定有限元模型的约束条件与随机振动载荷、重力载荷和热载荷环境，计算在约束和载荷环境下阵列天线的阵面变形，提取该条件下天线有限元模型天线中心节点的位置偏移量；累加得到天线总的位置偏移量；计算阵面内相邻两天线单元散射场空间相位差，得到口面相位差；计算天线单元散射方向图；计算阵列天线散射场方向图；分析载荷环境下的阵列结构变形对天线散射性能的影响。方法用于定量评价载荷环境下阵面结构变形对阵列天线散射性能的影响，指导阵列天线结构设计、散热设计和散射性能仿真分析和评估。
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